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L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF offre des performances exceptionnelles en analyse de microstructure, prenant en charge l'orientation des monocristaux, la détection des défauts et la mesure des contraintes. Doté d'une conception à tube vertical avec fonctionnement multi-fenêtres et d'une commande par automate programmable importée, il garantit une haute précision et la conformité aux normes de sécurité (radiations).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 offre des performances analytiques exceptionnelles grâce à une technologie de détection innovante et à deux modes de balayage. Doté d'une acquisition de données rapide, d'une utilisation intuitive et d'une sécurité renforcée, il permet une analyse précise des matériaux dans les domaines de la recherche et de l'industrie, établissant ainsi de nouvelles normes pour les instruments scientifiques chinois.

Le diffractomètre à rayons X TD-5000 met fin au monopole international des instruments scientifiques de pointe. Cette innovation chinoise offre une précision exceptionnelle (0,0001°) et des capacités de détection avancées, au service des chercheurs en pharmacie, en science des matériaux et en chimie pour une analyse structurale complète.

Percée dans le domaine des instruments scientifiques : le diffractomètre à rayons X TD-3700 de Dandong Tongda stimule l'innovation en recherche Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. est une entreprise de haute technologie spécialisée dans la recherche, le développement et la production d'instruments d'analyse par rayons X. Son produit phare, le diffractomètre à rayons X TD-3700, allie rapidité d'analyse, simplicité d'utilisation et sécurité renforcée. La parfaite synergie entre son matériel modulaire et ses logiciels personnalisés en fait un outil performant pour la recherche dans des domaines tels que la science des matériaux, la chimie et la minéralogie. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 présente des avantages significatifs tant en termes de technologie de détection que de modes de mesure, lui permettant de répondre à un large éventail d'exigences analytiques. Technologie de base et performances Détecteurs hautes performances : L'instrument peut être équipé de détecteurs matriciels 1D haute vitesse (par exemple, MYTHEN2R), de détecteurs SDD ou de détecteurs 2D. Grâce à la technologie de comptage de photons hybride, il fonctionne sans bruit de lecture, atteint des vitesses d'acquisition de données dix à cent fois supérieures à celles des détecteurs à scintillation traditionnels et élimine efficacement les effets de fluorescence pour une excellente résolution énergétique. Par exemple, le détecteur matriciel 1D dispose de 640 canaux avec un temps de lecture remarquablement court de seulement 89 microsecondes, contribuant à un rapport signal/bruit exceptionnel. Modes de balayage flexibles : Le diffractomètre à rayons X TD-3700 prend en charge deux méthodes principales de balayage des données : le mode réflexion (diffraction) conventionnel et le mode transmission. Le mode transmission offre une résolution supérieure, ce qui le rend idéal pour l'analyse d'échantillons limités ou l'analyse structurale. Le mode réflexion offre un signal plus puissant, plus adapté à l'identification de phase en routine en laboratoire. Cette flexibilité permet à l'instrument de traiter une grande variété d'échantillons, allant des traces de poudre et de solides en vrac aux liquides et aux échantillons visqueux. Système de goniomètre de précision : Il utilise un goniomètre vertical θS-θd où l'échantillon reste horizontal et immobile pendant la mesure. Cette conception facilite non seulement la préparation des échantillons, mais prévient également la corrosion potentielle du système d'axes du goniomètre par les échantillons, prolongeant ainsi sa durée de vie. Avec une large plage de balayage 2θ (-110° à 161°) et une précision répétitive exceptionnelle de 0,0001°, il garantit des mesures extrêmement précises et répétables. Caractéristiques de l'instrument et assurance de sécurité Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est conçu en mettant l'accent sur l'expérience utilisateur et la sécurité opérationnelle. Conception conviviale : Fonctionnement sans effort : dispose d'un système d'acquisition en un clic et intègre une interface à écran tactile pour une surveillance en temps réel de l'état de l'instrument. Conception modulaire : les composants sont conçus pour une fonctionnalité plug-and-play, ne nécessitant aucun étalonnage et garantissant une maintenance simple. Protection de sécurité complète : Intègre un système de verrouillage de porte électronique pour une protection à double couche, garantissant la sécurité de l'utilisateur. La fuite de rayonnement externe du système de protection est ≤ 0,1 μSv/h, conforme aux normes de sécurité internationales strictes. Comprend plusieurs fonctions de protection contre les kV excessivement élevés/basses, les mA excessivement élevés/basses, les pannes de débit d'eau et la surchauffe du tube à rayons X. Système stable et fiable : Utilise un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension reconnu pour sa stabilité et sa fiabilité, avec une stabilité du système ≤ 0,005 %. Le refroidisseur à recirculation intégré intègre une fonction de refroidissement, éliminant ainsi le recours à un système de circulation d'eau externe. Applications et reconnaissance mondiale Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est largement utilisé pour l'analyse de phase qualitative/quantitative, l'analyse de la structure cristalline, la recherche sur la structure des matériaux, la détermination de la granulométrie et la mesure de la cristallinité. Reconnus pour leur qualité fiable, les produits Dandong Tongda sont exportés vers de nombreux pays et régions, dont les États-Unis, la Corée du Sud, l'Iran, l'Azerbaïdjan, l'Irak et la Jordanie, gagnant ainsi une reconnaissance internationale. L'entreprise a également obtenu la certification ISO9001 et d'autres certifications internationales de système de gestion de la qualité. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. offre à ses clients un service et une assistance complets, incluant un service après-vente, des formations professionnelles et un accompagnement commercial international. Nous serions ravis de répondre à vos questions et de vous accompagner dans vos achats !

Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 est un instrument d'analyse de paillasse hautes performances développé et fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Il est principalement utilisé pour l'analyse de phase des matériaux polycristallins tels que les poudres, les solides, les échantillons en vrac et les pâtes. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, cet instrument permet des analyses qualitatives et quantitatives, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, et d'autres fonctions. Ses applications sont nombreuses dans divers domaines, notamment l'industrie, l'agriculture, la défense, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole et la recherche pédagogique. Le diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 dépasse la limite conventionnelle de 600 W, délivrant une puissance de sortie maximale de 1 200 W pour des performances élevées. De plus, il intègre une alimentation haute fréquence et haute tension, réduisant ainsi la consommation énergétique globale. Il bénéficie d'une technologie goniométrique haute précision avec une répétabilité angulaire de 0,0001°, une précision de mesure de la position du pic de diffraction de 0,001° et une linéarité de l'angle de diffraction sur profil complet de ± 0,010°. L'instrument intègre un système de contrôle avancé basé sur la technologie PLC (automate programmable industriel) et une conception modulaire pour un fonctionnement précis. Pour la détection, il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute performance, améliorant considérablement les performances globales et la vitesse d'acquisition des données. Le TDM-20 offre également une grande flexibilité de configuration, prenant en charge divers accessoires tels qu'une platine porte-échantillon rotative, un détecteur matriciel 1D et un passeur d'échantillons automatique à 6 positions. Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 se distingue également par sa compacité, sa portabilité, son faible encombrement et son faible poids. Reconnu comme l'un des plus petits diffractomètres à rayons X de paillasse au monde, il est parfaitement adapté aux environnements de laboratoire où l'espace est limité. De plus, il est doté d'une triple protection d'isolement sans interférence. Le rayonnement de fuite de rayons X est maintenu à ≤ 0,12 μSv/h, ce qui garantit la conformité à la norme de protection GBZ 115-2002. Par conséquent, l'utilisation du mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 est garantie sûre et fiable. Le mini-diffractomètre à rayons X TDM-20 allie puissance, précision et compacité au sein d'une plateforme unique. Il dépasse les limites des diffractomètres à rayons X traditionnels à grande échelle et offre une solution d'analyse des matériaux efficace, pratique et fiable pour divers secteurs industriels. Grâce à ses performances techniques avancées, son service après-vente complet et sa flexibilité d'utilisation, le TDM-20 est un outil puissant pour l'analyse des matériaux en laboratoire. Pour tout besoin d'équipement de diffraction des rayons X, nous vous invitons à choisir les produits de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

