Le TD-3700 est un diffractomètre à rayons X de nouvelle génération doté d'un détecteur matriciel haute vitesse offrant une intensité nettement supérieure et une analyse rapide et sans bruit. Son mode transmission est particulièrement performant pour les échantillons à l'état de traces. Modulaire et intuitif, il garantit une utilisation simple et une conformité aux normes internationales pour diverses applications de laboratoire à travers le monde.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 offre des performances analytiques exceptionnelles grâce à une technologie de détection innovante et à deux modes de balayage. Doté d'une acquisition de données rapide, d'une utilisation intuitive et d'une sécurité renforcée, il permet une analyse précise des matériaux dans les domaines de la recherche et de l'industrie, établissant ainsi de nouvelles normes pour les instruments scientifiques chinois.

Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700, doté de tous les avantages du diffractomètre à rayons X TD-3500, est équipé d'un détecteur matriciel hautes performances. Par rapport aux détecteurs à scintillation ou aux détecteurs proportionnels, l'intensité de calcul de diffraction peut être augmentée de plusieurs dizaines de fois et des diagrammes de diffraction complets à haute sensibilité et haute résolution ainsi qu'une intensité de comptage plus élevée peuvent être obtenus dans une période d'échantillonnage plus courte. Le diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700 prend en charge à la fois les méthodes de numérisation de données de diffraction conventionnelles et les méthodes de numérisation de données de transmission. La résolution du mode de transmission est bien supérieure à celle du mode de diffraction, ce qui convient à l'analyse structurelle et à d'autres domaines. Le mode de diffraction a des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase de routine en laboratoire. De plus, en mode de transmission, l'échantillon de poudre peut être présent en quantités infimes, ce qui convient à l'acquisition de données dans les cas où la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation de l'échantillon.