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Révolutionner l'efficacité de la recherche : le diffractomètre à rayons X TD-3700 établit une nouvelle référence dans l'analyse des matériaux

Dans les domaines de la science des matériaux et de l'inspection industrielle, l'analyse par diffraction des rayons X, hautement efficace et précise, a toujours été essentielle aux avancées scientifiques et au contrôle qualité. Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 repousse les limites des performances des équipements de diffraction grâce à de multiples technologies innovantes, offrant une solution d'une efficacité inégalée pour la recherche universitaire, la R&D en entreprise et les applications de contrôle qualité. La synergie multi-détecteurs ouvre une nouvelle ère d'analyse à grande vitesse La série TD-3700 repousse les limites des détecteurs traditionnels en offrant une variété d'options, notamment des détecteurs matriciels unidimensionnels haute vitesse, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Comparé aux détecteurs à scintillation ou proportionnels conventionnels, il multiplie par dix l'intensité du signal de diffraction, capturant des diagrammes de diffraction haute sensibilité et haute résolution avec des cycles d'échantillonnage extrêmement courts et améliorant considérablement l'efficacité de la sortie des données. Associés à la technologie de comptage de photons hybride, ces détecteurs fonctionnent sans bruit, suppriment efficacement le bruit de fond de fluorescence et présentent une excellente résolution énergétique et un excellent rapport signal/bruit, ce qui les rend particulièrement adaptés à l'analyse d'échantillons complexes et de traces. Les modes de diffraction/transmission doubles élargissent les limites des applications L'instrument prend non seulement en charge le balayage par diffraction conventionnel, mais intègre également un mode de transmission innovant. Ce mode offre une résolution nettement supérieure à celle du mode diffraction, ce qui le rend particulièrement adapté aux applications haut de gamme telles que l'analyse de la structure cristalline et la recherche sur les nanomatériaux. Grâce à sa stabilité de signal ultra-élevée, le mode diffraction est idéal pour l'identification de phase en routine. Un autre avantage majeur du mode transmission est sa prise en charge des tests d'échantillons traces, ce qui simplifie considérablement la préparation des échantillons et leur disponibilité limitée. Cela ouvre de nouvelles perspectives pour le développement pharmaceutique, l'analyse géologique, l'identification du patrimoine culturel et d'autres domaines. Conception modulaire et intelligente pour une plateforme expérimentale fiable et conviviale Le TD-3700 adopte une conception matérielle modulaire où tous les composants sont prêts à l'emploi sans nécessiter d'étalonnage, ce qui réduit considérablement les coûts de maintenance et les taux de panne. Son système d'acquisition en un clic et son logiciel personnalisé améliorent considérablement le confort d'utilisation, permettant même aux non-spécialistes de démarrer rapidement. Une interface tactile permet de surveiller en temps réel l'état de l'instrument, affichant la progression des expériences en un coup d'œil. La sécurité est également sans compromis : un dispositif de verrouillage électronique des portes en plomb offre une double protection, tandis qu'un générateur de rayons X haute fréquence et haute tension assure des performances stables et fiables. Associé à une unité de contrôle anti-interférence, il assure une fiabilité opérationnelle à long terme tout en garantissant la sécurité des utilisateurs. Né pour l'époque : une référence tournée vers l'avenir en matière de technologie de diffraction Le diffractomètre à rayons X de la série TD-3700 allie rapidité d'analyse, fonctionnement intelligent et sécurité totale. Il hérite non seulement de la stabilité de la série TD-3500, mais réalise également des avancées en matière de technologie de détection, de flexibilité d'application et d'intégration système. Son développement répond parfaitement aux besoins des laboratoires modernes en matière d'analyse d'échantillons à haut débit, haute précision et diversifiés, ce qui en fait un outil indispensable pour la caractérisation des matériaux, l'analyse chimique, l'industrie pharmaceutique et la recherche universitaire.

2025/08/20
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2024/01/05
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