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  • Diffractomètre
    Diffractomètre
    1. La précision du diffractomètre est élevée. 2. Le champ d'application du diffractomètre est vaste. 3. Le diffractomètre est facile à utiliser, pratique et efficace.
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  • Diffraction des rayons X sur monocristal
    Diffraction des rayons X sur monocristal
    1. La machine à monocristal adopte la technologie de contrôle PLC. 2. Conception modulaire, accessoires plug and play. 3. Équipement de verrouillage électronique de porte d'entrée avec double protection. 4. Tube à rayons X monocristallin : une variété de cibles peuvent être sélectionnées, telles que Cu, Mo, etc. 5. Le monocristal adopte une technologie concentrique à quatre cercles pour garantir que le centre du goniomètre ne reste pas inchangé.
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  • Analyseur de cristaux à rayons X en série
    Analyseur de cristaux à rayons X en série
    1. L'appareil à rayons X est facile à utiliser et rapide à détecter. 2. L'appareil à rayons X est précis et fiable, avec d'excellentes performances. 3. L'appareil à rayons X possède divers accessoires fonctionnels pour répondre aux besoins des différents objectifs de test.
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  • Un diffractomètre à rayons X bidimensionnel
    Un diffractomètre à rayons X bidimensionnel
    Avantages : Profondeur de pénétration des rayons X réglable en continu Capacité à observer la distribution des plans cristallins avec différentes orientations Analyse de la distribution d'orientation dans des échantillons tels que des fibres, des films minces et des poudres Examen des caractéristiques structurelles telles que la distorsion du réseau cristallin et la taille des cristallites
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  • ACCESSOIRE DE MESURE DE FILM OPTIQUE PARALLÈLE
    En analyse par diffraction des rayons X, les échantillons de couches minces présentent des défis majeurs en raison de leur épaisseur extrêmement faible, de la faiblesse des signaux et de leur adhérence typique au substrat. Les méthodes d'essai traditionnelles sont sujettes aux interférences des signaux du substrat, ce qui masque ou déforme les signaux de la couche mince elle-même. La conception principale de l'accessoire à couches minces à faisceaux parallèles repose sur l'augmentation de la longueur des tranches de réseau afin de filtrer davantage de rayons diffusés. Cette approche offre deux avantages majeurs : Réduit les interférences du signal du substrat : supprime efficacement les signaux non ciblés provenant du substrat de l'échantillon. Améliore la force du signal du film mince : rend les signaux analytiques du film mince cible plus visibles, produisant ainsi des résultats d'analyse plus clairs et plus précis. Domaines d'application: L'accessoire à couches minces à faisceaux parallèles est principalement utilisé dans des domaines de pointe tels que la protection de l'environnement et l'électronique. Dans ces industries, les performances des matériaux à couches minces déterminent souvent directement la qualité du produit final. Par exemple, dans l'industrie électronique, diverses couches minces fonctionnelles sont largement utilisées dans des produits tels que les semi-conducteurs, les écrans d'affichage et les cellules solaires. La structure cristalline, l'orientation et l'état de contrainte des couches minces ont un impact significatif sur leurs propriétés électriques, optiques et mécaniques. Grâce à l'utilisation du dispositif de mesure de couches minces à faisceaux parallèles, les chercheurs peuvent évaluer ces paramètres clés avec plus de précision, offrant ainsi un support solide au développement produit et au contrôle qualité. ​ Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est une entreprise nationale de haute technologie spécialisée dans la production d'instruments d'analyse à rayons X et d'équipements de contrôle non destructif. Elle a également été l'unité d'exécution du « Projet national majeur de développement d'instruments et d'équipements scientifiques » lancé par le ministère des Sciences et Technologies en 2013. Tongda Science and Technology a achevé la sérialisation de ses deux principales gammes de produits : les instruments d'analyse et les instruments de contrôle non destructif.
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    2025
    10-09

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