Analyseur d'orientation par rayons X

Introduction à l'analyseur d'orientation des rayons X : 

L'instrument d'orientation automatique par rayons X utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Associé à une machine de découpe, il permet la découpe directionnelle de ces cristaux.Instrument d'orientation automatique aux rayons Xest un instrument indispensable pour le traitement de précision et la fabrication de dispositifs à cristaux.Instrument d'orientation automatique aux rayons Xest largement utilisé dans la recherche, le traitement et la fabrication des matériaux cristallins.

Avantages de l'analyseur d'orientation par rayons X :

Tableau d'exemples de l'analyseur d'orientation par rayons X TA :

Conçu pour les cristaux cylindriques, le porte-échantillon est doté d'une plateforme porteuse supportant une charge de 1 à 30 kg et un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible à 8 pouces). Il est équipé d'un système d'aspiration sous vide. Ce type de goniomètre mesure la surface de référence d'un cristal cylindrique et la surface d'une plaquette.

Tableau d'échantillons TB de l'analyseur d'orientation à rayons X : 

Conçu pour les cristaux cylindriques, le porte-échantillon est équipé d'un rail porteur et d'un support en V. Il permet de mesurer des lingots de 1 à 30 kg, de 2 à 6 pouces de diamètre (extensible à 8 pouces) et de 500 mm de longueur. Un système d'aspiration sous vide est intégré au porte-échantillon. Ce goniomètre mesure la face d'extrémité du cristal cylindrique ainsi que la surface de la plaquette.

Tableau d'exemples TC pour analyseur d'orientation par rayons X :

Il est principalement utilisé pour la détection de la surface de référence circulaire externe de plaquettes uniques, telles que le silicium et le saphir. La position du récepteur de rayons X sur le disque d'aspiration est de conception ouverte, ce qui résout les problèmes d'obstruction des rayons X et de désalignement, et répond à différentes spécifications. Grâce à la détection du bord de référence, la pompe d'aspiration de la platine porte-échantillon peut aspirer des plaquettes de 2 à 8 pouces pour une détection plus précise.

Tableau d'exemple TD de l'analyseur d'orientation à rayons X :

Principalement utilisé pour la mesure multipoints de plaquettes telles que le silicium et le saphir. La plaquette peut être orientée manuellement sur le porte-échantillon, selon des angles de 0°, 90°, 180°, 270°, etc., afin de répondre aux besoins de mesure spécifiques des clients.

 Tongda dispose d'une solide équipe de R&D pour fournir des solutions techniques complètes pour les applications de diffraction des rayons X.

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Au-delà des spécifications techniques, les certifications témoignent de notre engagement envers la qualité et la sécurité. Nous sommes fiers de détenir la certification ISO 9001 : Système de management de la qualité (voir ci-dessous), preuve de notre respect des normes internationales tout au long du processus, de la recherche et développement à la production. Nous travaillons également activement à l’obtention des certifications CE et RoHS, pour que vous puissiez choisir Tongda en toute sérénité.