



Dandong Tongda, forte d'une équipe de R&D à hauteur de 30 % et de technologies propriétaires exclusives, propose une gamme complète de produits XRD pour la recherche et l'industrie. Prête pour l'exportation, avec un support multilingue et la certification CE, l'entreprise garantit la qualité, des services internationaux et des solutions sur mesure à l'échelle mondiale.
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Dandong Tongda lance le TD-5000, un diffractomètre monocristallin à rayons X de haute précision, développé en interne. Doté d'un générateur de 3 kW, d'un goniomètre Kappa à quatre cercles (précision de 0,0001°), d'un détecteur à pixels hybride et d'un système de cryo-contrôle (100–300 K), cet appareil entièrement automatisé, certifié CE et ISO 9001, offre une analyse structurale fiable et économique aux utilisateurs industriels et de recherche du monde entier.
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Tongda Science and Technology a développé le premier diffractomètre monocristallin à rayons X de Chine (TD-5000). L'entreprise propose des diffractomètres, des orienteurs et des analyseurs dotés de systèmes robotisés d'intelligence artificielle et de télécommande. Elle emploie 30 % de personnel en recherche et développement et détient 23 brevets. Ses produits sont exportés dans le monde entier.
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Pour améliorer la qualité des données de diffraction monocristalline, assurez-vous d'utiliser des cristaux de haute qualité, une cible appropriée, optimisez les conditions, ajustez les stratégies de collecte et effectuez un traitement et une validation minutieux des données.
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La diffraction des rayons X sur monocristal est essentielle en science des matériaux pour l'analyse de la structure cristalline, l'identification des phases et l'analyse des contraintes. Elle permet une caractérisation précise à l'échelle atomique, soutient la conception rationnelle des matériaux et progresse grâce à de nouvelles technologies comme le rayonnement synchrotron et la détermination de structure assistée par l'intelligence artificielle.
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Un diffractomètre à rayons X monocristallin révèle la structure atomique 3D en analysant les diagrammes de diffraction des rayons X (loi de Bragg). Grâce à l'acquisition de données, à la transformation de Fourier et à l'affinement du modèle, il génère des cartes de densité électronique permettant de déterminer les configurations moléculaires.
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Un monocristal de qualité pour la diffraction des rayons X nécessite un choix optimal de solvant (solubilité/volatilité modérée), une méthode de croissance appropriée (évaporation/diffusion), une pureté élevée de l'échantillon et un environnement sans vibrations pour garantir une morphologie bien définie et des défauts minimaux.
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Cet article décrit une stratégie complète en trois volets pour éliminer les interférences de diffraction d'ordre supérieur lors de l'analyse de monocristaux par diffraction des rayons X. Les méthodes comprennent la filtration matérielle à la source à l'aide de monochromateurs et de fentes, l'optimisation des paramètres pendant l'acquisition des données afin de supprimer la détection, et des algorithmes de correction logicielle pour les effets résiduels lors du traitement des données. Cette approche combinée garantit une détermination de la structure cristalline de haute précision en contrôlant les erreurs d'intensité.
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Différentes formes cristallines d’un même médicament peuvent différer considérablement en termes d’apparence, de solubilité, de point de fusion, etc., affectant la stabilité, la production, la biodisponibilité et la sécurité du médicament.
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