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L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF est un instrument d'analyse à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il est principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'étude de la structure des substances inconnues et les dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF adopte un manchon de tube vertical et quatre fenêtres peuvent être utilisées simultanément. L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF adopte une technologie de contrôle PLC importée, avec une précision de contrôle élevée et de bonnes performances anti-interférences, ce qui permet un fonctionnement fiable du système. Le PLC contrôle l'interrupteur haute tension, le levage et a pour fonction d'entraîner automatiquement le tube à rayons X, prolongeant ainsi efficacement la durée de vie du tube à rayons X et de l'instrument à rayons X.

L'analyseur de cristal à rayons X de la série TDF est un instrument à rayons X à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des substances. Il utilise le principe d'interaction entre les rayons X et le cristal pour déterminer la disposition atomique à l'intérieur du cristal en analysant le diagramme de diffraction des rayons X. Principalement utilisé pour l'orientation des monocristallins, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres du réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges, l'investigation de la structure des substances inconnues et des dislocations monocristallines. L'analyseur de cristaux à rayons X, en tant qu'instrument à rayons X, fournit des informations précieuses pour la recherche en science des matériaux et d'autres domaines connexes. Avec l'avancement continu de la technologie et l'expansion des applications, l'analyseur de cristaux à rayons X continuera de jouer un rôle important dans la recherche scientifique et la production industrielle.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un appareil qui utilise le principe de diffraction des rayons X pour déterminer la structure cristalline, l'orientation et les paramètres du réseau. Il a une large gamme d'applications dans la science des matériaux, la géologie, la physique et la chimie, en particulier dans l'étude de la microstructure et des propriétés des matériaux monocristallins, polycristallins et des matériaux à couches minces. Ce qui suit fournira une introduction détaillée au principe de fonctionnement, à l'application et aux précautions opérationnelles de l'orienteur de cristal à rayons X. Avec l'avancement de la technologie, les instruments d'orientation automatique des rayons X continuent de s'améliorer, avec une résolution plus élevée et une utilisation plus facile. Dans le même temps, la combinaison avec d'autres techniques d'analyse telles que la microscopie électronique et l'analyse spectroscopique rend l'analyse de la structure cristalline plus complète et plus approfondie. De plus, des appareils d'analyse d'orientation des rayons X portables et de surveillance en ligne se sont progressivement développés, offrant des possibilités d'analyse sur site et de surveillance en temps réel. En résumé, l'analyseur d'orientation des rayons X est un outil d'analyse puissant, essentiel pour comprendre et contrôler la microstructure des matériaux. Avec le développement continu de la technologie, son application dans divers domaines deviendra plus étendue et plus approfondie.

L'analyseur d'orientation des rayons X est un appareil qui utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer l'orientation des cristaux. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie, la physique, etc., pour étudier la structure cristalline, les paramètres du réseau, les défauts cristallins, etc. Le principe de fonctionnement d'un analyseur d'orientation des rayons X consiste à irradier un faisceau de rayons X monochromatique sur le cristal testé. Lorsque les rayons X interagissent avec les atomes du cristal, une diffusion se produit. Selon la loi de Bragg, lorsque la longueur d'onde des rayons X est un multiple entier de l'espacement atomique dans un cristal, la lumière diffusée interfère et forme une série de bandes alternées claires et sombres, appelées réflexions de Bragg. En mesurant les angles et les intensités de ces réflexions de Bragg, des informations telles que l'orientation du cristal et les paramètres du réseau peuvent être calculées. L'analyseur d'orientation des rayons X comprend généralement les éléments principaux suivants : 1. Source de rayons X : un dispositif qui produit des rayons X monochromatiques, généralement à l'aide d'un tube à rayons X ou d'une source de rayonnement synchrotron. 2. Étape d'échantillonnage : une plate-forme utilisée pour placer le cristal à tester, qui peut ajuster la position et l'angle du cristal. 3. Détecteur : utilisé pour recevoir les rayons X diffusés et les convertir en signaux électriques. Les détecteurs courants comprennent les compteurs à scintillation, les compteurs proportionnels, etc. 4. Système d'acquisition et de traitement des données : utilisé pour collecter les signaux émis par les détecteurs et effectuer le traitement et l'analyse des données. Comprend généralement des analyseurs multicanaux, des ordinateurs et d'autres équipements. 5. Système de contrôle : utilisé pour contrôler le mouvement de la source de rayons X, de la platine d'échantillonnage et du détecteur pour réaliser la mesure des cristaux dans différentes directions. En utilisant un analyseur d'orientation à rayons X, les chercheurs peuvent déterminer avec précision l'orientation et les paramètres de réseau des cristaux, acquérant ainsi une compréhension plus approfondie de leur structure et de leurs propriétés. Cela revêt une grande importance pour le développement de nouveaux matériaux, l'exploration géologique, la croissance cristalline et d'autres domaines.

