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Utilisation de la méthode de diffraction (transmission) des rayons X pour tester la structure cristalline unique des fibres. Testez l’orientation de l’échantillon en fonction de données telles que la texture des fibres et la largeur du demi-pic.
Les données collectées grâce à des équipements à basse température donnent des résultats plus idéaux. À l'aide d'un équipement à basse température, des conditions plus avantageuses peuvent être fournies, permettant aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats idéaux, ainsi qu'aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats plus idéaux.
Il est difficile de quantifier les phases amorphes et cristallines des matériaux cimentaires en raison de la complexité des phases minérales dans le mélange et des pics importants qui se chevauchent. D'excellents résultats peuvent être obtenus par le raffinement Rietveld de l'échantillon mesuré à l'aide de configurations de mesure standard.
La phase vitreuse de Bragg est une phase cristalline presque parfaite avec des caractéristiques vitreuses qui devrait se produire dans les réseaux vortex et les systèmes d'ondes à densité de charge en présence de désordre.
Cet article présente les connaissances connexes sur le modèle cristallin et le fétichisme du cristal.
La diffraction des rayons X est divisée en deux types de diffraction monocristalline et de diffraction de poudre, le monocristal est principalement utilisé pour la détermination du poids moléculaire et de la structure cristalline, la poudre est principalement utilisée pour l'identification et la pureté des substances cristallines.
Le diffractomètre à rayons X (DRX) mondial s’est développé régulièrement ces dernières années et la Chine est un marché offrant de grandes perspectives de développement.
Ces dernières années, la mesure d’échantillons biologiques à haute pression a suscité un intérêt croissant. Cela se traduit par le développement de nouvelles techniques de mesure de pression différentes de celles mises en œuvre par DAC. L’une d’elles est la technique de congélation des cristaux sous pression.
Trois détecteurs à point unique sont partagés ci-dessous : un compteur proportionnel, un compteur à scintillation et un détecteur à semi-conducteur à semi-conducteur.
Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince.