Les accessoires correspondants peuvent être configurés pour une diffraction à petit angle, et la plage d'angle de 0 ° à 5 ° peut être utilisée pour tester l'épaisseur des films nano multicouches.

Le diffractomètre monocristallin à rayons X est principalement utilisé pour déterminer la structure spatiale tridimensionnelle et la densité du nuage électronique de substances cristallines telles que les complexes inorganiques, organiques et métalliques, et pour analyser la structure de matériaux spéciaux tels que le maclage, les cristaux non proportionnés, les quasicristaux, etc. Déterminer l'espace tridimensionnel précis (y compris la longueur de liaison, l'angle de liaison, la configuration, la conformation et même la densité électronique de liaison) des nouvelles molécules composées (cristallines) et la disposition réelle des molécules dans le réseau ; il peut fournir des informations sur les paramètres de la cellule cristalline, le groupe spatial, la structure moléculaire cristalline, les liaisons hydrogène intermoléculaires et les interactions faibles, ainsi que des informations structurelles telles que la configuration et la conformation moléculaires. Il est largement utilisé dans la recherche analytique en cristallographie chimique, biologie moléculaire, pharmacologie, minéralogie et science des matériaux.

L'analyseur de cristaux à rayons X de la série TD est un instrument d'analyse à grande échelle utilisé pour étudier la microstructure interne des matériaux. Il est principalement utilisé pour l'orientation de produits uniques, l'inspection des défauts, la détermination des paramètres de réseau, la détermination des contraintes résiduelles, l'étude de la structure des plaques et des tiges et l'investigation de la structure de substances inconnues et de dislocations monocristallines.