Sur la structure fine d'absorption des rayons X

XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.

2024/04/10

Obtenez le dernier prix? Nous répondrons dès que possible (dans les 12 heures)

nom : This field is required

Téléphone : This field is required

*Email : Required and valid email address

entreprise : This field is required

*Message : This field is required

Politique de confidentialité

Nouvelles