Dans des domaines tels que la science des matériaux, la fabrication de semi-conducteurs et la biomédecine, Diffractomètres à rayons XCe sont des instruments essentiels pour la caractérisation des structures cristallines, des compositions de phase et des paramètres de maille des matériaux. La diversité des formes d'échantillons (poudres, couches minces, matériaux massifs, monocristaux, etc.) impose des exigences strictes en matière d'adaptabilité de ces équipements. La Chine étant l'un des principaux centres de production deDiffractomètres à rayons X,Dandong Tongdaa développé et fabriqué une série deDiffractomètres à rayons XCes systèmes se caractérisent par une conception modulaire et une technologie de contrôle précis du trajet optique. Ces atouts garantissent une compatibilité totale avec une large gamme d'échantillons, des poudres aux couches minces, et offrent un support technique fiable pour la recherche sur les matériaux et le contrôle qualité dans divers secteurs industriels.

L'analyse efficace des échantillons de poudre est un atout fondamental deDiffractomètres à rayons X de Dandong Tongdaet une raison essentielle de leur utilisation répandue dans l'exploration géologique et la R&D des matériaux chimiques. Pour les échantillons de poudre, cette série d'instruments est équipée de porte-échantillons dédiés compatibles avec les méthodes de préparation classiques telles que la pastillage et l'étalement. La précision de réglage horizontal et angulaire du porte-échantillon atteint 0,001°, garantissant un parallélisme parfait entre la surface de l'échantillon et le trajet optique incident. De plus, le détecteur haute sensibilité et le système optique optimisé capturent efficacement les signaux de pics caractéristiques de la diffraction des poudres. Même les échantillons de poudre dopés à l'état de traces peuvent être identifiés avec précision quant à leur composition de phase. Par exemple, dans le cadre du développement de matériaux pour cathodes de batteries au lithium, les chercheurs peuvent utiliserDiffractomètres à rayons Xanalyser rapidement la pureté cristalline de la poudre de phosphate de fer lithié et évaluer le degré de défauts du réseau cristallin, fournissant ainsi des indications basées sur les données pour l'optimisation des performances du matériau.

Pour répondre aux besoins précis de caractérisation des échantillons de couches minces,Diffractomètres à rayons X de Dandong Tongda démontrer une forte adaptabilité technique. Les matériaux en couches minces présentent généralement des caractéristiques telles qu'une épaisseur ultra-mince (de l'ordre du nanomètre au micromètre), une faible adhérence et une sensibilité aux interférences du substrat, ce qui rend difficile pour les diffractomètres conventionnels de séparer efficacement les signaux de diffraction du film et du substrat. Pour remédier à cela, Diffractomètres à rayons XCet instrument utilise la technologie de diffraction des rayons X en incidence rasante (GIXRD). En contrôlant l'angle d'incidence des rayons X sur la surface de l'échantillon (0,1°–2°), les interférences du signal du substrat sont considérablement réduites, permettant une analyse ciblée de la structure cristalline du film mince. Le porte-échantillon de l'instrument permet également la fixation par adsorption sous vide ou par adhésif conducteur, évitant ainsi tout déplacement des échantillons pendant les tests. Ceci répond aux exigences de détection dans des domaines tels que les revêtements de puces semi-conductrices, les films minces optiques et les dispositifs électroniques flexibles. Par exemple, dans le cadre de la R&D sur les films minces pour cellules solaires, l'instrument permet d'analyser avec précision la cristallinité et l'orientation des films minces de pérovskite, contribuant ainsi à l'amélioration du rendement de conversion photoélectrique des cellules.

Au-delà des poudres et des couches minces,Diffractomètres à rayons XLeur adaptabilité à une plus grande variété d'échantillons est encore étendue grâce à des accessoires modulaires. Pour les échantillons massifs et monocristallins, des porte-échantillons monocristallins spécialisés permettent une rotation et un positionnement tridimensionnels. Pour les matériaux unidimensionnels tels que les fibres et les nanofils, des porte-échantillons de fibres adaptés garantissent un alignement précis selon des directions spécifiques afin d'obtenir des données de diffraction orientées. De plus, ces instruments permettent des tests in situ et peuvent être associés à des modules auxiliaires, comme des modules haute/basse température ou haute pression, pour une surveillance dynamique des structures d'échantillons dans diverses conditions environnementales, élargissant ainsi leurs applications.

Dans le contexte de l'essor rapide des instruments scientifiques nationaux, Diffractomètres à rayons X de Dandong TongdaGrâce à leur grande adaptabilité aux différents types d'échantillons et à leur excellent rapport coût-efficacité, ces appareils ont mis fin au monopole des équipements importés. De la recherche fondamentale sur les matériaux en laboratoire au contrôle qualité sur les chaînes de production industrielle, leurs capacités d'analyse précises pour diverses formes d'échantillons en font des outils essentiels à l'innovation en science des matériaux et à la modernisation industrielle.