arrière-plan

Nouvelles

Caractéristiques de l'instrument de diffraction des rayons X de la technologie Tongda

Le diffractomètre à rayons X est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative de phase, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, l'analyse de l'orientation des cristaux, la détermination des contraintes macroscopiques ou microscopiques, la détermination de la taille des grains, la détermination de la cristallinité, etc.

2024/09/13
LIRE LA SUITE
Obtenez le dernier prix? Nous répondrons dès que possible (dans les 12 heures)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required