La diffusion des rayons X aux petits angles est la diffusion diffuse des électrons vers les rayons X dans la plage des petits angles près du faisceau d'origine. La diffusion aux petits angles se produit dans tous les matériaux présentant une densité électronique non uniforme à l’échelle nanométrique.

La diffraction des rayons X aux petits angles (SAXD) est principalement utilisée pour déterminer l'espacement de très grandes faces cristallines ou la structure de films minces.

La diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) est une technologie qui collecte les signaux diffusés générés par les rayons X traversant un échantillon pour étudier les informations structurelles d'un échantillon dans la plage de 1 à 100 nm.

Le diffractomètre à rayons X est un appareil qui utilise le principe d'interaction entre les rayons X et les substances pour obtenir des informations telles que la structure cristalline et la constante de réseau des substances en mesurant l'angle de diffraction et l'intensité des rayons X dans les substances.