Au cours des dix dernières années, l'Institut de physique de l'Académie chinoise des sciences a utilisé la méthode de diffraction des poudres pour déterminer la structure cristalline de nombreux composés inorganiques et organiques.
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En tant que moyen important de caractérisation de la structure des matériaux, la DRX est largement utilisée dans les domaines des matériaux, de la physique, de la chimie, de la médecine et dans d’autres domaines.
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Le diffractomètre à rayons X est un appareil qui utilise le principe d'interaction entre les rayons X et les substances pour obtenir des informations telles que la structure cristalline et la constante de réseau des substances en mesurant l'angle de diffraction et l'intensité des rayons X dans les substances.
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Les méthodes de caractérisation des catalyseurs monoatomiques au cuivre sont souvent utilisées pour déterminer leur structure et leurs propriétés. Voici plusieurs méthodes de caractérisation courantes.
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La technologie de diffraction des rayons X est largement utilisée dans la recherche sur les batteries lithium-ion. La DRX est une méthode conventionnelle d'analyse qualitative et quantitative des phases dans les matériaux.
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L’application de nouvelles technologies et de nouveaux produits tels que la 5G, le big data et l’intelligence artificielle entraînera une énorme demande sur le marché des semi-conducteurs, et les dépenses mondiales en équipements semi-conducteurs sont entrées dans un cycle ascendant.
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Le diffractomètre à rayons X (XRD) peut être divisé en diffractomètre à poudre à rayons X et diffractomètre monocristallin à rayons X, le principe physique de base des deux est le même.
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XRD est un moyen de recherche qui est la diffraction par diffraction des rayons X d'un matériau pour analyser son diagramme de diffraction afin d'obtenir des informations telles que la composition du matériau, la structure ou la forme des atomes ou des molécules à l'intérieur du matériau.
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La diffraction des rayons X à incidence rasante (GI-XRD) est une sorte de technique de diffraction des rayons X, qui diffère de l'expérience XRD traditionnelle, principalement en modifiant l'angle d'incidence des rayons X et l'orientation de l'échantillon.
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La diffraction des rayons X (DRX) est actuellement une méthode puissante pour étudier la structure cristalline (telle que le type et la répartition géographique des atomes ou des ions et de leurs groupes, la forme et la taille des cellules, etc.).
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