La diffraction des rayons X sur poudre permet une analyse non destructive des contraintes résiduelles en détectant les déformations du réseau cristallin par le biais des déplacements des pics de diffraction, grâce à la méthode à ψ fixe et à la loi de Hooke. Elle est essentielle pour les matériaux, l'aérospatiale, l'automobile et la fabrication.
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Presque tous les laboratoires d'analyse travaillant pour l'industrie pharmaceutique disposent à la fois d'instruments d'analyse thermique et de diffractomètres à rayons X sur poudre. En combinant DSC et XRD en une seule mesure simultanée, les données thermiques et les données de diffraction sur le même échantillon peuvent obtenir des informations riches.
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Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.
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