Exploration de la structure des matériaux : principes et applications des analyseurs de cristallographie aux rayons X

L'analyseur de cristallographie aux rayons X révèle la structure atomique par diffraction selon la loi de Bragg. Indispensable pour les métaux, les semi-conducteurs et les biomolécules, il cartographie l'arrangement cristallin, les défauts et les contraintes. Largement utilisé en recherche et développement, pour le contrôle qualité des semi-conducteurs, la conception de médicaments et les nanomatériaux, il est aujourd'hui doté de détecteurs plus rapides et d'un logiciel plus simple. Un outil essentiel pour la science et l'industrie.

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