Spectromètre Dandong Tongda XAFS : un outil d'analyse de la structure des matériaux pour le laboratoire

Spectromètre Dandong Tongda XAFS : un outil d'analyse de la structure des matériaux pour le laboratoire Analyse précise de la structure du matériau atomique sans dépendance aux sources de rayonnement synchrotron. La spectroscopie de structure fine par absorption des rayons X (XAFS) est une technique importante pour étudier les structures atomiques et électroniques locales des matériaux, avec de larges applications en catalyse, en recherche énergétique et en science des matériaux. La méthodologie XAFS conventionnelle repose principalement sur des sources de rayonnement synchrotron, ce qui présente des défis tels qu'une disponibilité limitée du faisceau, des procédures d'application complexes et la nécessité de transporter les échantillons vers des installations scientifiques de grande envergure pour analyse. La structure fine d'absorption des rayons X développée par Dandong Tongda Technology Co., Ltd. vise à intégrer cette capacité analytique sophistiquée dans les environnements de laboratoire standard. Principaux avantages et valeur pratique La conception de cet instrument répond à plusieurs défis critiques auxquels les chercheurs sont confrontés : Alternative en laboratoire au rayonnement synchrotron : élimine la dépendance traditionnelle aux sources de rayonnement synchrotron, permettant aux chercheurs d'effectuer efficacement des tests XAFS de routine dans leurs propres laboratoires, améliorant ainsi considérablement la productivité de la recherche. Capacités de test in situ : prend en charge l'intégration de diverses chambres d'échantillonnage in situ (par exemple, électrochimiques, à température variable), permettant la surveillance en temps réel des changements dynamiques dans la structure atomique locale du matériau dans des conditions opérationnelles simulées (telles que les réactions catalytiques ou les processus de charge/décharge de la batterie), fournissant des informations précieuses sur les mécanismes de réaction. Fonctionnement automatisé pour une efficacité améliorée : une tourelle d'échantillons à 18 positions permet le changement automatique d'échantillons, facilitant la mesure automatisée continue de plusieurs échantillons et le fonctionnement sans pilote, simplifiant ainsi le criblage d'échantillons par lots et les expériences in situ prolongées. Champ d'application étendu Le spectromètre TD-XAFS trouve des applications dans de nombreux domaines nécessitant une étude détaillée des structures locales des matériaux : Nouveaux matériaux énergétiques : analyse des changements d'état de valence et de la stabilité structurelle des matériaux d'électrodes de batteries lithium-ion pendant les processus de charge/décharge ; étude des environnements de coordination sur les sites actifs catalytiques des piles à combustible. Science de la catalyse : Particulièrement adapté à l'étude des structures de coordination précises des nanocatalyseurs et des catalyseurs à atome unique, des caractéristiques du site actif et de leurs interactions avec les matériaux de support, même à de faibles charges métalliques (<1%). Science des matériaux : étude des structures désordonnées, des matériaux amorphes, des effets de surface/interface et des processus de transition de phase dynamique. Sciences de l'environnement : Analyse des états de valence et des structures de coordination des éléments métalliques lourds dans les échantillons environnementaux (par exemple, sol, eau), essentiels pour évaluer la toxicité et la mobilité. Macromolécules biologiques : étude des structures électroniques et des configurations géométriques des centres actifs métalliques dans les métalloprotéines et les enzymes. Résumé Le spectromètre TD-XAFS de Dandong Tongda constitue une plateforme d'essai de paillasse domestique hautes performances, conçue pour les universités, les instituts de recherche et les centres de R&D des entreprises. Il intègre avec succès des capacités de niveau synchrotron dans les laboratoires conventionnels, réduisant ainsi considérablement les obstacles à l'accès à la technologie XAFS. Cet instrument offre aux chercheurs des outils pratiques, efficaces et flexibles pour l'analyse de la structure des matériaux microscopiques, constituant une solution pratique pour les scientifiques explorant le monde microscopique de la matière.

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