La diffraction des rayons X (DRX) permet l'analyse non destructive des phases, la quantification de la cristallinité et la mesure des contraintes résiduelles dans les ciments, les métaux, les produits chimiques, les semi-conducteurs et les produits pharmaceutiques. Elle contribue au contrôle qualité de bout en bout, réduisant les défauts et garantissant la conformité. Des systèmes de paillasse et à haute résolution sont disponibles pour la production ou le laboratoire.
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Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince.
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