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L'orienteur à cristal à rayons X fonctionne sur le principe de la diffraction des rayons X. La haute tension générée par le transformateur haute tension agit sur le tube à rayons X, produisant des rayons X. Lorsque les rayons X sont irradiés sur l'échantillon, la diffraction se produit lorsque la condition de diffraction de Bragg (n λ=2dsin θ) est satisfaite. Parmi eux, λ est la longueur d'onde des rayons X, d est l'espacement entre les plans atomiques à l'intérieur du cristal et θ est l'angle entre les rayons X incidents et le plan du cristal. La ligne de diffraction est reçue par le tube de comptage et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur. Lors de l'utilisation d'un monochromateur, la ligne de diffraction est monochromatisée puis reçue par le compteur et affichée sur le microampèremètre de l'amplificateur, améliorant ainsi la précision de la mesure. L'orienteur de cristal à rayons X peut déterminer avec précision et rapidité l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels (cristaux piézoélectriques, cristaux optiques, cristaux laser, cristaux semi-conducteurs) et est équipé d'une machine de découpe pour la découpe directionnelle des cristaux mentionnés ci-dessus. L'orienteur de cristal à rayons X est un instrument indispensable pour l'usinage de précision et la fabrication de dispositifs à cristal. L'orienteur de cristal à rayons X est largement utilisé dans les industries de recherche, de traitement et de fabrication de matériaux cristallins. L'orienteur à cristal à rayons X est facile à utiliser, ne nécessite pas de connaissances professionnelles ni de techniques spécialisées, affiche l'angle numériquement, est facile à observer et réduit les erreurs de lecture. L'affichage de l'instrument d'orientation à cristal à rayons X peut être mis à zéro à n'importe quelle position, ce qui facilite l'affichage de la valeur d'écart de l'angle de la puce. L'instrument de mesure d'angle double peut fonctionner simultanément, améliorant ainsi l'efficacité. L'orienteur à cristal à rayons X dispose d'un intégrateur spécial avec amplification de crête, ce qui améliore la précision de détection. L'intégration du tube à rayons X et du câble haute tension augmente la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension adopte un module haute tension CC et une carte d'échantillon à aspiration sous vide, ce qui améliore la précision et la vitesse de mesure de l'angle. Dans l’ensemble, l’orienteur de cristaux à rayons X est un instrument de précision basé sur le principe de la diffraction des rayons X, qui fournit un support technique important pour la recherche sur les matériaux cristallins et les applications associées en mesurant avec précision l’angle de coupe des cristaux.

