Technologie d'analyse cristalline par rayons X de haute précision : un outil clé pour la caractérisation des matériaux dans de nombreux secteurs industriels

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TDF offre des performances exceptionnelles en analyse de microstructure, prenant en charge l'orientation des monocristaux, la détection des défauts et la mesure des contraintes. Doté d'une conception à tube vertical avec fonctionnement multi-fenêtres et d'une commande par automate programmable importée, il garantit une haute précision et la conformité aux normes de sécurité (radiations).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

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