Les tests non destructifs CT industriels sont le jugement des défauts internes, des défauts structurels, de la physique et de la composition du produit dans l'état et les performances d'origine de la pièce sans détruire ni modifier les matières premières.
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La technologie Micro-ct présente des avantages significatifs dans la caractérisation des céramiques, qui peuvent révéler la structure composite à l'intérieur du matériau sans dommage et restaurer la technologie clé dans la production de céramiques.
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En raison des différentes conditions de cristallisation, les particules des échantillons de médicaments en poudre auront des morphologies différentes.
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Les chercheurs de l'installation de rayonnement synchrotron SPring-8 de l'institut de recherche RIKEN au Japon et leurs collaborateurs ont développé un moyen plus rapide et plus simple d'effectuer une analyse de segmentation, un processus important en science des matériaux.
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Les chercheurs ont développé une technique d’imagerie aux rayons X qui produit des images détaillées d’organismes à des doses de rayons X beaucoup plus faibles que ce qui était auparavant possible.
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La XRD en tant que moyen d'analyse qualitative n'est pas aveugle, avec l'aide d'un logiciel d'analyse juste pour plus de commodité, fondamentalement, la chose la plus importante est le modèle XRD lui-même.
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En tant que nouvelle technologie de caractérisation des matériaux, la PDF (Pair Distribution Function) est utile dans l'étude de la structure locale des matériaux cristallins et amorphes.
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La stabilité structurelle du SBA-15 est étroitement liée à la taille et aux propriétés de ses pores, et la DRX est l'une des méthodes efficaces pour caractériser sa structure.
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Pour déterminer s'il y a de l'amiante dans le talc, il faut généralement combiner la microscopie polarisante ou électronique et la diffraction des rayons X, et l'analyse quantitative de l'amiante utilise principalement la méthode de diffraction des rayons X.
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La diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) est une technologie qui collecte les signaux diffusés générés par les rayons X traversant un échantillon pour étudier les informations structurelles d'un échantillon dans la plage de 1 à 100 nm.
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