Le diffractomètre à rayons X haute puissance TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux pâteux similaires. Le principe de la diffraction des rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons métalliques. La DRX de paillasse est largement utilisée dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, l'industrie pharmaceutique, l'industrie minérale, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique. 1、Caractéristiques principales du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Français Le chargement du nouveau détecteur de réseau haute performance a considérablement amélioré les performances globales de l'appareil, avec une petite taille et un poids léger ; L'ensemble de la machine est intégré dans la taille du bureau (généralement ≤ 1 m³), ​​économisant de l'espace et adapté aux petits laboratoires ou aux environnements d'enseignement ; La puissance de travail de l'alimentation haute fréquence et haute tension peut atteindre 1600 W ; Analyse rapide, capable d'étalonner et de tester rapidement des échantillons ; En utilisant des détecteurs hautes performances (tels que des détecteurs bidimensionnels) et en optimisant le chemin optique, le balayage des échantillons peut être terminé en quelques minutes ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La répétabilité de l'angle peut atteindre 0,0001 ; Faible consommation d'énergie et sécurité, utilisant des tubes à rayons X de faible puissance (tels que ≤ 50 W), équipés d'une protection contre les radiations multiples, pas besoin de salles de blindage spéciales ; Convivial, équipé d'un logiciel d'automatisation, prenant en charge l'opération en un clic, la visualisation des données en temps réel et la comparaison de bases de données standard (telles que ICDD PDF). 2. Scénarios d'application typiques du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : Identification rapide de la structure cristalline et de la composition des phases (telles que les métaux, les céramiques, les polymères). Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : Test sur site industriel de la pureté cristalline des matières premières ou des produits finis (tels que les produits pharmaceutiques et les matériaux de batterie). Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : Enseignement expérimental de premier cycle, démontrant visuellement le principe de diffraction de Bragg. Science des matériaux du diffractomètre à rayons X (XRD de paillasse) : analyse de la composition minérale des reliques culturelles ou criblage préliminaire d'échantillons de terrain. 3. Paramètres techniques du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Projet : plage de paramètres Source de rayons X : cible Cu (λ = 1,54 Å), cible Mo en option Tension/courant : 10-50 kV/0,1-2 mA Plage de mesure d'angle : 0-90 ° 2θ (certains modèles peuvent être étendus) Résolution angulaire : ≤ 0,01 ° Type de détecteur : détecteur linéaire unidimensionnel ou détecteur de surface bidimensionnel Taille de l'échantillon : Poudre (milligrammes), film ou bloc 4. Avantages et limites du diffractomètre à rayons X de paillasse TDM-20 (XRD de paillasse) : Avantages : Faible coût (environ 1/3-1/2 d'un grand XRD), entretien facile. Prend en charge l'analyse non destructive et la préparation simple des échantillons (comme le placement direct de poudre). limites: La résolution et la sensibilité sont légèrement inférieures à celles des appareils haut de gamme et peuvent ne pas convenir à une analyse structurelle ultra-fine. Les tests dans des conditions extrêmes (comme les expériences in situ à haute température/haute pression) ne sont généralement pas réalisables.

Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques et microscopiques, la granulométrie et la cristallinité, etc., sur des échantillons de poudre, de blocs ou de films. Fabriqué par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., le diffractomètre à rayons X TD-3500 est doté d'un automate programmable Siemens importé. Il se caractérise par une grande précision, une excellente stabilité, une longue durée de vie, une mise à niveau aisée, une utilisation simple et une grande intelligence, et s'adapte avec souplesse aux analyses et à la recherche dans divers secteurs.   Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est équipé d'un générateur de rayons X (générateur à semi-conducteurs haute fréquence et haute tension, générateur de fréquence de puissance en option). Il présente un haut degré d'automatisation, un taux de défaillance extrêmement faible, une forte capacité anti-interférence, une bonne stabilité du système et peut prolonger la durée de vie de l'ensemble de la machine. L'API et l'interface informatique contrôlent automatiquement l'ouverture et la fermeture de la porte lumineuse, la montée et la descente de la pression et du débit du tube, et permettent l'entraînement automatique des tubes à rayons X. L'état de l'instrument est surveillé en temps réel via un écran tactile. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 est doté d'une unité de contrôle d'enregistrement avancée, d'un circuit de commande PLC et d'un écran tactile couleur pour une interaction homme-machine optimale. Le matériel du système adopte une conception modulaire, ce qui améliore considérablement sa résistance aux interférences et sa stabilité. Grâce à l'utilisation de circuits de commande PLC Siemens importés, hautement précis et automatisés, le système peut fonctionner de manière stable et durable, sans aucune défaillance. Le système de diffractomètre à rayons X TD-3500 présente les avantages suivants par rapport aux circuits de microcontrôleurs utilisés par d'autres sociétés : Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; Grâce à sa conception modulaire, la maintenance du système est très simple et les utilisateurs peuvent le réparer et le déboguer eux-mêmes sans avoir besoin de la présence des techniciens du fabricant ; Adoptant un écran tactile couleur véritable avancé pour réaliser une interaction homme-ordinateur, avec des fonctions de protection complètes et un fonctionnement très pratique, la conception d'animation hautement tridimensionnelle est plus humanisée, intuitive et pratique pour les opérateurs à utiliser et à juger les informations de défaut, etc. ; Améliorant considérablement la stabilité de comptage du système, améliorant ainsi la stabilité globale de l'ensemble de la machine ; En raison de la forte capacité d'extension du PLC, il peut facilement étendre divers accessoires fonctionnels sans avoir besoin d'ajouter de circuits matériels supplémentaires. Détecteur du diffractomètre à rayons X TD-3500 Détecteur proportionnel (PC) ou détecteur à scintillation (SC). Instrument de mesure d'angle de haute précision pour diffractomètre à rayons X TD-3500 L'instrument de mesure d'angle de la série TD adopte une transmission à roulement importée de haute précision, et le contrôle du mouvement est assuré par un système d'asservissement vectoriel en boucle fermée de haute précision. Ce système intelligent comprend un microprocesseur RISC 32 bits et un codeur magnétique haute résolution, capables de corriger automatiquement les erreurs de position de mouvement extrêmement minimes, garantissant ainsi une précision et une exactitude élevées des résultats de mesure. La reproductibilité angulaire peut atteindre 0,0001 degré, et les angles de pas plus petits peuvent atteindre 0,0001 degré. Domaines d'application du diffractomètre à rayons X TD-3500 : Science des matériaux : utilisée pour étudier des informations clés telles que la structure cristalline, le comportement de transition de phase et la texture des matériaux. Analyse chimique : peut être utilisée pour l'analyse qualitative ou quantitative de composés organiques, inorganiques, polymères et d'autres substances. Géologie : aide les gens à comprendre la formation des gisements minéraux, l’évolution de la Terre et bien plus encore. Produits biopharmaceutiques : déterminer la structure cristalline des médicaments, optimiser les formulations de médicaments et améliorer l’efficacité des médicaments. Le diffractomètre à rayons X est un outil d'analyse puissant, largement utilisé dans de nombreux domaines. En mesurant avec précision l'angle et l'intensité de diffraction, il peut fournir des informations détaillées sur la structure cristalline et la composition des matériaux.