L'analyseur d'orientation des rayons X est un appareil qui utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer l'orientation des cristaux. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie, la physique, etc., pour étudier la structure cristalline, les paramètres du réseau, les défauts cristallins, etc. Le principe de fonctionnement d'un analyseur d'orientation des rayons X consiste à irradier un faisceau de rayons X monochromatique sur le cristal testé. Lorsque les rayons X interagissent avec les atomes du cristal, une diffusion se produit. Selon la loi de Bragg, lorsque la longueur d'onde des rayons X est un multiple entier de l'espacement atomique dans un cristal, la lumière diffusée interfère et forme une série de bandes alternées claires et sombres, appelées réflexions de Bragg. En mesurant les angles et les intensités de ces réflexions de Bragg, des informations telles que l'orientation du cristal et les paramètres du réseau peuvent être calculées. L'analyseur d'orientation des rayons X comprend généralement les éléments principaux suivants : 1. Source de rayons X : un dispositif qui produit des rayons X monochromatiques, généralement à l'aide d'un tube à rayons X ou d'une source de rayonnement synchrotron. 2. Étape d'échantillonnage : une plate-forme utilisée pour placer le cristal à tester, qui peut ajuster la position et l'angle du cristal. 3. Détecteur : utilisé pour recevoir les rayons X diffusés et les convertir en signaux électriques. Les détecteurs courants comprennent les compteurs à scintillation, les compteurs proportionnels, etc. 4. Système d'acquisition et de traitement des données : utilisé pour collecter les signaux émis par les détecteurs et effectuer le traitement et l'analyse des données. Comprend généralement des analyseurs multicanaux, des ordinateurs et d'autres équipements. 5. Système de contrôle : utilisé pour contrôler le mouvement de la source de rayons X, de la platine d'échantillonnage et du détecteur pour réaliser la mesure des cristaux dans différentes directions. En utilisant un analyseur d'orientation à rayons X, les chercheurs peuvent déterminer avec précision l'orientation et les paramètres de réseau des cristaux, acquérant ainsi une compréhension plus approfondie de leur structure et de leurs propriétés. Cela revêt une grande importance pour le développement de nouveaux matériaux, l'exploration géologique, la croissance cristalline et d'autres domaines.

Utilisation de la méthode de diffraction (transmission) des rayons X pour tester la structure cristalline unique des fibres. Testez l’orientation de l’échantillon en fonction de données telles que la texture des fibres et la largeur du demi-pic.

La technologie XRD joue un rôle important dans la recherche et le développement de matériaux céramiques. Il fournit une base scientifique fiable pour la synthèse, l’optimisation des processus de préparation, l’amélioration des performances et la vulgarisation des applications des matériaux céramiques.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un instrument indispensable pour le traitement de précision et la fabrication d'appareils à cristaux. Il est largement utilisé dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins.

La technologie Micro-ct présente des avantages significatifs dans la caractérisation des céramiques, qui peuvent révéler la structure composite à l'intérieur du matériau sans dommage et restaurer la technologie clé dans la production de céramiques.

Le liant est un composé polymère utilisé dans la fabrication d’électrodes pour faire adhérer la substance active au fluide collecteur. La fonction principale est de lier et de maintenir les substances actives.

En utilisant le principe de diffraction des rayons X, l'angle de coupe des monocristaux naturels et artificiels est déterminé avec précision et rapidité, et la machine de découpe est équipée pour la coupe directionnelle desdits cristaux.