Pour déterminer s'il y a de l'amiante dans le talc, il faut généralement combiner la microscopie polarisante ou électronique et la diffraction des rayons X, et l'analyse quantitative de l'amiante utilise principalement la méthode de diffraction des rayons X.

Avec l'augmentation progressive de la régulation des cristaux de médicaments, l'analyse quantitative des cristaux efficaces dans les préparations médicamenteuses constitue un maillon très important dans le processus de contrôle qualité de la production de médicaments.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. est un fabricant professionnel de diffractomètres à rayons X, a une histoire de 14 ans et a conclu une coopération avec de nombreuses universités et entreprises au pays et à l'étranger.

Avec le développement de la technologie de détection XRD, la miniaturisation des instruments, la faible consommation d'énergie, l'utilisation simple, la détection intelligente devient de plus en plus populaire et est devenue la tendance des instruments.

L'amiante, également connu sous le nom d'« amiante », fait référence à des produits minéraux silicatés présentant une résistance élevée à la traction, une flexibilité élevée, une résistance à l'érosion chimique et thermique, une isolation électrique et une filabilité. Les trois types les plus courants sont le chrysotile, le fer et la cyanite.

Un indicateur important de la DRX est la présence d’une très bonne source de lumière à rayons X. La soi-disant bonne source de lumière à rayons X fait généralement référence à une intensité élevée, un parallélisme élevé et une pureté élevée. Cet article présentera l'une des technologies de base du néo-confucianisme, la voie optique CBO.

Prenant comme exemple la mise à l'échelle des dépôts, cet article présente comment utiliser le diffractomètre à rayons X pour l'analyse qualitative et quantitative.

La fluorescence des rayons X à réflexion totale (TXRF) est une technique d'analyse des éléments de surface couramment utilisée pour analyser les particules, les résidus et les impuretés sur des surfaces lisses.

La diffraction des rayons X (DRX) est actuellement une méthode puissante pour étudier la structure cristalline (telle que le type et la répartition géographique des atomes ou des ions et de leurs groupes, la forme et la taille des cellules, etc.).

Cette procédure est une procédure auto-développée. Il contient une variété de fonctions d'analyse quantitative développées par nous-mêmes, qui sont conformes à la théorie de la diffraction et sont calculées par intensité intégrale.

Cet article partage principalement certaines questions pertinentes sur "l'analyse du logiciel JADE et le traitement des données XRD".