L'accessoire de batterie in situ est un composant des accessoires du diffractomètre à rayons X. Les accessoires de batterie in situ sont largement utilisés dans les systèmes électrochimiques contenant des matériaux composites tels que le carbone, l'oxygène, l'azote, le soufre et les inserts métalliques. Plage de test : 0,5-160 degrés Celsius Résistance à la température : 400 ℃ Fenêtre en béryllium (film polyester) taille : diamètre 15 mm (personnalisable) ; épaisseur 0,1 mm (personnalisable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de diffractomètres à rayons X, grossiste d'analyseurs directionnels à rayons X, grossiste d'analyseurs à cristaux de rayons X série X.

L'analyseur de contraintes résiduelles multifonctionnel TDTC-150 intègre dans un seul appareil des fonctions analytiques essentielles telles que l'analyse de contraintes résiduelles de haute précision, la mesure quantitative de l'austénite résiduelle et l'analyse de la taille des phases et des cristallites. Il est doté d'un système de contrôle PLC modulaire, d'une conception portable et légère, ainsi que d'un système servo de haute précision avec un détecteur multicanal pour une acquisition de données efficace et haute résolution. Cet instrument est compatible avec une large gamme de matériaux, tels que les aciers, les alliages de titane et les composites. Forte de son expérience reconnue à l'export, Dandong Tongda Technology propose le TDTC-150 pour répondre à la demande internationale croissante de solutions d'essais de matériaux fiables et multifonctionnelles dans les secteurs de la fabrication de pointe et de la R&D.

L'analyseur de contraintes par rayons X TD-Mini de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. utilise la technologie de diffraction des rayons X pour les essais non destructifs. Il mesure les contraintes dans les métaux et les plastiques avec une grande précision et une excellente adaptabilité sur le terrain. De conception compacte, il offre une utilisation intuitive, un rendement élevé et de nombreuses applications. Il est équipé d'un tube à rayons X de 60 W avec cibles multiples et d'un détecteur de photons à haute vitesse (> 1 x 10⁹ cps).

L'analyseur de contraintes résiduelles par diffraction des rayons X TD-RSD intègre plusieurs géométries de diffraction et des technologies de détection de haute précision. Il permet une analyse précise des contraintes résiduelles dans les métaux, les céramiques et les composites, et offre une puissance de 3 kW, une répétabilité de ±7 MPa et un fonctionnement automatisé pour les applications industrielles et de recherche.

TDTC-150 : Analyseur de contraintes par rayons X portable pour une utilisation en laboratoire et sur site. Il mesure rapidement les contraintes résiduelles et l’austénite résiduelle, et analyse la structure et les phases des alliages. Ses principaux atouts sont sa haute précision, l’analyse multimodale et l’acquisition efficace de données pour divers matériaux.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de produits à rayons X, avec deux séries principales de produits : les instruments d'analyse à rayons X et les instruments de test non destructifs à rayons X. Et en 2013, il est devenu l'unité d'exécution du projet de diffractomètre monocristallin à rayons X du projet spécial national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs du ministère de la Science et de la Technologie. Notre société adhère aux principes du client d'abord, du produit d'abord et du service d'abord, insiste sur l'orientation humaine et dispose d'une solide équipe technologique. Nous nous engageons à fournir aux utilisateurs des produits de haute technologie de la plus haute qualité dotés d'une technologie avancée, et à fournir un support et des services solides aux utilisateurs avec des institutions efficaces de conseil technique et de service après-vente.