La diffraction des rayons X utilise les rayons X monochromatiques comme sources de diffraction et peut généralement pénétrer dans les solides. La diffraction des rayons X donne des informations sur la structure de phase globale du matériau.

La diffraction des rayons X repose principalement sur une analyse de phase qualitative, mais elle peut également être une analyse quantitative. La composition de phase de l'échantillon peut être analysée qualitativement en comparant les rayons Xdiffractionspectres de l’échantillon à mesurer avec ceux du matériau étalon. En analysant et en calculant les données d'intensité de diffraction de l'échantillon, l'analyse quantitative de la composition de phase de l'échantillon peut être complétée

Selon le X-rayonInformations sur le diagramme de diffraction, l'échantillon peut être déterminé s'il est amorphe ou cristallin. La cristallinité de l'échantillon peut être connue qualitativement. En comparant avec le spectre standard, il est possible de savoir de quelle phase est composé l’échantillon mesuré.

En tant que méthode importante d’étude de structure, la diffraction des rayons X a une application très importante dans l’étude des matériaux catalytiques et d’autres matériaux.Diffraction des rayons XLa technologie présente les avantages d'une précision de mesure non destructive et élevée et peut obtenir de nombreuses informations sur l'intégrité des cristaux.