Le spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux, largement utilisé dans des domaines populaires tels que la catalyse, l'énergie et la nanotechnologie. Principaux avantages de XAFS : Produit à flux lumineux le plus élevé : Flux de photons dépassant 1 000 000 photons/seconde/eV, avec une efficacité spectrale plusieurs fois supérieure à celle des autres produits ; Obtenir une qualité de données équivalente au rayonnement synchrotron Excellente stabilité : La stabilité de l'intensité lumineuse monochromatique de la source lumineuse est supérieure à 0,1 % et la dérive énergétique lors de la collecte répétée est inférieure à 50 meV Limite de détection de 1 % : High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%.

La spectroscopie d'absorption des rayons X est une technique spectrale permettant d'analyser la composition élémentaire et les états électroniques des matériaux en utilisant les changements de signal avant et après l'incident des rayons X du rayonnement synchrotron.

XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.

La structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux basée sur une source de lumière à rayonnement synchrotron.