news

Les orienteurs de cristaux à rayons X de Dandong Tongda (précision de ±30 secondes d'arc, capacité de charge de 30 kg) assurent une orientation précise des cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Grâce à des modèles et des platines porte-échantillons spécialisés, ces systèmes contribuent à la recherche et à la production de cristaux à l'échelle mondiale, et valent à la Chine une reconnaissance internationale pour ses instruments de précision.

Les orienteurs de cristaux à rayons X de Dandong Tongda (précision de ±30 secondes d'arc, capacité de charge de 30 kg) assurent une orientation précise des cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Grâce à des modèles et des platines porte-échantillons spécialisés, ces systèmes contribuent à la recherche et à la production de cristaux à l'échelle mondiale, et valent à la Chine une reconnaissance internationale pour ses instruments de précision.

Le diffractomètre à rayons X TD-3500 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. permet une analyse précise des matériaux pour diverses industries. Son goniomètre de haute précision et sa commande par automate programmable brevetée garantissent des résultats fiables et une utilisation intuitive, offrant ainsi une solution polyvalente aux clients du monde entier.

Dandong Tongda, fabricant chinois de premier plan, produit des orienteurs de cristaux à rayons X de haute précision. Utilisant la diffraction des rayons X, ces instruments permettent une mesure précise des angles de coupe et une taille directionnelle de divers cristaux. Des modèles phares comme le TYX-200 et le TYX-2H8 offrent une grande précision (±30″), une capacité d'échantillon importante, une utilisation intuitive et une détection performante. Largement utilisés dans les secteurs des semi-conducteurs, de l'optique et de la recherche, ces instruments de renommée mondiale sont certifiés, brevetés et exportés dans le monde entier.

Ce dispositif d'analyse de couches minces pour diffractomètres à rayons X permet une analyse de haute précision des films déposés sur des substrats. Son système optique optimisé supprime les interférences du substrat, amplifiant les signaux faibles des films pour des données fiables, de l'échelle nanométrique à l'échelle micrométrique. Indispensable pour la R&D en électronique, semi-conducteurs et énergies nouvelles.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristaux, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations des monocristaux.

Le diffractomètre à rayons X haute puissance TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le principe de la diffraction des rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons de métal. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films. Il est produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. et adopte un contrôle PLC Siemens importé, ce qui confère au diffractomètre à rayons X TD-3500 les caractéristiques de haute précision, de haute précision, de bonne stabilité, de longue durée de vie, de mise à niveau facile, d'utilisation simple et d'intelligence, et peut s'adapter de manière flexible aux analyses de test et à la recherche dans diverses industries !

Le diffractomètre à rayons X haute résolution de la série TD-3700 est un nouveau membre de la série TD, équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Il intègre une analyse rapide, une utilisation pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension.

Le diffractomètre à rayons X monocristallin TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que les macles, les cristaux non proportionnés, les quasicristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Il peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, la liaison hydrogène intermoléculaire et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Il est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux.