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Approuvé dans le monde entier : l'analyseur d'orientation des rayons X de Dandong Tongda obtient des certifications multinationales Dans le contexte actuel d'évolution rapide du secteur mondial des semi-conducteurs, des dispositifs optiques et de la science des matériaux, la mesure précise de l'orientation des cristaux est devenue cruciale pour améliorer la qualité des produits et l'efficacité de la production. Spécialiste en développement et fabrication d'instruments d'analyse par rayons X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. annonce le lancement de son analyseur d'orientation par rayons X haute performance. Cet instrument intègre une technologie avancée de diffraction des rayons X et des algorithmes intelligents, offrant des solutions de mesure d'orientation rapides et précises aux industries du cristal du monde entier. Principe technique : l'intégration parfaite de la diffraction des rayons X et de la mesure de précision L'analyseur d'orientation des rayons X fonctionne selon la loi de diffraction de Bragg. Lorsque les rayons X frappent la surface du cristal, les plans atomiques régulièrement disposés à l'intérieur génèrent des phénomènes de diffraction à des angles spécifiques. En captant ces signaux de diffraction à l'aide de détecteurs de précision et en calculant les angles de diffraction, l'instrument peut déterminer avec précision l'orientation du cristal, fournissant ainsi des données fiables pour la découpe et le traitement ultérieurs. Comparée aux méthodes d'orientation traditionnelles, la technologie d'orientation des cristaux par rayons X offre des avantages significatifs : non destructive, haute précision et haute efficacité, garantissant des résultats de mesure fiables sans endommager l'échantillon. L'instrument atteint une précision de mesure de ±30 secondes d'arc (±30″), avec une lecture minimale de 10 secondes d'arc, répondant ainsi aux exigences d'orientation de la grande majorité des matériaux cristallins. Gamme de produits : Solutions complètes pour divers besoins d'application Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology comprennent principalement deux modèles fondamentaux : le TYX-200 et le TYX-2H8. Le modèle TYX-200, version de base, est doté d'un écran numérique d'une largeur minimale de 10 pouces et d'une précision de mesure de ±30 pouces, ce qui le rend idéal pour les besoins courants d'orientation des matériaux cristallins. Le modèle TYX-2H8 est une mise à niveau complète du TYX-200, avec une structure de goniomètre améliorée, des rails porteurs optimisés et une platine porte-échantillon surélevée. Le TYX-2H8 peut mesurer des échantillons de 1 à 30 kg et de diamètres compris entre 2 et 8 pouces. Certaines configurations peuvent même être étendues pour traiter des échantillons de 30 à 180 kg, de diamètres allant jusqu'à 350 mm et de longueurs allant jusqu'à 480 mm. Pour les besoins de recherche plus complexes, la société propose également les analyseurs d'orientation à rayons X de la série TDF, qui utilisent une technologie de contrôle PLC importée, offrent une plage de tension de tube de 10 à 60 kV et offrent des fonctionnalités plus étendues, notamment l'orientation des monocristallins, la détection des défauts et la détermination des paramètres de réseau. Applications fonctionnelles : un outil essentiel pour le traitement des cristaux dans de nombreux secteurs L'analyseur d'orientation à rayons X permet de déterminer précisément et rapidement les angles de coupe des monocristaux naturels et synthétiques et, en coordination avec les machines de coupe, de réaliser une coupe orientée. C'est un instrument indispensable pour l'usinage et la fabrication de précision des dispositifs à cristaux. Dans l'industrie des semi-conducteurs, il est largement utilisé pour l'inspection des lingots, des plaquettes et des puces, contrôlant des processus tels que la coupe, le meulage et le polissage afin de garantir des performances constantes des dispositifs semi-conducteurs. Pour le traitement des cristaux optiques et laser, l'instrument permet de déterminer avec précision l'orientation des cristaux, garantissant ainsi la conformité des performances optiques des dispositifs optiques aux exigences de conception et améliorant le rendement. Particulièrement adapté au traitement des cristaux saphir, l'instrument répond simultanément aux exigences de mesure des orientations A, C, M et R des cristaux saphir, grâce à une plage de mesure réglable électriquement de 0 à 45°, s'adaptant ainsi aux besoins de traitement complexes. Dans l'industrie de la bijouterie et des pierres précieuses, l'instrument assure une orientation précise des pierres précieuses, améliorant ainsi la précision de la taille et la valeur des produits finis, aidant ainsi les fabricants à optimiser les effets optiques et la valeur commerciale des pierres précieuses. Caractéristiques du produit : La conception innovante améliore l'expérience utilisateur Les analyseurs d'orientation des rayons X de Dandong Tongda Technology intègrent