Le TDM-20 haute puissanceDiffractomètre à rayons X(XRD de paillasse)Il est principalement utilisé pour l'analyse de phase des poudres, des solides et des matériaux pâteux similaires. Le principe de la diffraction des rayons X peut être utilisé pour l'analyse qualitative ou quantitative, l'analyse de la structure cristalline et d'autres matériaux polycristallins tels que les échantillons de poudre et les échantillons métalliques.XRD de paillasse est largement utilisé dans des secteurs tels que l'industrie, l'agriculture, la défense nationale, les produits pharmaceutiques, les minéraux, la sécurité alimentaire, le pétrole, l'éducation et la recherche scientifique.

1、Caractéristiques principales du banc TDM-20Diffractomètre à rayons X(XRD de paillasse)：

Français Le chargement du nouveau détecteur de réseau haute performance a considérablement amélioré les performances globales de l'appareil, avec une petite taille et un poids léger ; L'ensemble de la machine est intégré dans la taille du bureau (généralement ≤ 1 m³), ​​économisant de l'espace et adapté aux petits laboratoires ou aux environnements d'enseignement ; La puissance de travail de l'alimentation haute fréquence et haute tension peut atteindre 1600 W ; Analyse rapide, capable d'étalonner et de tester rapidement des échantillons ; En utilisant des détecteurs hautes performances (tels que des détecteurs bidimensionnels) et en optimisant le chemin optique, le balayage des échantillons peut être terminé en quelques minutes ; Contrôle de circuit simple, facile à déboguer et à installer ; La répétabilité de l'angle peut atteindre 0,0001 ; Faible consommation d'énergie et sécurité, utilisant des tubes à rayons X de faible puissance (tels que ≤ 50 W), équipés d'une protection contre les radiations multiples, pas besoin de salles de blindage spéciales ; Convivial, équipé d'un logiciel d'automatisation, prenant en charge l'opération en un clic, la visualisation des données en temps réel et la comparaison de bases de données standard (telles que ICDD PDF).

2. Scénarios d'application typiques du banc TDM-20Diffractomètre à rayons X(XRD de paillasse):

Science des matériaux deDiffractomètre à rayons X（XRD de paillasse）:Identification rapide de la structure cristalline et de la composition des phases (telles que les métaux, les céramiques, les polymères).

Science des matériaux deDiffractomètre à rayons X（XRD de paillasse）:Tests sur site industriel de la pureté cristalline des matières premières ou des produits finis (tels que les produits pharmaceutiques et les matériaux de batterie).

Science des matériaux deDiffractomètre à rayons X（XRD de paillasse）:Enseignement expérimental de premier cycle, démontrant visuellement le principe de diffraction de Bragg.

Science des matériaux deDiffractomètre à rayons X（XRD de paillasse）:Analyse de la composition minérale des reliques culturelles ou criblage préliminaire d'échantillons de terrain.

3. Paramètres techniques du banc TDM-20Diffractomètre à rayons X（XRD de paillasse）:

Projet : plage de paramètres

Source de rayons X : cible Cu (λ = 1,54 Å), cible Mo en option

Tension/courant : 10-50 kV/0,1-2 mA

Plage de mesure d'angle : 0-90 ° 2θ (certains modèles peuvent être étendus)

Résolution angulaire : ≤ 0,01 °

Type de détecteur : détecteur linéaire unidimensionnel ou détecteur de surface bidimensionnel

Taille de l'échantillon : Poudre (milligrammes), film ou bloc

4. Avantages et limites du banc TDM-20Diffractomètre à rayons X（XRD de paillasse）:

Avantages : Faible coût (environ 1/3-1/2 d'un grand XRD), entretien facile.

Prend en charge l'analyse non destructive et la préparation simple des échantillons (comme le placement direct de poudre).

limites:

La résolution et la sensibilité sont légèrement inférieures à celles des appareils haut de gamme et peuvent ne pas convenir à une analyse structurelle ultra-fine.

Les tests dans des conditions extrêmes (comme les expériences in situ à haute température/haute pression) ne sont généralement pas réalisables.