Dandong Tongda Technology Co., Ltd., fabricant chinois leader d'instruments d'analyse, est fier de présenter son produit phare au marché mondial : le diffractomètre à rayons X (DRX) TD-3500. Conçu avec soin grâce à une technologie de pointe et un savoir-faire de précision, le TD-3500 est conçu pour offrir une expérience analytique exceptionnelle aux instituts de recherche, aux laboratoires universitaires et aux services de contrôle qualité industriels du monde entier. Le TD-3500 est bien plus qu'un diffractomètre à rayons X ordinaire. Il incarne la grande expertise technique de Tongda Technology et sa compréhension approfondie des besoins des utilisateurs. Conçu selon les principes fondamentaux de « précision, efficacité, stabilité et convivialité », il a pour vocation de devenir votre partenaire de laboratoire le plus fiable. Cet instrument de haute précision est largement utilisé dans l'analyse des matériaux et excelle dans l'analyse microstructurale approfondie des poudres, des solides en vrac et des films minces. Spécifications techniques et fonctionnalités de base Générateur de rayons X haute stabilité : Utilise un automate programmable industriel (API) importé pour un contrôle précis. Avec une puissance nominale allant jusqu'à 5 kW, une large plage de tension et de courant (10-60 kV, 2-80 mA) et une stabilité de sortie supérieure à 0,01 %, il garantit une acquisition de données exceptionnellement stable et fiable. Goniomètre haute précision : Le diffractomètre est équipé de roulements importés de haute précision et d'un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée. Il offre une reproductibilité angulaire extrêmement élevée (pas minimum de 0,0001 degré), garantissant une précision de mesure inégalée. Sa conception verticale (θ-θ) maintient l'échantillon stationnaire et horizontal pendant les tests, ce qui le rend adapté non seulement aux solides, mais aussi aux états complexes comme les liquides, les gels et les échantillons visqueux. Système de détection et de comptage à faible bruit : équipé de compteurs proportionnels ou à scintillation hautes performances, le système dispose d'une large plage linéaire de comptage (≥ 700 000 cps) avec un bruit de fond très faible (≤ 1 cps), capturant efficacement les signaux de diffraction faibles pour une précision des données améliorée. Protection complète : La sécurité est primordiale. Le TD-3500 est équipé d'un double système de protection : le verrouillage de l'obturateur est relié à la porte principale. En cas d'ouverture accidentelle de la porte, l'obturateur se ferme automatiquement, la haute tension chute à un niveau sûr et l'acquisition des données s'arrête immédiatement, optimisant ainsi la sécurité de l'opérateur. Les fuites de rayonnement sont nettement inférieures aux normes nationales. Logiciel d'analyse et base de données performants : Le système intègre un logiciel performant de collecte et de traitement des données, intégré à des outils d'analyse professionnels comme Jade et la base de données PDF. Il intègre notamment un programme de mesure dédié à l'industrie du dioxyde de titane, permettant une analyse rapide et précise des teneurs en rutile et en anatase, avec une marge d'erreur de 0,2 %. Principaux avantages concurrentiels du TD-3500 1. Performances et précision exceptionnelles Haute résolution et intensité : Un chemin optique optimisé et un générateur de rayons X hautement stable garantissent des diagrammes de diffraction haute résolution et un rapport signal/bruit élevé. Il offre une qualité de données irréprochable pour l'analyse de phase qualitative/quantitative et le calcul précis des paramètres de réseau. Stabilité robuste : Les composants principaux bénéficient d'une conception de protection entièrement fermée, associée à un système de contrôle précis de la température. Cela garantit une stabilité et une reproductibilité des données optimales en fonctionnement continu à long terme, répondant ainsi aux exigences les plus strictes de la détection industrielle en ligne. 2. Fonctionnement intelligent et convivial Fonctionnement intelligent en un clic : Le logiciel de contrôle intelligent de nouvelle génération offre une interface intuitive et un fonctionnement fluide. Même les utilisateurs novices peuvent facilement réaliser des tests complexes grâce à des programmes prédéfinis, réduisant ainsi considérablement la courbe d'apprentissage et les contraintes opérationnelles. Capacités d'analyse de données puissantes : le logiciel intègre une base de données puissante et des algorithmes d'analyse avancés, permettant une identification rapide des phases, le calcul de la taille des cristallites et des microdéformations, l'analyse des contraintes résiduelles, et bien plus encore, vous aidant à extraire rapidement des informations clés à partir de vastes quantités de données. 3. Large applicabilité et flexibilité Le TD-3500 traite sans effort des échantillons de formes variées (poudre, vrac, couches minces) et trouve des applications dans des domaines variés tels que la recherche et développement de nouveaux matériaux, la métallurgie, la chimie, la pharmacie, le ciment, la céramique, l'exploration géologique et l'authentification du patrimoine culturel. Sa conception modulaire permet également des extensions fonctionnelles futures, protégeant ainsi votre investissement. 4. Construction robuste et assistance mondiale Fabriqué avec une attention méticuleuse aux détails et des matériaux de qualité supérieure, le TD-3500 garantit un fonctionnement stable dans divers environnements complexes à travers le monde. De plus, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a établi un vaste réseau mondial de vente et de service après-vente, offrant des conseils avant-vente professionnels, des formations techniques et un service après-vente rapide pour garantir la tranquillité d'esprit de ses clients partout dans le monde. Notre engagement Forts de nombreuses années d'expertise dans le domaine des instruments d'analyse par rayons X, nous comprenons les défis uniques auxquels chaque client est confronté. Le lancement du diffractomètre à rayons X TD-3500 représente non seulement le summum de notre technologie, mais aussi notre engagement à contribuer à la réussite de nos clients à l'échelle mondiale. « Nous nous engageons à fournir aux scientifiques et ingénieurs du monde entier les outils technologiques les plus fiables grâce à une innovation continue », a déclaré le directeur général de Tongda Technology. « Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est notre offre la plus sincère. Nous sommes convaincus qu'il deviendra un puissant moteur pour nos clients, leur permettant d'explorer les mystères des matériaux, d'améliorer la qualité de leurs produits et de mener une révolution technologique. »

