Dans le domaine des technologies modernes, de nombreux produits de haute technologie – des substrats d'écrans de smartphones aux composants de base des générateurs laser – reposent sur un matériau fondamental : les monocristaux synthétiques. La précision de l'angle de coupe de ces cristaux détermine directement les performances et le rendement des produits finaux. L'analyseur d'orientation des rayons X est un instrument indispensable à la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Utilisant le principe de la diffraction des rayons X, il mesure avec précision et rapidité les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques, notamment les cristaux piézoélectriques, optiques, laser et semi-conducteurs. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. propose une gamme d'analyseurs d'orientation de rayons X fiables adaptés aux besoins de recherche, de traitement et de fabrication de l'industrie des matériaux cristallins. 01 Machine polyvalente pour divers besoins d'orientation des cristaux Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda comprennent principalement des modèles tels que le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200 offre une précision de mesure de ±30″, avec un affichage numérique et une lecture minimale de 10″. Le modèle TYX-2H8 est une version améliorée du TYX-200, intégrant des améliorations au niveau de la structure du goniomètre, du rail porteur, du manchon du tube à rayons X, du corps de support et d'une platine porte-échantillon surélevée. Ces améliorations permettent au TYX-2H8 de traiter des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Il conserve un affichage numérique de l'angle et une précision de mesure de ±30″. 02 Fonctionnalités techniques avancées pour une utilisation conviviale Les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda sont conçus pour être pratiques et fiables. Leur utilisation conviviale ne requiert aucune connaissance ni compétence particulière de la part de l'opérateur. L'instrument est doté d'un affichage numérique de l'angle, garantissant des mesures intuitives et faciles à lire, tout en minimisant les risques d'erreur de lecture. L'affichage peut être remis à zéro à n'importe quelle position, permettant une lecture directe de l'écart d'angle de la plaquette. Certains modèles sont équipés de deux goniomètres pour un fonctionnement simultané, améliorant ainsi considérablement l'efficacité de la détection. Un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision des mesures. Le tube à rayons X et le câble haute tension adoptent une conception intégrée, améliorant la fiabilité de la haute tension. Le système haute tension du détecteur utilise un module haute tension CC, et la platine d'échantillonnage à aspiration sous vide améliore encore la précision et la rapidité des mesures. 03 Conceptions d'échantillons dédiés pour divers besoins de test Pour répondre aux exigences de mesure d'échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda propose une variété de platines d'échantillonnage spécialisées : Platine d'échantillonnage TA : Conçue pour les cristaux en forme de tige, elle est dotée d'une piste porteuse et permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces). Cette platine permet de mesurer les surfaces de référence des cristaux en forme de tige ainsi que celles des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TB : Conçue également pour les cristaux en forme de tige, elle comprend un rail porteur et des rails de support en V. Elle permet de tester des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg, d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces) et d'une longueur maximale de 500 mm. Elle mesure les extrémités des cristaux en forme de tige et les surfaces des cristaux en forme de plaquette. Platine d'échantillonnage TC : Principalement utilisée pour la détection des surfaces de référence externes des wafers monocristallins tels que le silicium et le saphir. Sa plaque d'aspiration ouverte évite l'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement. La pompe d'aspiration de la platine maintient fermement les wafers de 5 à 20 cm, garantissant une détection précise. ​ Platine d'échantillonnage TD : conçue pour les mesures multipoints de wafers tels que le silicium et le saphir. Les wafers peuvent être pivotés manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux besoins spécifiques du client. 04 Modèle haute performance pour les défis liés aux grands échantillons Pour la détection d'échantillons volumineux et complexes, les analyseurs d'orientation à rayons X de Dandong Tongda offrent des performances exceptionnelles. Le modèle TYX-2H8, par exemple, est particulièrement adapté à l'orientation des lingots et des tiges de cristal de saphir. Cet instrument permet de mesurer les orientations des cristaux de saphir A, C, M et R, avec une plage de mesure réglable de 0 à 45° par automatisation électrique. Ses spécifications techniques sont impressionnantes : Tube à rayons X à cible en cuivre avec anode mise à la terre et refroidissement par air forcé. Courant du tube réglable : 0–4 mA ; tension du tube : 30 kV. Fonctionnement via ordinateur ou commande par écran tactile. Mouvement synchronisé du tube à rayons X et du détecteur ; table rotative à entraînement électrique. Consommation électrique totale : ≤2 kW. Sa capacité de traitement d'échantillons comprend notamment des lingots de cristal pesant jusqu'à 30 à 180 kg, avec des dimensions maximales de 350 mm de diamètre et 480 mm de longueur. Ces capacités le rendent idéal pour la détection d'échantillons volumineux dans la plupart des scénarios industriels. 05 Applications étendues prenant en charge de multiples industries Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont largement utilisés dans diverses industries impliquées dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins. Dans l'industrie des semi-conducteurs, ils permettent une découpe d'orientation précise des plaquettes de silicium. Dans le domaine de l'optoélectronique, ils sont utilisés pour le traitement de précision des substrats de saphir, des cristaux optiques et des cristaux laser. Dans le secteur des matériaux piézoélectriques, ils garantissent des mesures précises de l'angle de coupe pour des performances stables du produit final. Ces instruments sont particulièrement adaptés aux matériaux en saphir, très recherchés pour leur dureté, leur haute transmission lumineuse et leur excellente stabilité physico-chimique. Le saphir est largement utilisé dans les substrats LED, les écrans d'électronique grand public et les fenêtres optiques. Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda sont devenus des outils essentiels dans les domaines de la recherche et de la fabrication de matériaux cristallins en Chine, grâce à leurs performances fiables, leurs configurations diverses et leur forte adaptabilité. Leur conception modulaire et la variété des options d'étages d'échantillonnage permettent aux utilisateurs de sélectionner des configurations qui répondent à des besoins spécifiques, garantissant une précision de détection élevée tout en améliorant l'efficacité du travail. Qu'ils soient destinés aux institutions de recherche ou au contrôle de la qualité de fabrication et à l'optimisation des processus, ces instruments fournissent un support technique robuste, permettant aux utilisateurs de réaliser des percées dans la fabrication de précision.

Approuvé dans le monde entier : l'analyseur d'orientation des rayons X de Dandong Tongda obtient des certifications multinationales Dans le contexte actuel d'évolution rapide du secteur mondial des semi-conducteurs, des dispositifs optiques et de la science des matériaux, la mesure précise de l'orientation des cristaux est devenue cruciale pour améliorer la qualité des produits et l'efficacité de la production. Spécialiste en développement et fabrication d'instruments d'analyse par rayons X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. annonce le lancement de son analyseur d'orientation par rayons X haute performance. Cet instrument intègre une technologie avancée de diffraction des rayons X et des algorithmes intelligents, offrant des solutions de mesure d'orientation rapides et précises aux industries du cristal du monde entier. Principe technique : l'intégration parfaite de la diffraction des rayons X et de la mesure de précision L'analyseur d'orientation des rayons X fonctionne selon la loi de diffraction de Bragg. Lorsque les rayons X frappent la surface du cristal, les plans atomiques régulièrement disposés à l'intérieur génèrent des phénomènes de diffraction à des angles spécifiques. En captant ces signaux de diffraction à l'aide de détecteurs de précision et en calculant les angles de diffraction, l'instrument peut déterminer avec précision l'orientation du cristal, fournissant ainsi des données fiables pour la découpe et le traitement ultérieurs. Comparée aux méthodes d'orientation traditionnelles, la technologie d'orientation des cristaux par rayons X offre des avantages significatifs : non destructive, haute précision et haute efficacité, garantissant des résultats de mesure fiables sans endommager l'échantillon. L'instrument atteint une précision de mesure de ±30 secondes d'arc (±30″), avec une lecture minimale de 10 secondes d'arc, répondant ainsi aux exigences d'orientation de la grande majorité des matériaux cristallins. Gamme de produits : Solutions complètes pour divers besoins d'application Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology comprennent principalement deux modèles fondamentaux : le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200, version de base, est doté d'un écran numérique d'une largeur minimale de 10 pouces et d'une précision de mesure de ±30 pouces, ce qui le rend idéal pour les besoins courants d'orientation des matériaux cristallins. Le modèle TYX-2H8 est une mise à niveau complète du TYX-200, avec une structure de goniomètre améliorée, des rails porteurs optimisés et une platine porte-échantillon surélevée. Le TYX-2H8 peut mesurer des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Certaines configurations peuvent même être étendues pour traiter des échantillons de 30 à 180 kg, de diamètres allant jusqu'à 350 mm et de longueurs allant jusqu'à 480 mm. Pour les besoins de recherche plus complexes, la société propose également les analyseurs d'orientation à rayons X de la série TDF, qui utilisent une technologie de contrôle PLC importée, offrent une plage de tension de tube de 10 à 60 kV et offrent des fonctionnalités plus étendues, notamment l'orientation des monocristallins, la détection des défauts et la détermination des paramètres de réseau. Applications fonctionnelles : un outil essentiel pour le traitement des cristaux dans de nombreux secteurs L'analyseur d'orientation à rayons X permet de déterminer précisément et rapidement les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques et, en coordination avec les machines de coupe, de réaliser une coupe orientée. C'est un instrument indispensable pour l'usinage et la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Dans l'industrie des semi-conducteurs, il est largement utilisé pour l'inspection des lingots, des plaquettes et des puces, contrôlant des processus tels que la coupe, le meulage et le polissage afin de garantir des performances constantes des dispositifs semi-conducteurs. Pour le traitement des cristaux optiques et laser, l'instrument permet de déterminer avec précision l'orientation des cristaux, garantissant ainsi la conformité des performances optiques des dispositifs optiques aux exigences de conception et améliorant le rendement. Particulièrement adapté au traitement des cristaux saphir, l'instrument répond simultanément aux exigences de mesure des orientations A, C, M et R des cristaux saphir, grâce à une plage de mesure réglable électriquement de 0 à 45°, s'adaptant ainsi aux besoins de traitement complexes. Dans l'industrie de la bijouterie et des pierres précieuses, l'instrument assure une orientation précise des pierres précieuses, améliorant ainsi la précision de la taille et la valeur des produits finis, aidant ainsi les fabricants à optimiser les effets optiques et la valeur commerciale des pierres précieuses. Caractéristiques du produit : La conception innovante améliore l'expérience utilisateur Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology intègrent plusieurs fonctionnalités innovantes qui améliorent considérablement la praticité et la fiabilité de l'instrument. Utilisation facile : l'instrument peut être utilisé sans connaissances professionnelles ni compétences approfondies, ce qui réduit la barrière à l'utilisation et réduit le temps de formation du personnel. Affichage numérique : L'affichage numérique de l'angle permet une observation intuitive, réduit les erreurs de lecture et peut être mis à zéro à n'importe quelle position, facilitant l'affichage direct de l'écart d'angle de la plaquette. Conception efficace : certains modèles sont équipés de goniomètres doubles qui peuvent fonctionner simultanément, améliorant considérablement l'efficacité de l'inspection. Précision améliorée : un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision de la détection et une plaque d'échantillon à aspiration sous vide assure un positionnement stable de l'échantillon. Fiabilité et durabilité : La conception intégrée du tube à rayons X et du câble haute tension améliore la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension utilise un module haute tension CC, garantissant un fonctionnement stable à long terme. Protection de sécurité : L'instrument utilise un verre au plomb haute densité et haute transmittance comme écran de protection contre les rayons X. La dose de rayonnement externe ne dépasse pas 0,1 µSv/h, conformément aux normes de sécurité internationales. Configuration de l'étage d'échantillonnage : adaptation flexible aux divers besoins de mesure Pour répondre aux exigences de mesure pour des échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda Technology propose différentes configurations de platines d'échantillonnage : Platine d'échantillonnage de type TA : Conçue spécifiquement pour les tiges de cristal cylindriques, elle est équipée de rails porteurs. Elle permet de mesurer des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces), ainsi que la surface de référence de cristaux en forme de tige ou de plaquettes de cristal en forme de feuille. Platine d'échantillonnage de type TB : également conçue pour les tiges de cristal cylindriques, elle intègre des rails de support en forme de V et peut mesurer des tiges de cristal jusqu'à 500 mm de longueur, ce qui la rend particulièrement adaptée à la mesure des faces d'extrémité des cristaux en forme de tige. Platine d'échantillonnage de type TC : Principalement utilisée pour détecter la surface de référence de la circonférence extérieure des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa conception ouverte élimine les problèmes d'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement dues aux plaques d'aspiration. Platine d'échantillonnage de type TD : Conçue spécifiquement pour la mesure multipoint de wafers tels que le silicium et le saphir. La plaquette peut être tournée manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux exigences de mesure spécifiques du client. Marché mondial : permettre aux clients internationaux de réaliser des avancées technologiques Les produits de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ont réussi leur entrée sur le marché international et sont exportés vers de nombreux pays et régions, dont les États-Unis, la Corée du Sud, l'Iran, l'Azerbaïdjan, l'Irak et la Jordanie. Fidèle à ses principes « Le client avant tout, le produit avant tout, le service avant tout », l'entreprise fournit aux utilisateurs du monde entier des produits high-tech de haute qualité et un support technique complet. Pour ses clients étrangers, l'entreprise propose un service complet de conseil technique et d'après-vente, incluant la formation opérationnelle, la maintenance et la fourniture de pièces détachées, garantissant ainsi la satisfaction des utilisateurs. Pour répondre aux besoins de ses clients de différentes régions, l'entreprise propose également des solutions personnalisées, notamment la conception de platines d'échantillonnage spécifiques et le réglage du logiciel de mesure, garantissant ainsi une adaptation parfaite de l'instrument à des scénarios d'application spécifiques. Des interfaces d'utilisation multilingues et une documentation technique détaillée en anglais simplifient l'utilisation pour les clients étrangers et améliorent l'expérience utilisateur internationale. L'analyseur d'orientation à rayons X de Dandong Tongda Technology n'est pas un simple outil de mesure, mais un partenaire stratégique pour améliorer la compétitivité des entreprises. Il permet de raccourcir considérablement le cycle de R&D des matériaux cristallins, d'optimiser les processus de production, de garantir la qualité des produits et de créer une valeur tangible pour l'industrie mondiale de la cristallisation. Que ce soit pour la fabrication de puces semi-conductrices, le traitement de composants optiques ou la recherche sur de nouveaux matériaux, choisir Dandong Tongda Technology, c'est opter pour une solution d'orientation cristalline fiable, efficace et précise.