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L'étalonnage XRD (longueur d'onde, détecteur, point zéro) et l'analyse des données (ajustement des pics, équation de Scherrer, Williamson-Hall) sont essentiels pour une détermination précise de la structure cristalline, l'identification des phases et la caractérisation microstructurale en science des matériaux.

Un diffractomètre de poudre permet une analyse précise de la structure cristalline, stimulant l'innovation dans les domaines pharmaceutique, des sciences des matériaux, de la surveillance environnementale et de l'archéologie. Il accélère la recherche et le développement, résout des problèmes structuraux complexes et favorise les percées scientifiques, ce qui en fait un outil essentiel pour la recherche moderne et le progrès industriel.

L'optimisation de la géométrie et de l'optique du goniomètre est cruciale pour les performances d'un diffractomètre à poudre. La géométrie Bragg-Brentano permet une mise au point précise, tandis que les systèmes modernes comme les fentes de Soller et les miroirs de Göbel améliorent la résolution. Associées à des détecteurs avancés (par exemple, 1Der), ces innovations réduisent le bruit, détectent les signaux faibles et élargissent le champ d'application en science des matériaux et en analyse industrielle.

L'efficacité d'un diffractomètre à poudre peut être doublée en optimisant la préparation des échantillons (broyage, chargement), les paramètres de l'instrument (plage et vitesse de balayage), et en adoptant un traitement par lots et une maintenance régulière. Ces mesures garantissent des données de haute qualité tout en réduisant considérablement le temps d'expérimentation et les reprises.

Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est un nouveau membre de la série TD, équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Il intègre une analyse rapide, une utilisation pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X sur poudre TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. Le diffractomètre à rayons X sur poudre TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé de détecteurs hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte.

Afin de montrer le bon style de développement vigoureux de Dandong Tongda Company, de renforcer l'amitié et de renforcer la cohésion, la société a organisé une activité de consolidation de groupe du 30 au 31 janvier 2024.

La technologie Micro-ct présente des avantages significatifs dans la caractérisation des céramiques, qui peuvent révéler la structure composite à l'intérieur du matériau sans dommage et restaurer la technologie clé dans la production de céramiques.

Le diffractomètre à rayons X polycristallin, également connu sous le nom de diffractomètre à poudre, est généralement utilisé pour mesurer des matériaux en vrac en poudre, en métal polycristallin ou en polymère.

La diffraction des rayons X est un moyen important pour les gens de comprendre et d'explorer la nature, en particulier dans la physique de la matière condensée, la médecine de la vie, l'histoire et de nombreux autres domaines qui jouent un rôle actif.