Le TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolutionNouveau membre de la série TD, il est équipé d'une variété de détecteurs hautes performances, tels que des détecteurs matriciels unidimensionnels rapides, des détecteurs bidimensionnels et des détecteurs SDD. Il allie rapidité d'analyse, simplicité d'utilisation et sécurité pour l'utilisateur. Son architecture matérielle modulaire et son logiciel personnalisé offrent une combinaison parfaite, réduisant considérablement le taux de défaillance, offrant d'excellentes performances anti-interférences et garantissant un fonctionnement stable et durable de l'alimentation haute tension.

Le TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolutionPrend en charge non seulement la méthode conventionnelle de balayage des données par diffraction, mais aussi la méthode de balayage des données par transmission. La résolution du mode transmission est bien supérieure à celle du mode diffraction, ce qui est adapté à l'analyse structurale et à d'autres domaines. Le mode diffraction produit des signaux de diffraction puissants et est plus adapté à l'identification de phase en laboratoire. De plus, en mode transmission, l'échantillon de poudre peut être présent à l'état de traces, ce qui est adapté à l'acquisition de données lorsque la taille de l'échantillon est relativement petite et ne répond pas aux exigences de la méthode de diffraction pour la préparation des échantillons.

Le détecteur matriciel exploite pleinement la technologie de comptage mixte de photons, sans bruit, avec une acquisition de données rapide et une vitesse plus de dix fois supérieure à celle des détecteurs à scintillation. Il offre une excellente résolution énergétique et permet d'éliminer efficacement les effets de fluorescence. Les détecteurs multicanaux offrent des temps de lecture plus rapides et un meilleur rapport signal/bruit. Un système de contrôle du détecteur avec déclenchement électronique et externe assure une synchronisation optimale.

Le principe de fonctionnement du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolution:

En exploitant les fluctuations des rayons X lorsqu'ils sont irradiés sur un cristal, les atomes ou les ions du cristal agissent comme des centres de diffusion, diffusant les rayons X dans toutes les directions. Du fait de la régularité de l'arrangement atomique dans les cristaux, ces ondes diffusées interfèrent et se renforcent mutuellement dans certaines directions, formant ainsi la diffraction. La mesure de l'angle et de l'intensité de diffraction permet d'obtenir des informations structurelles sur le cristal.

Les principales caractéristiques du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolutionsont:

(1) Facile à utiliser, système de collecte en un clic ;    

(2) Conception modulaire, accessoires d'instruments plug and play, pas besoin d'étalonnage ;

(3) Surveillance en ligne en temps réel à l'aide d'un écran tactile pour afficher l'état de l'instrument ;

(4) Dispositif de verrouillage électronique de porte en plomb, double protection, garantissant la sécurité de l'utilisateur ;

(5) Générateur de rayons X haute fréquence et haute tension, avec des performances stables et fiables ;

(6) Unité de contrôle d'enregistrement avancée avec une forte capacité anti-interférence.

La haute précision du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolutionpermet une analyse de haute précision de la structure cristalline des matériaux, comme la détermination précise des constantes de réseau, des paramètres cellulaires, etc. La précision de mesure d'angle peut atteindre±0,0001°.

La haute résolution du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolutionpeut distinguer clairement les pics de diffraction adjacents, analyser avec précision les informations de diffraction de différents plans cristallins pour des structures cristallines complexes et révéler les caractéristiques de microstructure des matériaux.

La nature non destructive du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolution: cela n'endommagera pas l'échantillon pendant le processus de test, et l'échantillon peut être conservé dans son état d'origine pour plusieurs tests, ce qui est particulièrement important pour les échantillons précieux ou difficiles à obtenir.

Analyse rapide du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolution:Les diffractomètres à rayons X haute résolution modernes ont des capacités de détection rapides et peuvent effectuer des tests d'échantillons dans un court laps de temps, améliorant ainsi l'efficacité du travail.

3. Domaines d'application du TD-3700diffractomètre à rayons X à haute résolution:

Matériaux semi-conducteurs : utilisés pour détecter la qualité cristalline des matériaux monocristallins semi-conducteurs et des films minces épitaxiaux, analyser les discordances de réseau, les défauts et d'autres informations, ce qui contribue à optimiser les performances des dispositifs semi-conducteurs.

Matériaux supraconducteurs : étudier la structure cristalline et le processus de transition de phase des matériaux supraconducteurs pour fournir une base pour l'optimisation des propriétés supraconductrices.

Nanomatériaux : l’analyse de la granulométrie, de la structure cristalline, de la déformation microscopique, etc. des nanomatériaux aide les chercheurs à mieux comprendre leurs propriétés et leurs applications.

Autres domaines : Il est également largement utilisé dans la recherche et le contrôle qualité des matériaux métalliques, céramiques, polymères, biomatériaux et autres. Le diffractomètre à rayons X haute résolution est un instrument d'analyse de haute précision, haute résolution, non destructif et rapide, présentant une valeur d'application importante dans de nombreux domaines.