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un appareil qui utilise le principe de diffraction des rayons X pour déterminer la structure cristalline, l'orientation et les paramètres du réseau. Il a une large gamme d'applications dans la science des matériaux, la géologie, la physique et la chimie, en particulier dans l'étude de la microstructure et des propriétés des matériaux monocristallins, polycristallins et des matériaux à couches minces. Ce qui suit fournira une introduction détaillée au principe de fonctionnement, à l'application et aux précautions opérationnelles de l'orienteur de cristal à rayons X. Avec l'avancement de la technologie, les instruments d'orientation automatique des rayons X continuent de s'améliorer, avec une résolution plus élevée et une utilisation plus facile. Dans le même temps, la combinaison avec d'autres techniques d'analyse telles que la microscopie électronique et l'analyse spectroscopique rend l'analyse de la structure cristalline plus complète et plus approfondie. De plus, des appareils d'analyse d'orientation des rayons X portables et de surveillance en ligne se sont progressivement développés, offrant des possibilités d'analyse sur site et de surveillance en temps réel. En résumé, l'analyseur d'orientation des rayons X est un outil d'analyse puissant, essentiel pour comprendre et contrôler la microstructure des matériaux. Avec le développement continu de la technologie, son application dans divers domaines deviendra plus étendue et plus approfondie.

L'analyseur d'orientation des rayons X est un appareil qui utilise le principe de la diffraction des rayons X pour déterminer l'orientation des cristaux. Il est largement utilisé dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie, la physique, etc., pour étudier la structure cristalline, les paramètres du réseau, les défauts cristallins, etc. Le principe de fonctionnement d'un analyseur d'orientation des rayons X consiste à irradier un faisceau de rayons X monochromatique sur le cristal testé. Lorsque les rayons X interagissent avec les atomes du cristal, une diffusion se produit. Selon la loi de Bragg, lorsque la longueur d'onde des rayons X est un multiple entier de l'espacement atomique dans un cristal, la lumière diffusée interfère et forme une série de bandes alternées claires et sombres, appelées réflexions de Bragg. En mesurant les angles et les intensités de ces réflexions de Bragg, des informations telles que l'orientation du cristal et les paramètres du réseau peuvent être calculées. L'analyseur d'orientation des rayons X comprend généralement les éléments principaux suivants : 1. Source de rayons X : un dispositif qui produit des rayons X monochromatiques, généralement à l'aide d'un tube à rayons X ou d'une source de rayonnement synchrotron. 2. Étape d'échantillonnage : une plate-forme utilisée pour placer le cristal à tester, qui peut ajuster la position et l'angle du cristal. 3. Détecteur : utilisé pour recevoir les rayons X diffusés et les convertir en signaux électriques. Les détecteurs courants comprennent les compteurs à scintillation, les compteurs proportionnels, etc. 4. Système d'acquisition et de traitement des données : utilisé pour collecter les signaux émis par les détecteurs et effectuer le traitement et l'analyse des données. Comprend généralement des analyseurs multicanaux, des ordinateurs et d'autres équipements. 5. Système de contrôle : utilisé pour contrôler le mouvement de la source de rayons X, de la platine d'échantillonnage et du détecteur pour réaliser la mesure des cristaux dans différentes directions. En utilisant un analyseur d'orientation à rayons X, les chercheurs peuvent déterminer avec précision l'orientation et les paramètres de réseau des cristaux, acquérant ainsi une compréhension plus approfondie de leur structure et de leurs propriétés. Cela revêt une grande importance pour le développement de nouveaux matériaux, l'exploration géologique, la croissance cristalline et d'autres domaines.

L'instrument d'orientation automatique des rayons X est un instrument indispensable pour le traitement de précision et la fabrication d'appareils à cristaux. Il est largement utilisé dans la recherche, le traitement et la fabrication de matériaux cristallins.

La technologie Micro-ct présente des avantages significatifs dans la caractérisation des céramiques, qui peuvent révéler la structure composite à l'intérieur du matériau sans dommage et restaurer la technologie clé dans la production de céramiques.

Le liant est un composé polymère utilisé dans la fabrication d’électrodes pour faire adhérer la substance active au fluide collecteur. La fonction principale est de lier et de maintenir les substances actives.