Contrôle polarographique par transmission ou réflexion. Essais de contrainte par la méthode d'inclinaison ou par la méthode d'inclinaison directe. Essais de couches minces (rotation dans le plan de l'échantillon).
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Le porte-échantillon multifonctionnel permet l'analyse directe par diffraction des rayons X d'échantillons irréguliers, massifs et de micropoudres, sans préparation destructive. Il assure un positionnement précis grâce à un système de fixation par vide et des pinces réglables. Idéal pour la recherche sur les matériaux avancés, l'industrie pharmaceutique et la géologie.
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Système de contrôle PLC ; conception modulaire, utilisation facile et performances plus stables de l’équipement Conception légère : Légère, adaptée aux mesures rapides sur site ; Mesure de haute précision : commande d’un système servo à entraînement vectoriel en boucle fermée de haute précision ; Fonctionnement simple : système Windows intégré ou fonctions d’automatisation, prise en charge des tests en un clic et affichage des résultats en temps réel ; Compatibilité multifonctionnelle : Mesure de l'acier au carbone, de l'acier allié, de l'alliage de titane et d'autres métaux, du verre, des matériaux à base de nickel et de divers matériaux composites ; Optimisation de la vitesse : Le détecteur à réseau linéaire microruban en silicium multicanal offre des performances sans bruit, une mesure haute intensité et une acquisition de données rapide.
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