Les accessoires pour diffractomètres à petit angle sont des accessoires importants utilisés dans les diffractomètres à rayons X. Les accessoires pour diffractomètres à petit angle permettent de prendre des mesures de diffraction des rayons X dans une plage d'angle très réduite, de 0° à 5°, pour tester l'épaisseur des films multicouches nanométriques. Ils jouent un rôle important dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie. Types et caractéristiques courants : Accessoire pour film mince à lumière parallèle : cet accessoire peut générer des faisceaux de rayons X parallèles et convient aux mesures de diffraction à petit angle d'échantillons de films minces. Il peut améliorer la précision et la résolution des mesures, réduire les erreurs de mesure causées par la divergence du faisceau et mieux s'adapter aux échantillons de films minces de différentes épaisseurs et propriétés. Platine d'échantillon multifonctionnelle : équipée d'accessoires de diffraction à petit angle, la platine d'échantillon multifonctionnelle peut fournir divers environnements de test pour les échantillons, tels que le chauffage, le refroidissement, l'étirement in situ, etc. Cela rend plus pratique l'étude des changements structurels des matériaux dans différentes conditions externes et permet l'observation en temps réel de la réponse structurelle des matériaux pendant la température, la contrainte et d'autres changements. Les accessoires de diffractomètre à petit angle jouent un rôle important dans de nombreux domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie en réalisant une diffraction à petit angle et une mesure précise de l'épaisseur du film multicouche nano, offrant aux chercheurs un outil puissant pour une exploration approfondie des microstructures et des propriétés des matériaux.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la cristallinité des fibres et la largeur à mi-pic. Un composant spécialisé utilisé pour analyser les matériaux fibreux tels que les textiles, les fibres polymères, les fibres biologiques, etc. Il est couramment utilisé pour étudier la structure cristalline, l'orientation et la disposition moléculaire des fibres. Fonctions principales des accessoires de fibre : 1. Fixation de l'échantillon de fibre : les accessoires de fibre sont utilisés pour fixer l'échantillon de fibre, garantissant sa position et la stabilité de sa direction dans le faisceau de rayons X. 2. Analyse de l’orientation des fibres : En ajustant la position et l’angle de l’échantillon, l’orientation cristalline et la disposition moléculaire des fibres sont étudiées. 3. Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) : certains accessoires de fibre prennent en charge la SAXS pour analyser la structure nanométrique des fibres. Types courants d’accessoires de fibre : 1. Dispositif d'étirement des fibres : il peut appliquer une tension aux fibres pendant l'analyse XRD pour étudier les changements structurels sous contrainte. 2. Platine d'échantillon rotative : permet aux échantillons de fibres de tourner, facilitant la collecte de données de diffraction sous différents angles. 3. Accessoires de contrôle de la température : utilisés pour analyser les matériaux fibreux à des températures spécifiques et étudier l'effet de la température sur la structure. Domaines d’application des accessoires en fibre : 1. Science des matériaux : Étudier la structure cristalline et les propriétés mécaniques des fibres synthétiques telles que le nylon et le polyester. 2. Biomatériaux : Analyser la structure des fibres naturelles telles que le collagène et la cellulose. 3. Textiles : Évaluer l’orientation et la cristallinité des fibres textiles. Étapes d'utilisation des accessoires en fibre : 1. Préparation de l'échantillon : Fixez l'échantillon de fibre sur le support. 2. Ajustez les paramètres : définissez la source de rayons X, le détecteur et les positions de l'échantillon. 3. Collecte de données : Collectez les diagrammes de diffraction. 4. Analyse des données : utiliser un logiciel pour analyser les données de diffraction et obtenir des informations structurelles. Questions nécessitant une attention particulière : -Alignement de l'échantillon : assurez-vous que l'échantillon est précisément aligné avec le faisceau de rayons X. - Optimisation des paramètres : optimisez l'énergie des rayons X, le temps d'exposition, etc. en fonction des caractéristiques de l'échantillon. - Qualité des données : garantit des modèles de diffraction clairs et évite les interférences de bruit. Notre société propose des formations sur site sur l'utilisation des instruments et les connaissances industrielles connexes, ainsi que sur l'utilisation et la maintenance ultérieures des logiciels d'analyse et sur des services complets de maintenance des machines.

Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise un nouveau détecteur matriciel haute performance, et le chargement de ce détecteur a considérablement amélioré les performances globales de la machine. Le XRD de table TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise le principe de la diffraction des rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives, des analyses de structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le XRD de table est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 intègre une analyse rapide, un fonctionnement pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 peut augmenter l'intensité du calcul de diffraction de plusieurs dizaines de fois ou plus, obtenir des motifs de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution et une intensité de comptage plus élevée dans une période d'échantillonnage plus courte, et prend également en charge la numérisation des données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire.

L'accessoire de mesure de film optique parallèle augmente la longueur de la plaque de réseau pour filtrer davantage de lignes dispersées, ce qui est bénéfique pour réduire l'influence du signal du substrat sur les résultats et améliorer l'intensité du signal du film.

Les accessoires en fibre sont testés pour leur structure cristalline unique à l'aide de la méthode de diffraction des rayons X (transmission). Testez l'orientation de l'échantillon en fonction de données telles que la texture de la fibre et la largeur à mi-pic.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle et un instrument à rayons X utilisé pour étudier la microstructure interne des matériaux. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines.

Le diffractomètre à rayons X monocristallin TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non proportionnés, les quasi-cristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Il peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, la liaison hydrogène intermoléculaire et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Le diffractomètre à rayons X monocristallin est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le XRD monocristallin est un produit de haute technologie issu du projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs du ministère de la Science et de la Technologie, dirigé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., comblant le vide dans le développement et la production de diffractomètre à rayons X monocristallin en Chine.

Le diffractomètre à rayons X sur poudre est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopte un contrôle PLC Siemens importé, ce qui confère au diffractomètre à rayons X TD-3500 les caractéristiques de haute précision, de haute précision, de bonne stabilité, de longue durée de vie, de mise à niveau facile, d'utilisation simple et d'intelligence, et peut s'adapter de manière flexible aux analyses de test et à la recherche dans diverses industries !