La structure cristalline des films de pérovskite modifiés par le liquide ionique (IL) BMIMAc sous différentes durées de recuit a été caractérisée par diffraction des rayons X.
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XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.
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Ces dernières années, avec la demande d’énergie propre et le développement d’une économie à zéro émission nette de gaz à effet de serre, le domaine de l’électrocatalyse a suscité un grand intérêt.
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Les cristaux, bien que longtemps admirés pour leur régularité et leur symétrie, n’ont été étudiés scientifiquement qu’au XVIIe siècle. Jetons un coup d'œil aux débuts de l'histoire de la cristallographie.
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Les rayons X sont un type de rayonnement électromagnétique largement utilisé dans les domaines médical et industriel. Bien que la plupart des rayons X soient produits artificiellement, certains phénomènes naturels produisent également des rayons X.
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Les tests aux rayons X sont une méthode de test non destructive qui n'endommage pas l'objet lui-même et qui a été largement utilisée dans les tests de matériaux (CQ), l'analyse des défaillances (FA), le contrôle qualité (CQ), l'assurance qualité et la fiabilité (AQ/ QC), recherche et développement (R&D) et autres domaines.
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