Le diffractomètre à rayons X entièrement automatisé par IA intègre parfaitement la manipulation de haute précision d'un bras robotisé basé sur un diffractomètre portable. Comparé aux diffractomètres traditionnels, il réduit considérablement les interventions manuelles, ce qui le rend idéal pour les scénarios de R&D exigeant des tests à haut débit et à haute répétabilité. Il est contrôlable à distance via un téléphone portable ou une application et dispose d'une technologie d'ouverture et de fermeture automatiques des portes. Grâce à ses capacités d'échantillonnage et d'analyse autonomes, il offre précision et praticité.

Dans des domaines de recherche tels que les sciences de la vie, la radiobiologie et la lutte antiparasitaire, des méthodes d'irradiation précises, sûres et contrôlables sont essentielles à de nombreuses expériences critiques. Forte de son expertise en technologie des rayons X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. a développé l'irradiateur à rayons X WBK-01, conçu pour offrir une alternative moderne aux sources d'isotopes radioactifs traditionnelles à divers laboratoires. I. Principe fondamental et objectif de conception L'équipement fonctionne en accélérant des électrons via un champ électrique haute tension pour frapper une cible métallique (par exemple, une cible en or), générant ainsi des rayons X de haute énergie. Cette conception de « source de rayonnement générée électriquement » évite fondamentalement l'utilisation d'isotopes radioactifs comme le cobalt 60 (Co-60) ou le césium 137 (Cs-137), éliminant ainsi la conservation à long terme, les coûts de démantèlement importants et les risques potentiels pour la sécurité associés aux matières premières. II. Principales caractéristiques du produit Haute sécurité : Aucun rayonnement hors tension : Les rayons X ne sont générés que lorsque l'équipement est sous tension et en fonctionnement. Aucun rayonnement résiduel n'est émis après utilisation, ce qui réduit considérablement les coûts de sécurité et de gestion du laboratoire. Verrouillages de sécurité multiples : équipés de plusieurs fonctions de protection de sécurité, notamment le verrouillage du fonctionnement des portes, l'arrêt d'urgence et la protection contre les surdoses, garantissant la sécurité des opérateurs et de l'environnement. Contrôle précis et bonne reproductibilité : Utilise un système de contrôle numérique, permettant aux utilisateurs de définir avec précision les paramètres d'irradiation, notamment la tension (kV), le courant (mA) et le temps d'irradiation, via une interface à écran tactile. Le système permet une production de dose stable, garantissant l’uniformité des conditions expérimentales et la reproductibilité des résultats. Utilisation facile et entretien simple : L'interface utilisateur est simple et intuitive, facile à apprendre et à utiliser, abaissant la barrière à l'utilisation. Comparé aux sources d'isotopes qui nécessitent un remplacement régulier et une surveillance de la désintégration, la maintenance principale de cet équipement se concentre sur le remplacement périodique du tube à rayons X, ce qui entraîne des coûts de maintenance à long terme relativement fixes et gérables. Compatibilité des échantillons flexibles : La chambre d'irradiation est conçue pour accueillir divers échantillons, des boîtes de culture cellulaire et des plaques multipuits aux petits animaux (par exemple, les mouches des fruits, les moustiques ou les souris). La platine d'échantillonnage peut être conçue pour tourner, garantissant ainsi l'uniformité de la distribution de la dose de rayonnement. III. Principaux scénarios d'application Recherche biomédicale : utilisée pour créer des modèles animaux immunodéficients (par exemple, l'ablation de cellules de moelle osseuse chez la souris), l'induction de l'apoptose cellulaire, la synchronisation des cycles cellulaires, la recherche en oncologie et le prétraitement pour la transplantation de cellules souches. Technique de l'insecte stérile (TIS) : Il s'agit d'un domaine d'application important. Elle permet d'irradier les pupes de ravageurs agricoles (par exemple, la mouche méditerranéenne des fruits) ou de moustiques afin de les rendre stériles, contribuant ainsi à des programmes de contrôle des populations écologiques et non polluants. Recherche sur la modification des matériaux : peut être utilisée pour étudier les effets des rayons X sur les propriétés de divers matériaux (par exemple, polymères, semi-conducteurs). IV. Paramètres typiques du modèle (en utilisant WBK-01 comme exemple) Tension du tube à rayons X : réglable en fonction des besoins, généralement dans une plage de plusieurs dizaines à plusieurs centaines de kilovolts (kV), pour s'adapter à différentes profondeurs de pénétration et besoins de débit de dose. Débit de dose : peut être ajusté en fonction de la tension, du courant et de la distance pour répondre aux exigences spécifiques de différents protocoles expérimentaux. Uniformité : assurée par la conception du système optique et un mécanisme de rotation de l'échantillon, garantissant une distribution uniforme de la dose dans le champ d'irradiation pour des expériences fiables. Résumé L'intérêt principal de l'irradiateur à rayons X Dandong Tongda réside dans le remplacement des sources d'isotopes radioactifs peu pratiques par une source de rayons X électriquement contrôlée et sûre. Loin de rechercher des fonctionnalités excessives, il vise à fournir un outil d'irradiation stable, fiable, conforme et facile à gérer pour la recherche scientifique et les applications industrielles. Pour les laboratoires recherchant des alternatives aux isotopes ou envisageant de créer de nouvelles plateformes d'irradiation, cet équipement pratique mérite d'être évalué et pris en considération par les utilisateurs en recherche fondamentale et appliquée.

Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux. L'analyseur d'orientation des rayons X est un instrument indispensable à la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins. 01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda comprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″. 02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur. L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette. Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant ainsi considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures. Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures. 03 Conceptions d'échantillons dédiés pour divers besoins de test Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées : Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TB : Conçue également pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des wafers monocristallins tels que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les wafers de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise. ​ Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de wafers tels que le silicium et le saphir. Les wafers peuvent être pivotés manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client. 04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda offrent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir. Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes : Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé. Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV. Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile. Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique. Consommation électrique totale : ≤2 kW. Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels. 05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins. Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium. Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser. Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final. Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans d'électronique grand public et les fenêtres optiques. Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité. Leur conception modulaire et la variété des options d'étages d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail. Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.

Dans les domaines de la science des matériaux et des essais industriels, chaque infime modification de la structure cristalline peut déterminer les propriétés finales d'un matériau. Aujourd'hui, un instrument de précision, fruit de la R&D de Dandong Tongda Science and Technology, le diffractomètre à rayons X TD-3500, ouvre une nouvelle fenêtre sur le monde microscopique pour les chercheurs et les inspecteurs industriels grâce à ses performances exceptionnelles et à sa conception intelligente. L'évolution par l'artisanat et la technologie Les diffractomètres de la série TD intègrent des années d'expertise technologique de Tongda Science and Technology et évoluent constamment. Véritable référence en analyse des matériaux, la diffraction des rayons X permet une analyse structurale complète d'échantillons de poudre, de matériaux en vrac ou de couches minces : analyse de phase qualitative et quantitative, analyse de la structure cristalline et de la structure des matériaux, analyse d'orientation, mesure des contraintes macro/micro, granulométrie et détermination de la cristallinité : le TD-3500 est polyvalent. Noyau intelligent, stable et fiable Le principal atout du diffractomètre à rayons X TD-3500 réside dans l'utilisation d'un système de contrôle-commande Siemens importé. Cette conception innovante confère à l'instrument des caractéristiques exceptionnelles : haute précision, excellente stabilité, longue durée de vie, évolutivité aisée, utilisation intuitive et fonctionnalités intelligentes, lui permettant de s'adapter avec souplesse aux besoins d'essais et de recherche de divers secteurs. Le générateur de rayons X propose deux options : un générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension ou un générateur à fréquence de ligne (工频). Ce générateur offre un haut niveau d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, de solides capacités anti-interférences et une excellente stabilité. Le système contrôle automatiquement l'interrupteur de l'obturateur, ajuste la tension et le courant du tube et inclut une fonction de formation automatique du tube à rayons X. La surveillance en temps réel via un écran tactile réduit considérablement la complexité opérationnelle. Contrôle innovant, fonctionnement révolutionnaire Par rapport aux circuits de micro-ordinateur monopuce traditionnels, la technologie de contrôle PLC utilisée dans le TD-3500 offre de multiples avancées : Contrôle de circuit simple pour un débogage et une installation faciles La conception modulaire permet aux utilisateurs d'effectuer eux-mêmes la maintenance et le débogage, réduisant ainsi considérablement les coûts Forte extensibilité pour l'ajout facile de divers accessoires fonctionnels sans modifications matérielles Écran tactile en vraies couleurs pour l'interaction homme-machine, utilisation conviviale et affichage intuitif des informations sur les défauts Mesure de précision, sécurité assurée Le goniomètre de la série TD utilise une transmission à roulement importée de haute précision et est équipé d'un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capable de corriger automatiquement les infimes erreurs de position afin de garantir une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure, avec une reproductibilité angulaire atteignant 0,0001 degré. Pour plus de sécurité, le TD-3500 adopte une structure à axe creux avec verrouillage électronique de la porte principale, offrant une double protection. La fenêtre de l'obturateur est reliée à la porte principale : à l'ouverture de celle-ci, l'obturateur se ferme automatiquement, garantissant ainsi une sécurité optimale à l'opérateur. Configuration flexible, compatibilité complète L'instrument offre deux choix de détecteurs : compteur proportionnel (PC) ou compteur à scintillation (SC) et plusieurs options de tubes à rayons X, notamment des tubes en verre, en céramique ondulée et en métal-céramique, répondant à différents scénarios d'application et exigences budgétaires. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est non seulement un instrument d'analyse haute performance, mais aussi le reflet de la quête incessante de qualité de Tongda Science and Technology. Il joue discrètement un rôle essentiel dans les laboratoires du pays, soutenant l'innovation scientifique et le contrôle qualité, et devenant le partenaire analytique de confiance des scientifiques et des ingénieurs. Que vous soyez engagé dans le développement de nouveaux matériaux, l'analyse des ressources minérales, le contrôle de la qualité pharmaceutique ou les tests de matériaux métalliques, le TD-3500 peut vous fournir un support de données précis et fiable, vous aidant à découvrir davantage de possibilités dans le monde microscopique. Explorez l'inconnu avec le TD-3500 — Laissez Tongda Science and Technology travailler avec vous pour découvrir les mystères de la science des matériaux.

