Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.
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