plusieurs fonctionnalités innovantes qui améliorent considérablement la praticité et la fiabilité de l'instrument. Utilisation facile : l'instrument peut être utilisé sans connaissances professionnelles ni compétences approfondies, ce qui réduit la barrière à l'utilisation et réduit le temps de formation du personnel. Affichage numérique : L'affichage numérique de l'angle permet une observation intuitive, réduit les erreurs de lecture et peut être mis à zéro à n'importe quelle position, facilitant l'affichage direct de l'écart d'angle de la plaquette. Conception efficace : certains modèles sont équipés de goniomètres doubles qui peuvent fonctionner simultanément, améliorant considérablement l'efficacité de l'inspection. Précision améliorée : un intégrateur spécial avec amplification de crête améliore la précision de la détection et une plaque d'échantillon à aspiration sous vide assure un positionnement stable de l'échantillon. Fiabilité et durabilité : La conception intégrée du tube à rayons X et du câble haute tension améliore la fiabilité de la haute tension. Le détecteur haute tension utilise un module haute tension CC, garantissant un fonctionnement stable à long terme. Protection de sécurité : L'instrument utilise un verre au plomb haute densité et haute transmittance comme écran de protection contre les rayons X. La dose de rayonnement externe ne dépasse pas 0,1 µSv/h, conformément aux normes de sécurité internationales. Configuration de l'étage d'échantillonnage : adaptation flexible aux divers besoins de mesure Pour répondre aux exigences de mesure pour des échantillons de différentes formes et tailles, Dandong Tongda Technology propose différentes configurations de platines d'échantillonnage : Platine d'échantillonnage de type TA : Conçue spécifiquement pour les tiges de cristal cylindriques, elle est équipée de rails porteurs. Elle permet de mesurer des tiges de cristal pesant de 1 à 30 kg et d'un diamètre de 2 à 6 pouces (extensible jusqu'à 8 pouces), ainsi que la surface de référence de cristaux en forme de tige ou de plaquettes de cristal en forme de feuille. Platine d'échantillonnage de type TB : également conçue pour les tiges de cristal cylindriques, elle intègre des rails de support en forme de V et peut mesurer des tiges de cristal jusqu'à 500 mm de longueur, ce qui la rend particulièrement adaptée à la mesure des faces d'extrémité des cristaux en forme de tige. Platine d'échantillonnage de type TC : Principalement utilisée pour détecter la surface de référence de la circonférence extérieure des plaquettes monocristallines telles que le silicium et le saphir. Sa conception ouverte élimine les problèmes d'obstruction des rayons X et les imprécisions de positionnement dues aux plaques d'aspiration. Platine d'échantillonnage de type TD : Conçue spécifiquement pour la mesure multipoint de wafers tels que le silicium et le saphir. La plaquette peut être tournée manuellement sur la platine (par exemple, 0°, 90°, 180°, 270°) pour répondre aux exigences de mesure spécifiques du client. Marché mondial : permettre aux clients internationaux de réaliser des avancées technologiques Les produits de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ont réussi leur entrée sur le marché international et sont exportés vers de nombreux pays et régions, dont les États-Unis, la Corée du Sud, l'Iran, l'Azerbaïdjan, l'Irak et la Jordanie. Fidèle à ses principes « Le client avant tout, le produit avant tout, le service avant tout », l'entreprise fournit aux utilisateurs du monde entier des produits high-tech de haute qualité et un support technique complet. Pour ses clients étrangers, l'entreprise propose un service complet de conseil technique et d'après-vente, incluant la formation opérationnelle, la maintenance et la fourniture de pièces détachées, garantissant ainsi la satisfaction des utilisateurs. Pour répondre aux besoins de ses clients de différentes régions, l'entreprise propose également des solutions personnalisées, notamment la conception de platines d'échantillonnage spécifiques et le réglage du logiciel de mesure, garantissant ainsi une adaptation parfaite de l'instrument à des scénarios d'application spécifiques. Des interfaces d'utilisation multilingues et une documentation technique détaillée en anglais simplifient l'utilisation pour les clients étrangers et améliorent l'expérience utilisateur internationale. L'analyseur d'orientation à rayons X de Dandong Tongda Technology n'est pas un simple outil de mesure, mais un partenaire stratégique pour améliorer la compétitivité des entreprises. Il permet de raccourcir considérablement le cycle de R&D des matériaux cristallins, d'optimiser les processus de production, de garantir la qualité des produits et de créer une valeur tangible pour l'industrie mondiale de la cristallisation. Que ce soit pour la fabrication de puces semi-conductrices, le traitement de composants optiques ou la recherche sur de nouveaux matériaux, choisir Dandong Tongda Technology, c'est opter pour une solution d'orientation cristalline fiable, efficace et précise.