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est un nouveau membre de la série TD. Il est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances, tels que des détecteurs multiéléments unidimensionnels rapides, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Il allie rapidité d'analyse, simplicité d'utilisation et sécurité d'utilisation. Son architecture matérielle modulaire et son logiciel personnalisé offrent une combinaison parfaite, réduisant considérablement le taux de défaillance, offrant d'excellentes performances anti-interférences et garantissant un fonctionnement stable et durable de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge non seulement la méthode de balayage des données par diffraction classique, mais également la méthode de balayage des données par transmission. La résolution du mode transmission est bien supérieure à celle du mode diffraction, ce qui est adapté à l'analyse structurale et à d'autres domaines. Le mode diffraction produit des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase en laboratoire. De plus, en mode transmission, l'échantillon de poudre peut être présent à l'état de traces, ce qui est adapté à l'acquisition de données lorsque la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon. Le détecteur matriciel exploite pleinement la technologie de comptage mixte de photons, sans bruit, avec une acquisition de données rapide et une vitesse plus de dix fois supérieure à celle des détecteurs à scintillation. Il offre une excellente résolution énergétique et permet d'éliminer efficacement les effets de fluorescence. Les détecteurs multicanaux offrent des temps de lecture plus rapides et un meilleur rapport signal/bruit. Un système de contrôle du détecteur avec déclenchement électronique et externe assure une synchronisation optimale. Le principe de fonctionnement du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : En exploitant les fluctuations des rayons X lorsqu'ils sont irradiés sur un cristal, les atomes ou les ions du cristal agissent comme des centres de diffusion, diffusant les rayons X dans toutes les directions. Du fait de la régularité de l'arrangement atomique dans les cristaux, ces ondes diffusées interfèrent et se renforcent mutuellement dans certaines directions, formant ainsi la diffraction. La mesure de l'angle et de l'intensité de diffraction permet d'obtenir des informations structurelles sur le cristal. Les principales caractéristiques du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 sont : (1) Facile à utiliser, système de collecte en un clic ; (2) Conception modulaire, accessoires d'instruments plug and play, pas besoin d'étalonnage ; (3) Surveillance en ligne en temps réel à l'aide d'un écran tactile pour afficher l'état de l'instrument ; (4) Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection, garantissant la sécurité de l'utilisateur ; (5) Générateur de rayons X haute fréquence et haute tension, avec des performances stables et fiables ; (6) Unité de contrôle d'enregistrement avancée avec une forte capacité anti-interférence. La haute précision du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 permet une analyse de haute précision de la structure cristalline des matériaux, comme la détermination précise des constantes de réseau, des paramètres cellulaires, etc. La précision de mesure d'angle peut atteindre ± 0,0001°. La haute résolution du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 peut clairement distinguer les pics de diffraction adjacents, analyser avec précision les informations de diffraction de différents plans cristallins pour des structures cristallines complexes et révéler les caractéristiques de microstructure des matériaux. La nature non destructive du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : il n'endommagera pas l'échantillon pendant le processus de test, et l'échantillon peut être conservé dans son état d'origine pour plusieurs tests, ce qui est particulièrement important pour les échantillons précieux ou difficiles à obtenir. Analyse rapide du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : les diffractomètres à rayons X haute résolution modernes ont des capacités de détection rapides et peuvent effectuer des tests d'échantillons dans un court laps de temps, améliorant ainsi l'efficacité du travail. 3. Domaines d'application du diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 : Matériaux semi-conducteurs : utilisés pour détecter la qualité cristalline des matériaux monocristallins semi-conducteurs et des films minces épitaxiaux, analyser les discordances de réseau, les défauts et d'autres informations, ce qui contribue à optimiser les performances des dispositifs semi-conducteurs. Matériaux supraconducteurs : étudier la structure cristalline et le processus de transition de phase des matériaux supraconducteurs pour fournir une base pour l'optimisation des propriétés supraconductrices. Nanomatériaux : l’analyse de la granulométrie, de la structure cristalline, de la déformation microscopique, etc. des nanomatériaux aide les chercheurs à mieux comprendre leurs propriétés et leurs applications. Autres domaines : Il est également largement utilisé dans la recherche et le contrôle qualité des matériaux métalliques, céramiques, polymères, biomatériaux et autres. Le diffractomètre à rayons X haute résolution est un instrument d'analyse de haute précision, haute résolution, non destructif et rapide, présentant une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.