The TD-5000 X-ray Single-Crystal Diffractometer is a high-performance instrument developed by Dandong Tongda Technology. Approved under China's National Key Scientific Instrument and Equipment Development Project, it fills a critical domestic gap in this field. Its primary function is determining the three-dimensional spatial structure and electron density distribution of crystalline substances—including inorganic compounds, organic compounds, and metal complexes—while also analyzing structures of special materials like twinned crystals, incommensurately modulated structures, and quasicrystals. It precisely measures the accurate 3D spatial structure of new crystalline compounds (including bond lengths, bond angles, configuration, conformation, and bonding electron density) and the actual arrangement of molecules within the crystal lattice. The system provides comprehensive structural information such as unit cell parameters, space group, molecular structure, intermolecular hydrogen bonding and weak interactions, and molecular configuration/conformation. It is widely used for analytical research in chemical crystallography, molecular biology, pharmacology, mineralogy, and materials science. Core Technology: A Dual Revolution in Precision and Intelligence (1) The "Mechanical Eye" with Atomic-Level Positioning Four-Circle Concentric Diffractometer: Overcomes traditional mechanical offset limitations, maintaining a constant rotational center to ensure diffraction spot coordinate errors remain below the nanometer level. PILATUS Detector: Combines single-photon counting technology with 172μm ultra-fine pixels. Achieves frame rates up to 20Hz, with noise suppression capability 3 times greater than conventional CCD detectors. (2) Fully Intelligent Closed-Loop Workflow PLC One-Touch Control: Automates the entire process from crystal positioning to data acquisition, reducing manual operation time by 90%. Cryogenic Enhancement System: Features ±0.3 K precision temperature control (100K–300K), boosting signal intensity for weakly diffracting crystals by 50% with liquid nitrogen consumption of only 1.1–2 L/h. (3) Dual Assurance: Safety and Expandability Lead Door Interlock + Leakage Protection (≤0.12 µSv/h), exceeding national safety standards. Optique de focalisation multicouche en option (double cible Mo/Cu), permettant une analyse à grande échelle des produits pharmaceutiques à petites molécules aux minéraux avec de grandes cellules unitaires. The advent of the TD-5000 X-ray Single-Crystal Diffractometer signifies more than an instrumental breakthrough—it marks the era where China's high-end scientific research equipment officially achieves autonomous precision definition. As of 2025, this system has served over 30 leading institutions across fields including chemistry, materials science, and aerospace. As crystals unveil the secrets of life under the probing gaze of domestically developed instruments, China's scientific "eye that discerns the essence of matter" now shines with brilliant clarity.

Présentation produit : Solutions d’analyse cristalline par rayons X de Dandong Tongda Dandong Tongda Science and Technology présente son équipement de pointe d'analyse cristalline par rayons X, offrant précision et fiabilité pour les applications industrielles. L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF allie des capacités analytiques performantes à une fiabilité industrielle. Doté de quatre fenêtres de fonctionnement et d'une technologie de contrôle par automate programmable, il est destiné aux secteurs de fabrication de pointe, notamment l'inspection des plaquettes de semi-conducteurs, l'évaluation des contraintes des composants aérospatiaux et le traitement des cristaux par laser. Nos orienteurs de cristaux à rayons X (TYX-200/TYX-2H8) permettent une mesure rapide et précise des angles de coupe des cristaux, avec une précision allant jusqu'à ±30 secondes d'arc. Capables de traiter des échantillons jusqu'à 30 kg, ces instruments prennent en charge la coupe directionnelle des cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Les deux gammes de produits utilisent la technologie de diffraction des rayons X non destructive, remplaçant les méthodes radioactives traditionnelles tout en améliorant l'efficacité et la précision du traitement pour la recherche et la fabrication de matériaux cristallins.

Le diffractomètre à rayons X monocristallin TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que les macles, les cristaux non proportionnés, les quasicristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Le diffractomètre à rayons X monocristallin peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, la liaison hydrogène intermoléculaire et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. La DRX monocristalline est largement utilisée dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le diffractomètre monocristallin adopte la technique de concentricité à quatre cercles pour garantir que le centre de l'instrument de mesure d'angle reste inchangé quelle que soit la rotation, ce qui permet d'obtenir les données les plus précises et d'obtenir une intégrité supérieure. La concentricité à quatre cercles est une condition nécessaire pour le balayage monocristallin conventionnel. Le personnel technique de l'entreprise a terminé l'installation et le débogage du diffractomètre à rayons X monocristallin étranger, et les résultats des tests ont grandement satisfait les utilisateurs étrangers. Dans le même temps, la fonctionnalité, la stabilité et le service après-vente de l'instrument ont reçu des éloges unanimes de la part des utilisateurs étrangers.

Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le XRD de table utilise le principe du diffractomètre à rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives, des analyses de structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique. Le chargement d'un nouveau détecteur matriciel hautes performances a conduit à une amélioration significative des performances de la DRX de paillasse. L'équipement XRD de paillasse a un petit volume et un poids léger ; La puissance de travail de l'alimentation haute tension Benchtop XRD peut atteindre 1600 watts ; Le XRD de paillasse peut rapidement calibrer et tester des échantillons ; Le contrôle du circuit XRD de table est simple et facile à déboguer et à installer ; La répétabilité de l'angle XRD de paillasse peut atteindre 0,0001.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.