La spectroscopie d'absorption des rayons X est une technique spectrale permettant d'analyser la composition élémentaire et les états électroniques des matériaux en utilisant les changements de signal avant et après l'incident des rayons X du rayonnement synchrotron.

XAFS, en tant que technique de caractérisation avancée pour l'analyse de la structure locale des matériaux, peut fournir des informations de coordination de structure atomique plus précises dans la plage des structures à courte portée que la diffraction cristalline des rayons X.

La structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) est un outil puissant pour étudier la structure atomique ou électronique locale des matériaux basée sur une source de lumière à rayonnement synchrotron.