1. Fonction du diffractomètre monocristallin : Le diffractomètre monocristallin à rayons X TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique des substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non commensurables, les quasi-cristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Le diffractomètre monocristallin à rayons X peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, les liaisons hydrogène intermoléculaires et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Le diffractomètre monocristallin à rayons X est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le diffractomètre monocristallin à rayons X est un produit de haute technologie financé par le ministère des Sciences et Technologies du Projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs de Chine, dirigé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., comblant le vide dans le développement et la production de diffractomètres monocristallins en Chine. 2. Caractéristiques du diffractomètre monocristallin : L'ensemble de la machine adopte la technologie de contrôle du contrôleur logique programmable (PLC) ; Facile à utiliser, système de collecte en un clic ; Conception modulaire, accessoires plug and play, pas besoin d'étalonnage ; Surveillance en ligne en temps réel via écran tactile, affichage de l'état de l'instrument ; Générateur de rayons X haute puissance avec des performances stables et fiables ; Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection. 3. Précision du diffractomètre monocristallin : Précision de répétabilité de l'angle 2 θ : 0,0001 ° ; Angle de pas minimal : 0,0001 ° ; Plage de contrôle de température : 100 K-300 K ; Précision de contrôle : ± 0,3 K. 4. Instrument de mesure d'angle utilisé dans le diffractomètre monocristallin : L'utilisation de la technique des quatre cercles concentriques garantit que le centre de l'instrument de mesure d'angle reste inchangé, quelle que soit la rotation, ce qui permet d'obtenir des données extrêmement précises et complètes. La technique des quatre cercles concentriques est indispensable au balayage d'un diffractomètre monocristallin conventionnel. 5. Détecteur bidimensionnel à grande vitesse utilisé dans le diffractomètre monocristallin à rayons X : Le détecteur combine les technologies clés du comptage de photons uniques et de la technologie à pixels mixtes pour obtenir une qualité de données optimale tout en garantissant une faible consommation d'énergie et un refroidissement minimal. Il est utilisé dans divers domaines, tels que le rayonnement synchrotron et les sources lumineuses conventionnelles de laboratoire, éliminant efficacement les interférences dues au bruit de lecture et au courant d'obscurité. La technologie à pixels mixtes permet de détecter directement les rayons X, de faciliter la distinction du signal et de fournir des données de haute qualité. 6. Équipement à basse température utilisé dans le diffractomètre monocristallin à rayons X : Les données recueillies grâce à un équipement à basse température produisent des résultats plus optimaux. Grâce à cet équipement, des conditions plus favorables peuvent être créées pour permettre aux cristaux indésirables d'obtenir des résultats optimaux, et aux cristaux idéaux d'obtenir des résultats encore plus optimaux. Plage de contrôle de température : 100 K~300 K ; Précision de contrôle : ± 0,3 K ; Consommation d'azote liquide : 1,1~2 litres/heure ; 7. Accessoire optionnel, lentille de focalisation à film multicouche : Puissance du tube à rayons X : 30 W ou 50 W, etc. Divergence : 0,5 à 1 mrad ; Matériau cible du tube à rayons X : cible Mo/Cu ; point focal : 0,5 à 2 mm.

Le porte-échantillon rotatif d'un diffractomètre à rayons X est un élément clé pour un réglage et une fixation précis de la position de l'échantillon. Ce dernier peut pivoter sur son propre plan, ce qui est avantageux pour les erreurs dues aux grains grossiers. Pour les échantillons texturés et cristallographiques, le porte-échantillon rotatif assure une bonne reproductibilité de l'intensité de diffraction et élimine l'orientation préférentielle. Principe de fonctionnement du porte-échantillon rotatif : Lorsque le diffractomètre à rayons X fonctionne, les rayons X de haute énergie générés par la source sont irradiés sur l'échantillon fixé sur la platine rotative. En raison de la structure cristalline et des paramètres de maille spécifiques de l'échantillon, les rayons X subissent des phénomènes de diffusion, d'absorption et de diffraction lors de leur interaction avec l'échantillon, phénomènes qui se produisent conformément à l'équation de Bragg. Le porte-échantillon rotatif peut pivoter à des angles plus petits selon le réglage, permettant ainsi à l'échantillon de recevoir des rayons X sous différents angles et d'obtenir ainsi des diagrammes de diffraction sous différents angles. Ainsi, le détecteur peut mesurer l'intensité des rayons X après diffraction de l'échantillon et la convertir en signal électrique transmis à l'ordinateur pour le traitement des données. La fonction principale du porte-échantillon rotatif est : Méthode de rotation : axe β (plan d'échantillonnage) Vitesse de rotation : 1 à 60 tr/min Petite largeur de pas : 0,1 º Mode de fonctionnement : Rotation à vitesse constante pour le balayage des échantillons (étape, continu) Avantages du porte-échantillon rotatif : Le porte-échantillon rotatif peut améliorer la précision des données de diffraction : pour les échantillons de poudre ou de particules de forme irrégulière, la caractéristique