Dans les domaines de la science des matériaux et de l'inspection industrielle, l'analyse par diffraction des rayons X, hautement efficace et précise, a toujours été essentielle aux avancées scientifiques et au contrôle qualité. Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 repousse les limites de performance des équipements de diffraction grâce à de multiples technologies innovantes, offrant une solution d'une efficacité inégalée pour la recherche universitaire, la R&D en entreprise et les applications de contrôle qualité. La synergie multi-détecteurs ouvre une nouvelle ère d'analyse à grande vitesse La série TD-3700 repousse les limites des détecteurs traditionnels en offrant une variété d'options, notamment des détecteurs matriciels unidimensionnels haute vitesse, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Comparé aux détecteurs à scintillation ou proportionnels conventionnels, il multiplie par dix l'intensité du signal de diffraction, capturant des diagrammes de diffraction haute sensibilité et haute résolution avec des cycles d'échantillonnage extrêmement courts et améliorant considérablement l'efficacité de la sortie des données. Associés à la technologie de comptage de photons hybride, ces détecteurs fonctionnent sans bruit, suppriment efficacement le bruit de fond de fluorescence et présentent une excellente résolution énergétique et un excellent rapport signal/bruit, ce qui les rend particulièrement adaptés à l'analyse d'échantillons complexes et de traces. Les modes de diffraction/transmission doubles élargissent les limites des applications L'instrument prend non seulement en charge le balayage par diffraction classique, mais intègre également un mode de transmission innovant. Ce mode offre une résolution nettement supérieure à celle du mode diffraction, ce qui le rend particulièrement adapté aux applications haut de gamme telles que l'analyse de la structure cristalline et la recherche sur les nanomatériaux. Grâce à sa stabilité de signal ultra-élevée, le mode diffraction est idéal pour l'identification de phase en routine. Un autre avantage majeur du mode transmission est sa prise en charge des tests d'échantillons traces, ce qui simplifie considérablement la préparation des échantillons et leur disponibilité limitée. Cela ouvre de nouvelles perspectives pour le développement pharmaceutique, l'analyse géologique, l'identification du patrimoine culturel et d'autres domaines. Conception modulaire et intelligente pour une plateforme expérimentale fiable et conviviale Le TD-3700 adopte une conception matérielle modulaire où tous les composants sont prêts à l'emploi sans nécessiter d'étalonnage, ce qui réduit considérablement les coûts de maintenance et les taux de panne. Son système d'acquisition en un clic et son logiciel personnalisé améliorent considérablement le confort d'utilisation, permettant même aux non-spécialistes de prendre en main rapidement. Une interface tactile permet de surveiller l'état de l'instrument en temps réel, affichant la progression des expériences en un coup d'œil. La sécurité est également sans compromis : un dispositif de verrouillage électronique des portes en plomb offre une double protection, tandis qu'un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension assure des performances stables et fiables. Associé à une unité de contrôle anti-interférence, il assure une fiabilité opérationnelle à long terme tout en garantissant la sécurité des utilisateurs. Né pour l'époque : une référence tournée vers l'avenir en matière de technologie de diffraction Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 allie rapidité d'analyse, fonctionnement intelligent et sécurité optimale. Il hérite non seulement de la stabilité de la série TD-3500, mais réalise également des avancées technologiques en matière de détection, de flexibilité d'application et d'intégration système. Son développement répond parfaitement aux besoins des laboratoires modernes en matière d'analyse d'échantillons à haut débit, haute précision et diversifiés, ce qui en fait un outil indispensable pour la caractérisation des matériaux, l'analyse chimique, l'industrie pharmaceutique et la recherche universitaire.

Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des substances pâteuses. Basé sur le principe de la diffraction des rayons X, il permet l'analyse qualitative et quantitative, ainsi que l'analyse de la structure cristalline, de matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons métalliques. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, la minéralogie, la sécurité alimentaire, le pétrole, ainsi que l'éducation et la recherche. Principe fondamental : la diffraction des rayons X, la clé du monde microscopique Le diffractomètre à rayons X TDM-20 fonctionne selon le principe de la diffraction des rayons X. Lorsque les rayons X illuminent un échantillon, ils interagissent avec les atomes qui le composent et se diffractent. Différentes structures cristallines produisent des motifs de diffraction uniques, comparables à des empreintes digitales. En analysant ces motifs, l'instrument révèle avec précision des informations clés sur la structure cristalline de l'échantillon, sa composition en phases, etc., révélant ainsi les secrets cachés à l'échelle microscopique. Percée en matière de performances Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse) surpasse la norme internationale précédente de 600 W et bénéficie d'une mise à niveau complète pour atteindre 1 200 W. Cet instrument se distingue par sa simplicité d'utilisation, ses performances stables et sa faible consommation d'énergie. Il peut être équipé d'un détecteur proportionnel ou d'un nouveau détecteur matriciel haute vitesse, ce qui se traduit par une amélioration significative des performances globales. Caractéristiques de l'appareil Taille compacte et conception légère Conception d'alimentation haute fréquence et haute tension pour une consommation énergétique globale plus faible Prend en charge l'étalonnage et les tests rapides des échantillons Contrôle de circuit simplifié pour un débogage et une installation faciles La précision linéaire de l'angle de diffraction à spectre complet atteint ± 0,01° Accessoires riches Le TDM-20 peut être associé à divers accessoires, notamment un détecteur de réseau 1D, un détecteur proportionnel, un changeur d'échantillons automatique à 6 positions, une platine d'échantillon rotative, entre autres. Conclusion Le diffractomètre à rayons X TDM-20 (DRX de paillasse), grâce à ses performances exceptionnelles, sa simplicité d'utilisation et son large éventail d'applications, est devenu un outil indispensable dans de nombreux secteurs industriels et domaines de recherche. Véritable « détective » du monde microscopique, il nous aide à percer les mystères de la structure des matériaux et à progresser dans divers domaines. Si vous aussi souhaitez explorer les secrets microscopiques de la matière, pensez au TDM-20 pour vous lancer dans la recherche et la production précises et efficaces.

Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 est un appareil d'analyse de phase compact et de haute précision. Voici une présentation détaillée du produit : 1. Fonctions principales et applications du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Analyse de phase Adapté à l'analyse qualitative et quantitative de poudres, de solides, de matériaux pâteux et d'échantillons de films minces, il peut identifier la structure cristalline, la composition de phase et la cristallinité des échantillons. (2) Analyse de la structure cristalline Il peut mesurer la taille des grains, l'orientation des cristaux, les contraintes macroscopiques/microscopiques et les propriétés structurelles des matériaux. (3) Applications industrielles et de recherche Largement utilisé dans des domaines tels que la géologie, la science des matériaux, la chimie, la biologie, la médecine et l'industrie nucléaire, adapté aux tests rapides en laboratoire et aux démonstrations pédagogiques. 2. Caractéristiques techniques du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Conception compacte et performances efficaces Compact, léger, faible consommation d'énergie, facile à utiliser et adapté aux environnements de bureau. Équipé d'une alimentation haute fréquence et haute tension, il peut atteindre 1 200 W (voir modèle TDM-20), garantissant ainsi la stabilité des rayons X. (2) Mesure de haute précision La précision de mesure de la position du pic de diffraction atteint 0,001°, avec une excellente répétabilité angulaire, répondant aux exigences d'une analyse de haute précision. En utilisant les principes de la géométrie de Debye Scherrer et de la loi de Bragg, le signal de réflexion du cristal est enregistré par diffraction de surface conique, permettant une identification précise de la phase. (3) Contrôle intelligent et traitement des données Acquisition de données contrôlée par ordinateur, prenant en charge l'acquisition et le traitement de données en temps réel sous le système Windows, avec une interface d'exploitation intuitive. Peut être associé à des détecteurs matriciels (faisant référence à la technologie de détection haute performance du TDM-20) pour améliorer l'efficacité et la sensibilité de détection. 3. Scénarios applicables du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Domaine de recherche Les universités et les instituts de recherche sont utilisés pour la recherche et le développement de matériaux, l'analyse de la structure cristalline et la caractérisation des nanomatériaux. (2) Applications industrielles Identification des minéraux, analyse de la composition des médicaments, tests de sécurité alimentaire (tels que le dépistage des impuretés cristallines), etc. (3) Démonstration pédagogique Appareil de bureau facile à utiliser, adapté à l'enseignement expérimental des étudiants, couvrant la théorie de base et le fonctionnement pratique de l'analyse de phase. 4. Paramètres techniques du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Précision de mesure : précision de la position du pic de diffraction de 0,001 ° (2) Méthode de contrôle : Contrôle par ordinateur (système Windows) (3) Alimentation : conception basse consommation, alimentation haute tension haute fréquence (4) Détecteur : prend en charge les détecteurs matriciels ou les détecteurs proportionnels (voir les accessoires TDM-20) (5) Support d'échantillon : peut être associé à un support d'échantillon rotatif ou à un changeur d'échantillons automatique (accessoire en option) 5. Avantages du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 (1) Rapport coût-efficacité élevé : les équipements nationaux ont des performances exceptionnelles et sont beaucoup moins chers que les équipements importés, ce qui les rend adaptés aux laboratoires aux budgets limités. (2) Détection rapide : optimisez le processus d'étalonnage, réduisez le temps de test et améliorez l'efficacité expérimentale. (3) Évolutivité : prend en charge plusieurs accessoires (tels que les systèmes de refroidissement à basse température, les accessoires de batterie in situ, etc.), qui peuvent être étendus à l'analyse de scénarios spéciaux. 6. Séries associées et comparaison du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 Modèle TDM-20 : Le TDM-20 est une version améliorée du TDM-10, avec une puissance plus élevée (1600 W), de nouveaux détecteurs de réseau hautes performances, un support pour les changeurs d'échantillons automatiques et d'autres accessoires, adaptés aux besoins de recherche industrielle et scientifique plus complexes. Autres modèles: La série Dandong Tongda TD comprend également des instruments de diffraction haute résolution tels que TD-3500 et TD-3700, ainsi que des analyseurs de cristaux de la série TDF, couvrant les besoins d'analyse multidimensionnelle. Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-10 est devenu l'équipement privilégié pour l'analyse de phase en laboratoire grâce à sa conception compacte, sa haute précision de mesure et son fonctionnement intelligent. Il offre un large éventail d'applications, particulièrement adapté à la recherche scientifique et aux environnements industriels exigeant une détection rapide et précise. Pour une configuration plus avancée, le TDM-20 ou d'autres modèles de la même série peuvent être envisagés.

