Analyseur d'orientation par rayons X
1. La table d'échantillons est équipée d'un rail porteur pouvant supporter jusqu'à 1 kg et d'un diamètre de 6 pouces (jusqu'à 8 pouces).
2. Un dispositif à ventouse est installé sur la table d'échantillonnage.
3. Application : Détermination précise et rapide de l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels.
- Tongda
- Liaoning, Chine
- 1 à 2 mois
- 100 unités par an
- information
Introduction à l'analyseur d'orientation des rayons X :
L'instrument d'orientation automatique par rayons X utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs). Associé à une machine de découpe, il permet la découpe directionnelle de ces cristaux.Instrument d'orientation automatique aux rayons Xest un instrument indispensable pour le traitement de précision et la fabrication de dispositifs à cristaux.Instrument d'orientation automatique aux rayons Xest largement utilisé dans la recherche, le traitement et la fabrication des matériaux cristallins.
Avantages de l'analyseur d'orientation par rayons X :
Tableau d'exemples de l'analyseur d'orientation par rayons X TA :
Conçu pour les cristaux cylindriques, le porte-échantillon est doté d'une plateforme porteuse supportant une charge de 1 à 30 kg et un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible à 8 pouces). Il est équipé d'un système d'aspiration sous vide. Ce type de goniomètre mesure la surface de référence d'un cristal cylindrique et la surface d'une plaquette.
Tableau d'échantillons TB de l'analyseur d'orientation à rayons X :
Conçu pour les cristaux cylindriques, le porte-échantillon est équipé d'un rail porteur et d'un support en V. Il permet de mesurer des lingots de 1 à 30 kg, de 2 à 6 pouces de diamètre (extensible à 8 pouces) et de 500 mm de longueur. Un système d'aspiration sous vide est intégré au porte-échantillon. Ce goniomètre mesure la face d'extrémité du cristal cylindrique ainsi que la surface de la plaquette.
Tableau d'exemples TC pour analyseur d'orientation par rayons X :
Il est principalement utilisé pour la détection de la surface de référence circulaire externe de plaquettes uniques, telles que le silicium et le saphir. La position du récepteur de rayons X sur le disque d'aspiration est de conception ouverte, ce qui résout les problèmes d'obstruction des rayons X et de désalignement, et répond à différentes spécifications. Grâce à la détection du bord de référence, la pompe d'aspiration de la platine porte-échantillon peut aspirer des plaquettes de 2 à 8 pouces pour une détection plus précise.
Tableau d'exemple TD de l'analyseur d'orientation à rayons X :
Principalement utilisé pour la mesure multipoints de plaquettes telles que le silicium et le saphir. La plaquette peut être orientée manuellement sur le porte-échantillon, selon des angles de 0°, 90°, 180°, 270°, etc., afin de répondre aux besoins de mesure spécifiques des clients.
Tongda dispose d'une solide équipe de R&D pour fournir des solutions techniques complètes pour les applications de diffraction des rayons X.
ÀDandong TongdaNous sommes convaincus que la transparence commence par les détails. C'est pourquoi notre site web officiel propose des spécifications techniques complètes – dimensions, poids, composition des matériaux – vous permettant de comprendre parfaitement les capacités de nos équipements.
Au-delà des spécifications techniques, les certifications témoignent de notre engagement envers la qualité et la sécurité. Nous sommes fiers de détenir la certification ISO 9001 : Système de management de la qualité (voir ci-dessous), preuve de notre respect des normes internationales tout au long du processus, de la recherche et développement à la production. Nous travaillons également activement à l’obtention des certifications CE et RoHS, pour que vous puissiez choisir Tongda en toute sérénité.
