Le système de diffraction des rayons X TD-3500 garantit une haute précision et une grande stabilité grâce à son automate programmable industriel Siemens et son goniomètre θ-θ. Il offre un fonctionnement automatisé et convivial et a été validé dans des secteurs tels que l'analyse du TiO₂, fournissant des solutions fiables d'identification de phase et de mesure des contraintes.

Choisir un diffractomètre de rayons X (DRX) implique de trouver un équilibre entre performance (précision, rapidité), polyvalence (types d'échantillons) et facilité d'utilisation, tout en considérant sa rentabilité à long terme. Les facteurs clés incluent la fiabilité de l'instrument, la sécurité, le rapport coût-efficacité (en tenant compte du prix d'achat et des coûts d'exploitation) et un support fournisseur solide, comprenant formation, accompagnement à l'utilisation et assistance technique locale. Avant tout achat, il est également important d'évaluer l'infrastructure du laboratoire, de comparer les options disponibles sur le marché et d'anticiper les futures mises à niveau et la maintenance.

Les diffractomètres à rayons X haute résolution analysent les matériaux en capturant des diagrammes de diffraction précis, révélant ainsi leur structure cristalline, leurs paramètres de maille, les positions atomiques et leur composition chimique. Ce processus comprend la préparation de l'échantillon, le réglage de l'instrument, l'acquisition des diagrammes et l'analyse des données, offrant des informations essentielles pour la recherche et le développement de matériaux.

La technologie HR-XRD de nouvelle génération réduit la consommation d'énergie grâce à des mises à niveau matérielles, des commandes intelligentes et une gestion complète du cycle de vie, maintenant la précision tout en diminuant les coûts et les émissions pour les laboratoires écologiques.

Le TD-3700 est un diffractomètre à rayons X de nouvelle génération doté d'un détecteur matriciel haute vitesse offrant une intensité nettement supérieure et une analyse rapide et sans bruit. Son mode transmission est particulièrement performant pour les échantillons à l'état de traces. Modulaire et intuitif, il garantit une utilisation simple et une conformité aux normes internationales pour diverses applications de laboratoire à travers le monde.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 offre des performances analytiques exceptionnelles grâce à une technologie de détection innovante et à deux modes de balayage. Doté d'une acquisition de données rapide, d'une utilisation intuitive et d'une sécurité renforcée, il permet une analyse précise des matériaux dans les domaines de la recherche et de l'industrie, établissant ainsi de nouvelles normes pour les instruments scientifiques chinois.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.