Excellent détecteur, analyse par diffraction des rayons X d'échantillons polycristallins, réglage précis de l'instrument, excellente résolution

Le diffractomètre monocristallin à rayons X est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non proportionnés, les quasicristaux, etc. Déterminer l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) des nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; il peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, les liaisons hydrogène intermoléculaires et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Il est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux.

L'utilisation d'un détecteur de pixels hybrides permet d'obtenir la meilleure qualité de données tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un faible refroidissement. Ce détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et des pixels hybrides, et est appliqué dans divers domaines tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses de laboratoire conventionnelles, éliminant efficacement les interférences du bruit de lecture et du courant d'obscurité. La technologie des pixels hybrides peut détecter directement les rayons X, ce qui facilite la distinction des signaux, et le détecteur peut fournir efficacement des données de haute qualité.

Nous ne fournissons pas seulement des produits, mais en tant que transporteur, nous accordons plus d'attention à la commodité, à l'efficacité, à la précision et à la satisfaction qu'ils peuvent apporter au travail réel de nos clients. C'est notre engagement que nous avons toujours respecté. En tant que diffractomètre à rayons X le plus avancé produit au pays, le TD-3500 a bénéficié à des organisations telles que des collèges, des instituts de recherche et des entreprises industrielles dans l'identification et l'analyse des matériaux, recevant de grands éloges. Cela confirme également notre engagement envers la satisfaction du client. Bien entendu, avec le rythme rapide des temps et de la concurrence, afin de garantir des attentes plus élevées des clients, nous améliorons continuellement notre gamme de produits. Notre objectif n'est pas seulement d'être leader au niveau national, mais aussi de suivre le rythme mondial !

Une équipe de recherche de l'Institut Hefei des sciences physiques de l'Académie chinoise des sciences a récemment mené une étude proposant une nouvelle méthode pour améliorer la détection des rayons X en incorporant des cristaux péritectiques CsPb2Br5 déphasés dans des matériaux de bloc CsPbBr3.

Le détecteur de rayons X est un appareil utilisé pour détecter les rayons X, qui a un large éventail d'applications en médecine, en science et dans l'industrie. Les détecteurs de rayons X convertissent les rayons X en signaux électriques pour le traitement numérique et l'imagerie.

La technologie des rayons X joue un rôle essentiel dans la recherche médicale et scientifique, et les progrès récents dans la technologie des rayons X permettent des faisceaux plus brillants et plus puissants et une imagerie de systèmes de plus en plus complexes dans des conditions réelles.

Ces dernières années, la technique de diffusion des rayons X aux petits angles des macromolécules biologiques a fait l’objet d’une large attention. Cet article présentera principalement les progrès pertinents de la combinaison du petit angle biologique et d'autres techniques au cours des dernières années.

Trois détecteurs à point unique sont partagés ci-dessous : un compteur proportionnel, un compteur à scintillation et un détecteur à semi-conducteur à semi-conducteur.

Il utilise le principe des rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives et une analyse de la structure cristalline de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métaux.