d'orientation préférentielle est susceptible de se produire lors de la préparation conventionnelle des échantillons de poudre, ce qui entraîne des écarts dans la distribution de l'intensité de diffraction et affecte la précision de l'analyse des résultats. La rotation du porte-échantillon permet de déplacer l'échantillon selon une certaine forme dans un espace approprié, éliminant ainsi dans une certaine mesure l'influence de l'orientation préférentielle et améliorant ainsi la précision des données de diffraction. Le porte-échantillon rotatif s'adapte à divers besoins d'essai : il peut s'adapter à différents types d'instruments de mesure d'angle par diffraction des rayons X, tels que les instruments de mesure d'angle vertical, les équipements de diffraction sur poudre compacts à faible consommation, etc., ce qui facilite la réalisation de divers essais. De plus, il peut s'adapter aux exigences de divers échantillons et conditions d'essai en ajustant des paramètres tels que la vitesse et la direction. Le porte-échantillon rotatif peut étendre les capacités d'analyse de l'instrument : de nouveaux types de platines d'échantillons rotatives sont constamment développés et appliqués, tels que certaines platines d'échantillons pour l'analyse par diffraction électrochimique des rayons X in situ, qui peuvent surveiller et analyser les changements de matériaux dans différents environnements ou conditions en temps réel, élargissant ainsi les capacités d'analyse des équipements de diffraction des rayons X. En résumé, le porte-échantillon rotatif dans le diffractomètre à rayons X est essentiel pour obtenir avec précision des informations sur la structure cristalline des substances. Le porte-échantillon rotatif peut non seulement améliorer la précision des données de diffraction, mais également s'adapter à divers besoins de test et étendre les capacités analytiques de l'instrument.

Dans le diffractomètre à rayons X, les accessoires de mesure intégrés multifonctions sont essentiels pour améliorer considérablement la fonctionnalité et la flexibilité de l'instrument. Utilisés pour l'analyse des films sur cartes, blocs et substrats, ils permettent d'effectuer des tests tels que la détection de phase cristalline, l'orientation, la texture, la contrainte et la structure plane des films minces. Aperçu de base des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Définition : Il s'agit d'un terme général désignant une série de dispositifs ou de modules supplémentaires utilisés dans un diffractomètre à rayons X pour étendre les fonctions de l'instrument, améliorer la précision et l'efficacité des mesures. Objectif : Ces accessoires visent à permettre au diffractomètre à rayons X de répondre à une plus large gamme de besoins expérimentaux et de fournir des informations plus complètes et plus précises sur la structure des matériaux. Les caractéristiques fonctionnelles des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Effectuer des tests de diagramme polaire en utilisant des méthodes de transmission ou de réflexion ; Les tests de résistance peuvent être effectués soit en utilisant la méthode d’inclinaison parallèle, soit en utilisant la même méthode d’inclinaison ; Test de couche mince (rotation dans le plan de l'échantillon). Caractéristiques techniques des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Haute précision : ils utilisent généralement une technologie de détection et des systèmes de contrôle avancés pour garantir une haute précision et une répétabilité des mesures. Automatisation : de nombreux accessoires prennent en charge les opérations automatisées et peuvent être intégrés de manière transparente à l'hôte du diffractomètre à rayons X pour réaliser une mesure en un clic. Conception modulaire : permet aux utilisateurs de sélectionner et de combiner différents modules d'accessoires en fonction de leurs besoins réels. Domaines d'application des accessoires de mesure intégrés multifonctionnels : Largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie, la biologie et la géologie ; Évaluation des structures d'assemblage métalliques telles que les plaques laminées ; Evaluation de l'orientation de la céramique ; Évaluation de l'orientation prioritaire des cristaux dans des échantillons de films minces ; Essais de contraintes résiduelles de divers matériaux métalliques et céramiques (évaluation de la résistance à l'usure, de la résistance à la coupe, etc.) ; Essais de contraintes résiduelles de films multicouches (évaluation du décollement du film, etc.) ; Analyse de l'oxydation de surface et des films de nitrure sur des matériaux supraconducteurs à haute température tels que des films minces et des plaques métalliques ; Verre Si, Analyse de films multicouches sur substrats métalliques (films minces magnétiques, films durcissants de surface métalliques, etc.) ; Analyse de matériaux de galvanoplastie tels que les matériaux macromoléculaires, le papier et les lentilles. Les accessoires de mesure multifonctionnels intégrés au diffractomètre à rayons X sont essentiels pour améliorer les performances de l'instrument. Ils optimisent non seulement les fonctionnalités de l'instrument, mais aussi la précision et l'efficacité des mesures, offrant aux chercheurs des méthodes d'analyse des matériaux plus complètes et plus approfondies. Grâce aux progrès technologiques constants, ces accessoires continueront de jouer un rôle important dans la promotion de la recherche scientifique dans des domaines connexes et permettront de nouvelles avancées.

Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise un nouveau détecteur matriciel haute performance, et le chargement de ce détecteur a considérablement amélioré les performances globales de la machine. Le XRD de table TDM-20 est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le diffractomètre à rayons X de table TDM-20 utilise le principe de la diffraction des rayons X pour effectuer des analyses qualitatives ou quantitatives, des analyses de structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que des échantillons de poudre et des échantillons de métal. Le XRD de table est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances tels que des détecteurs à réseau unidimensionnel à grande vitesse, des détecteurs bidimensionnels, des détecteurs SDD, etc. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 intègre une analyse rapide, un fonctionnement pratique et la sécurité de l'utilisateur. L'architecture matérielle modulaire et le système logiciel personnalisé permettent d'obtenir une combinaison parfaite, ce qui rend son taux de défaillance extrêmement faible, ses performances anti-interférences bonnes et garantit un fonctionnement stable à long terme de l'alimentation haute tension. Le diffractomètre à rayons X TD-3700 peut augmenter l'intensité du calcul de diffraction de plusieurs dizaines de fois ou plus, obtenir des motifs de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution et une intensité de comptage plus élevée dans une période d'échantillonnage plus courte, et prend également en charge la numérisation des données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire.

Le diffractomètre à rayons X monocristallin TD-5000 est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non proportionnés, les quasi-cristaux, etc. Déterminez l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) de nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; Il peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, la liaison hydrogène intermoléculaire et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Le diffractomètre à rayons X monocristallin est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux. Le XRD monocristallin est un produit de haute technologie issu du projet national de développement d'instruments et d'équipements scientifiques majeurs du ministère de la Science et de la Technologie, dirigé par Dandong Tongda Technology Co., Ltd., comblant le vide dans le développement et la production de diffractomètre à rayons X monocristallin en Chine.

Le diffractomètre à rayons X sur poudre est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation cristalline, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la granulométrie, la détermination de la cristallinité, etc. d'échantillons de poudre, de blocs ou de films. Le diffractomètre à rayons X TD-3500 produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopte un contrôle PLC Siemens importé, ce qui confère au diffractomètre à rayons X TD-3500 les caractéristiques de haute précision, de haute précision, de bonne stabilité, de longue durée de vie, de mise à niveau facile, d'utilisation simple et d'intelligence, et peut s'adapter de manière flexible aux analyses de test et à la recherche dans diverses industries !

Le diffractomètre à rayons X TD-3700 est un diffractomètre à rayons X hautes performances et multifonctionnel produit par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Ses principales caractéristiques sont des détecteurs hautes performances, diverses méthodes de balayage, un fonctionnement pratique et sûr, des performances stables et fiables. Pour plus de détails, veuillez vous référer au site Web de Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

Le diffractomètre à rayons X haute puissance TDM-20 (DRX de paillasse) est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux similaires de type pâte. Le principe de la diffraction des rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons de métal. Il est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.