Le monochromateur à cristal incurvé en graphite est installé devant le détecteur de rayons X, qui monochromatise les rayons X traversant la fente de réception et détecte uniquement les accessoires de diffractomètre à rayons X caractéristiques K α du spectre de rayons X. En utilisant cet appareil, les rayons X continus, les rayons X caractéristiques K β et les rayons X fluorescents peuvent être complètement éliminés, ce qui permet une analyse par diffraction des rayons X à rapport signal/bruit élevé. Lorsque des tubes à rayons X à cible en cuivre sont utilisés en conjonction avec les monochromateurs correspondants, les rayons X fluorescents générés à partir d'échantillons à base de Mn, Fe, Co, Ni peuvent être éliminés, ce qui les rend adaptés à l'analyse de divers échantillons.

Le monochromateur à cristal incurvé en graphite est un accessoire d'instrument important pour l'analyse par diffraction des rayons X, principalement utilisé pour monochromatiser les rayons X traversant la fente de réception, améliorant ainsi la précision et le rapport signal/bruit de l'analyse. Ce monochromateur utilise la structure spécifique des cristaux de graphite pour réfléchir sélectivement les rayons X incidents, permettant uniquement aux rayons X de longueurs d'onde spécifiques (généralement les rayons X caractéristiques Kα) de passer tout en filtrant les autres composants de rayons X indésirables tels que les rayons X continus, les rayons X caractéristiques Kβ et les rayons X fluorescents. Cette réflexion sélective est basée sur la loi de Bragg, qui stipule que lorsque l'angle entre la lumière incidente et le plan cristallin satisfait certaines conditions, une diffusion cohérente se produit, formant des pics de diffraction. Lors de l'utilisation de ce monochromateur, une attention particulière doit être portée à la préparation et au placement de l'échantillon pour garantir la précision et la symétrie des pics de diffraction. Les monochromateurs à cristal incurvé en graphite sont largement utilisés dans les domaines de la recherche sur les matériaux tels que la chimie, le génie chimique, les machines, la géologie, les minéraux, la métallurgie, les matériaux de construction, la céramique, la pétrochimie et les produits pharmaceutiques. Dans ces domaines, il est utilisé pour l'analyse par diffraction des rayons X afin d'étudier les propriétés physiques des matériaux tels que la structure cristalline, la transition de phase, l'état de contrainte, etc. Les accessoires de diffractomètre à rayons X améliorent considérablement la précision et la fiabilité de l'analyse en augmentant le rapport pic/arrière-plan et en réduisant le bruit de fond.

Un monochromateur est un composant installé devant un détecteur de rayons X, qui monochromatise les rayons X traversant une fente de réception et détecte uniquement les rayons X caractéristiques K α dans le spectre des rayons X. En utilisant ce dispositif, les rayons X continus, les rayons X caractéristiques K β et les rayons X fluorescents peuvent être complètement éliminés, ce qui permet une analyse par diffraction des rayons X à rapport signal/bruit élevé. Lorsque des tubes à rayons X à cible en cuivre sont utilisés en conjonction avec les monochromateurs correspondants, les rayons X fluorescents générés à partir d'échantillons à base de Mn, Fe, Co, Ni peuvent être éliminés, ce qui les rend adaptés à l'analyse de divers échantillons. L'utilisation d'un monochromateur à cristal courbé en graphite peut améliorer le rapport pic/arrière-plan, réduire l'arrière-plan, améliorer la résolution des pics faibles, atteindre une efficacité de réflexion de n ≥ 35 % et réduire l'angle de diffraction du diffractomètre. Degré d'encastrement ≤ 0,55 ; la surface du cristal peut s'incliner de ± 2 degrés.

L'instrument de mesure d'angle multifonctionnel de haute précision de Tongda Technology peut non seulement mesurer des échantillons de poudre conventionnels, mais également tester des échantillons liquides, des échantillons colloïdaux, des échantillons visqueux, des poudres en vrac et de gros échantillons solides.

La diffraction des rayons X est le moyen le plus efficace et le plus largement utilisé, et la diffraction des rayons X est la première méthode utilisée par l'homme pour étudier la microstructure de la matière.