Tongda présente un diffractomètre XRD multifonctionnel pour l'analyse structurale cristalline en une seule étape des catalyseurs et des charges inorganiques. Ce système élimine le besoin de plusieurs instruments grâce à son chemin optique intégré, sa platine porte-échantillon polyvalente et sa base de données de phases personnalisable. Il permet une analyse quantitative de haute précision, même pour les mélanges de poudres complexes. Certifié ISO 9001 et CE, il est doté d'une interface en anglais et d'une assistance à distance. Déjà utilisé par des fabricants de catalyseurs à l'international. Pour plus d'informations, consultez le site web officiel.
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La diffraction des rayons X (DRX) permet l'analyse non destructive des phases, la quantification de la cristallinité et la mesure des contraintes résiduelles dans les ciments, les métaux, les produits chimiques, les semi-conducteurs et les produits pharmaceutiques. Elle contribue au contrôle qualité de bout en bout, réduisant les défauts et garantissant la conformité. Des systèmes de paillasse et à haute résolution sont disponibles pour la production ou le laboratoire.
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Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince.
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