Le diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 est un appareil de bureau compact principalement utilisé pour l'analyse de phase des matériaux et la recherche sur la structure cristalline. 1. Les principales fonctions du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 Analyse de phase du TDM-20 : Le TDM-20 peut effectuer une analyse qualitative/quantitative sur des échantillons polycristallins tels que des poudres, des solides et des matériaux pâteux. Analyse de la structure cristalline du TDM-20 : Basé sur le principe de la diffraction des rayons X, le TDM-20 prend en charge l'analyse des structures cristallines d'échantillons métalliques, de minéraux, de composés, etc. 2. Caractéristiques techniques du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 Puissance et performances élevées du TDM-20 : grâce à une alimentation haute fréquence et haute tension, sa puissance est portée à 1 600 W. Il est équipé de nouveaux détecteurs matriciels haute vitesse ou de détecteurs proportionnels pour améliorer l'efficacité et la précision de l'acquisition des données. Fonctionnement pratique du TDM-20 : L'appareil est de petite taille et léger, adapté aux espaces de laboratoire compacts ; Prend en charge l'étalonnage et les tests rapides, avec un contrôle de circuit simple et une installation et un débogage faciles. La précision et la stabilité du TDM-20 : la répétabilité de l'angle est aussi élevée que 0,0001 ° et la linéarité de l'angle de diffraction du spectre complet est de ± 0,01 °. Évolutivité du TDM-20 : Le TDM-20 peut être équipé d'un changeur d'échantillons automatique à 6 chiffres, d'une platine d'échantillon rotative, d'un système de refroidissement à basse température et d'accessoires in situ à haute/moyenne basse température pour répondre à divers besoins de test. 3. Scénarios d'application du diffractomètre à rayons X de bureau TDM-20 Les domaines de recherche du TDM-20 comprennent la caractérisation de la structure cristalline et l'analyse des transitions de phase dans la science des matériaux, la géologie et la recherche pharmaceutique. Applications industrielles du TDM-20 : évaluation de la consistance des médicaments dans l'industrie pharmaceutique, identification des minéraux, analyse des catalyseurs pétrochimiques, tests de sécurité alimentaire (tels que la détermination de la composition cristalline). Éducation et défense nationale du TDM-20 : identification rapide des phases dans les expériences d'enseignement universitaire et développement du matériel de défense nationale. 4. Fabricants et accessoires du TDM-20 Fabricant : Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Accessoires optionnels : détecteur de réseau unidimensionnel, détecteur proportionnel, changeur d'échantillons automatique à 6 chiffres, platine d'échantillon rotative, monochromateur à cristal courbé en graphite, etc. Dans l'ensemble, le TDM-20, avec sa puissance élevée, sa haute précision et sa conception compacte, est devenu un outil efficace pour l'analyse de phase en laboratoire et est largement utilisé dans la recherche scientifique, l'industrie et les domaines de l'enseignement.

