L'analyse des données de diffraction des rayons X (DRX) sur ordinateur nécessite des étapes telles que le prétraitement, l'identification des pics et l'analyse des paramètres pour extraire des informations sur la structure cristalline à partir de diagrammes complexes, ce qui requiert des connaissances d'expert et des compétences continues.

Les diffractomètres à rayons X de paillasse sont essentiels au contrôle qualité, car ils permettent une analyse précise et non destructive de la structure cristalline, de la composition et des contraintes des matériaux. Ils facilitent la détection des défauts, l'optimisation des procédés et l'analyse des défaillances en R&D et en production, améliorant ainsi l'efficacité, la fiabilité et la conformité.

Ce guide détaille la maintenance essentielle des systèmes de diffraction des rayons X de paillasse, notamment la génération de rayons X, l'optique, les détecteurs et la sécurité. Un entretien régulier garantit la précision, prévient les pannes et prolonge la durée de vie de l'équipement. Le diffractomètre de rayons X de paillasse TDM-20 de Dandong Tongda Technology répond à tous vos besoins analytiques.

Le diffractomètre de paillasse TDM-20 redéfinit les normes de performance grâce à son processeur de 1 200 W, soit le double de la puissance standard. Il permet ainsi des analyses plus rapides et plus précises, de la R&D au contrôle qualité, dans les secteurs pharmaceutique, des sciences des matériaux, minier et de la sécurité alimentaire.