Le diffractomètre à rayons X TD-3500 (TD-3500XRD) est un instrument d'analyse haute performance produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Il est principalement utilisé pour l'analyse de la structure cristalline, de la composition de phase et des propriétés des matériaux. 1. Paramètres techniques de base du diffractomètre à rayons X TD-3500 La source de rayons X du diffractomètre TD-3500 : Il propose une sélection de matériaux cibles Cu Kα ou Mo Kα, avec une plage de tension de tube réglable de 10 à 60 kV et une plage de courant de tube de 2 à 80 mA, prenant en charge les générateurs à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension, ainsi que les générateurs à fréquence industrielle. Équipé d'un système de contrôle PLC Siemens importé, il assure la commutation automatique des portes lumineuses, la régulation de la pression et du débit du tube et les fonctions de formation du tube à rayons X avec une grande stabilité. Système de mesure d'angle du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Adoptant une structure verticale θ -2 θ avec un rayon de cercle de diffraction de 185 mm (ajustable à 285 mm), il permet de tester des échantillons liquides, sol, poudre et blocs. La résolution angulaire atteint 0,0001 degré, la précision de pas est de 0,0001 degré et la plage de mesure d'angle est de -5 ° à 165 ° (2 θ), ce qui convient à l'analyse cristalline de haute précision. Détecteur du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Détecteur proportionnel (PC) ou détecteur à scintillation (SC) en option, avec une plage de comptage linéaire ≥ 700 000 cps et un bruit de fond ≤ 1 cps. Équipé d'un monochromateur à double cristal, il supprime efficacement la composante K α 2 et améliore la monochromaticité du rayonnement. Contrôle et logiciel du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Un système d'interaction homme-machine basé sur un PLC importé et un écran tactile couleur véritable, prenant en charge le réglage des paramètres, la surveillance en temps réel et le diagnostic des pannes. Le logiciel dispose de fonctions telles que la correspondance des diagrammes de phases, l'analyse des contraintes et le calcul de la granulométrie, et peut générer des rapports standardisés. 2. Caractéristiques techniques et avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500 Haute précision et stabilité du diffractomètre à rayons X TD-3500 : L'instrument de mesure d'angle adopte des roulements importés de haute précision et un système d'entraînement servo entièrement fermé, avec correction automatique des erreurs de mouvement et une répétabilité supérieure à 0,0006 °. La conception modulaire de l'API a une forte capacité anti-interférence, prend en charge un fonctionnement sans défaut à long terme et peut étendre plusieurs accessoires fonctionnels. Sécurité et protection du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Le dispositif de verrouillage électronique de la porte de plomb assure une double protection : la porte lumineuse et la porte de plomb sont verrouillées pour garantir un fonctionnement sûr. Équipé d'un système de refroidissement par circulation d'eau (séparé ou intégré), il contrôle automatiquement la température de l'eau et surveille la température du tube à rayons X pour éviter tout blocage. Fonctionnement intelligent du diffractomètre à rayons X TD-3500 : L'écran tactile affiche l'état de l'instrument en temps réel et prend en charge le réglage des paramètres (plage de balayage, pas, temps d'échantillonnage, etc.) ainsi que le diagnostic des pannes à distance. Des modes de balayage prédéfinis (θ -2 θ, diffraction monocristalline, analyse de couches minces) sont disponibles pour répondre aux différents besoins en matière d'échantillonnage. 3. Principaux domaines d'application du diffractomètre à rayons X TD-3500 Analyse du matériau du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Analyse qualitative/quantitative des phases, identification de la structure cristalline, détermination de la granulométrie et de la cristallinité. Analyse de la composition de phase et des contraintes de matériaux tels que les semi-conducteurs, les céramiques, les métaux, les polymères, etc. Expérience de recherche du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Analyse de l'orientation du film, recherche de transition de phase des matériaux catalyseurs/batteries et caractérisation des structures de nanomatériaux. Cristaux biologiques, mesure des contraintes macroscopiques/microscopiques et analyse de l'évolution de la température des matériaux (nécessitant l'utilisation d'un analyseur thermique). Cas d'utilisation typique du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Université de technologie de Wuhan (recherche sur la structure des nouveaux matériaux), Institut de technologie de Pékin (recherche sur la transformation de phase des semi-conducteurs à oxyde), Université de Tongji (analyse de la structure des alliages de titane), etc. 4. Points clés pour le fonctionnement et la maintenance du diffractomètre à rayons X TD-3500 Processus de fonctionnement du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Démarrage et préchauffage pendant 10 à 15 minutes → Préparation et fixation des échantillons → Définition des paramètres de numérisation (plage 2 θ, largeur de pas, pression/débit du tube, etc.) → Démarrage de la numérisation → Analyse des données. Prise en charge de la combinaison MEB et EDS pour une caractérisation complète des micro/nanostructures et composants. Largement utilisé en science des matériaux, chimie, physique et autres domaines, c'est l'outil privilégié pour l'analyse de la structure cristalline et des phases.

Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est un appareil d'analyse de rayons X haute performance et haute résolution, caractérisé par une analyse rapide, un fonctionnement pratique et une sécurité renforcée. 1. Caractéristiques techniques du diffractomètre à rayons X TD-3700 (1) Configuration de base du diffractomètre à rayons X Équipé d'un détecteur matriciel unidimensionnel (SDD) haute vitesse utilisant la technologie de comptage mixte de photons, il ne présente aucune interférence et sa vitesse d'acquisition des données est largement supérieure à celle des détecteurs à scintillation traditionnels (plus de cent fois supérieure). Il offre également une plage dynamique élevée (24 bits) et une excellente résolution énergétique (687 ± 5 eV). Équipé d'un automate programmable industriel (PLC) importé, il assure un contrôle automatisé, un faible taux de défaillance, une forte capacité anti-interférence et garantit un fonctionnement stable de l'alimentation haute tension des tubes à rayons X. (2) Système de mesure d'angle du diffractomètre à rayons X Adoptant une structure d'instrument de mesure d'angle vertical θ/θ, l'échantillon est placé horizontalement et permet de tester diverses formes d'échantillons, tels que liquides, sols, poudres et blocs, afin d'éviter toute chute dans le roulement et toute corrosion. La plage de balayage de l'angle 2 θ est de -110 ° à 161 °, avec un pas minimum de 0,0001 °, une répétabilité de ± 0,0001 ° et une linéarité angulaire de ± 0,01 °, ce qui convient à l'analyse structurale de haute précision. L'appareil prend en charge les modes de réflexion et de transmission conventionnels, ce dernier offrant une résolution plus élevée et étant adapté aux échantillons traces (tels que les poudres à faible rendement) et à l'analyse structurale. (3) Le système de génération de rayons X du diffractomètre à rayons X La puissance nominale est de 3 kW ou 5 kW, avec une plage de tension de 10 à 60 kV, un courant de 2 à 80 mA et une stabilité ≤ 0,005 %. Matériau cible standard Cr/Co/Cu, adapté à différentes exigences d'analyse de matériaux. 2. Logiciel et contrôle de l'instrument de diffraction des rayons X TD-3700 (1) Logiciel de contrôle pour diffractomètre à rayons X Interface entièrement en chinois, compatible avec Windows XP, régulation automatique de la pression et du débit du tube, commutation de l'éclairage et fonction d'apprentissage du vieillissement du tube à rayons X. Le logiciel d'application offre des fonctions de traitement telles que la recherche de pics, la soustraction de bruit de fond, la suppression de Kα2, le calcul d'intégration, la comparaison de spectres, etc. Il prend en charge l'insertion d'annotations textuelles et diverses opérations de mise à l'échelle. (2) Sécurité de fonctionnement du diffractomètre à rayons X Système de protection double (liaison de la porte lumineuse et de la porte principale), taux de fuite de rayons X ≤ 0,1 μ Sv/h, conforme aux normes nationales. Equipé d'un système de réfrigération à circulation (split ou intégré), d'un contrôle automatique de la température et d'une surveillance du débit d'eau, de la pression du réfrigérant, etc., pour éviter le blocage du tube à rayons X. 3. Scénarios d'application du diffractomètre à rayons X TD-3700 (1) La fonction principale du diffractomètre à rayons X Analyse qualitative/quantitative des phases, analyse de la structure cristalline, détermination de la granulométrie et de la cristallinité. Détection de contraintes macroscopiques/microscopiques, analyse de l'orientation des matériaux (films minces, échantillons en vrac, etc.). (2) Domaines d'application du diffractomètre à rayons X Science des matériaux : céramiques, métaux, polymères, matériaux supraconducteurs, etc. Environnement et géologie : analyse des sols, des roches, des minéraux et diagraphie pétrolière. Chimie et pharmacie : identification des ingrédients pharmaceutiques, tests de cristallinité des produits chimiques. Autres : inspection des aliments, matériaux électroniques, matériaux magnétiques, etc. 4. Avantages du diffractomètre à rayons X TD-3700 (1) Conception modulaire : le système matériel est modulaire et prend en charge plusieurs accessoires (tels que des accessoires optiques et des logiciels de fonctions spéciales) qui sont plug and play, sans qu'il soit nécessaire de régler manuellement le chemin optique. (2) Équilibrage efficace et sûr : l'opération en un clic simplifie le processus, tout en réduisant le risque de panne grâce au contrôle PLC, au système de protection et aux fonctions d'alarme automatique (telles que la protection contre les surintensités et l'avertissement de surchauffe). (3) Percée en matière de localisation : la série TD est le seul équipement XRD en Chine qui utilise la technologie de contrôleur programmable, avec des performances comparables aux modèles importés (tels que D8 ADVANCE) et des taux de défaillance considérablement réduits. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est un diffractomètre à rayons X puissant et largement utilisé. Son détecteur haute performance, son système de mesure d'angle précis, ses puissantes fonctionnalités logicielles et son large éventail d'applications en font un outil essentiel pour la recherche scientifique et la production industrielle.

L'accessoire de mesure de films optiques parallèles de Dandong Tongda est un composant spécialisé pour les diffractomètres à rayons X, améliorant considérablement les performances des tests d'échantillons de couches minces. Sa conception de réseau allongé supprime efficacement les interférences de diffusion, améliorant la clarté du signal pour les films ultra-minces et nanomulticouches. Cet accessoire permet l'analyse par diffraction aux petits angles (0°–5°), assurant ainsi une mesure précise de l'épaisseur des films et des structures d'interface. Compatible avec les diffractomètres TD-3500, TD-5000, TD-3700 et TDM-20, il garantit des performances homogènes sur toutes les plateformes. Largement utilisé dans l'inspection des semi-conducteurs, l'évaluation des revêtements optiques et la recherche sur les matériaux pour les nouvelles énergies, cet outil permet de surmonter les difficultés liées aux signaux faibles et au bruit de fond. Avec les progrès réalisés dans les domaines des nanomatériaux et des semi-conducteurs, cet accessoire est appelé à jouer un rôle de plus en plus crucial dans la recherche de pointe et le contrôle qualité.