Présentation du produit

LeAccessoire de mesure intégré multifonctionnelest un système de mesure auxiliaire de haute précision conçu pour les goniomètres grand angle.Accessoire de mesure intégré multifonctionnelCe dispositif est principalement utilisé pour l'analyse structurale complète de matériaux en feuilles, de matériaux massifs et de films déposés sur des substrats. Il permet de réaliser diverses analyses avancées, telles que l'identification de phases, la mesure du degré d'orientation, l'analyse de texture, les essais de contrainte et la caractérisation de la structure planaire des films minces. Grâce à l'intégration de plusieurs axes de mouvement, ce dispositif constitue une plateforme performante pour l'étude des microstructures et des propriétés mécaniques des matériaux.

Caractéristiques

Les fonctionnalités de base deAccessoire de mesure intégré multifonctionnel se reflètent dans ses divers modes de test et son contrôle de mouvement de haute précision :

Test de figure de pôle : Prend en charge la cartographie des figures de pôle par la méthode de transmission ou la méthode de réflexion, permettant une caractérisation complète de la distribution d’orientation préférentielle des grains dans les matériaux polycristallins.

Tests de contrainte : Utilise à la fois la méthode d’inclinaison latérale et la méthode d’iso-inclinaison pour la mesure des contraintes, offrant la flexibilité nécessaire pour s’adapter à différentes conceptions expérimentales et conditions d’échantillon pour une mesure précise des contraintes résiduelles de surface et internes dans les matériaux.

Analyse de la structure des couches minces : Doté d'une capacité de rotation de l'échantillon dans le plan (axe β), il est particulièrement adapté à l'étude des matériaux en couches minces anisotropes et à l'analyse des informations structurelles cristallines selon différentes directions dans le plan.

Contrôle de précision synchronisé multi-axes : Permet un réglage précis de la posture spatiale et du positionnement de l'échantillon pour les trajectoires de balayage complexes grâce au mouvement coordonné des axes Alpha (inclinaison), Beta (rotation) et Z (élévation) de haute précision.

Domaines d'application

Accessoire de mesure intégré multifonctionnel Elle possède un large éventail d'applications, couvrant la quasi-totalité des domaines des matériaux avancés nécessitant une analyse approfondie de la structure cristalline et de l'état de contrainte :

Matériaux métalliques : Utilisés pour évaluer la structure globale (texture) des tôles laminées et analyser leur anisotropie après formage.

Céramiques et céramiques fonctionnelles : Réalise une évaluation de l’orientation des matériaux céramiques, essentielle pour comprendre leurs propriétés piézoélectriques, ferroélectriques et autres.

Couches minces et revêtements :

Évalue l'orientation préférentielle des cristaux dans des échantillons de couches minces.

Effectue des essais de contraintes résiduelles sur divers matériaux métalliques et céramiques afin d'évaluer leurs propriétés mécaniques telles que la résistance à l'usure et l'usinabilité.

Effectue des tests de contraintes résiduelles sur les films multicouches, utilisés pour prédire et prévenir les défaillances de délamination du film.

Analyse les films minces supraconducteurs à haute température, les films d'oxyde/nitrure sur feuilles métalliques et les films multicouches sur substrats de verre, de silicium et de métal (par exemple, les films minces magnétiques, les revêtements durcis en surface métallique).

Matériaux polymères et composites : utilisés pour l’analyse structurelle et de performance des matériaux macromoléculaires, du papier, des lentilles et autres matériaux de placage.

Spécifications techniques

Les spécifications techniques deAccessoire de mesure intégré multifonctionnel reflètent sa haute précision et sa flexibilité. Les principaux paramètres sont les suivants :

Axe alpha (inclinaison) :

Plage dynamique : -45° à 90°

Pas minimum : 0,001°/pas

Axe bêta (rotation / rotation dans le plan) :

Plage dynamique : 0° à 360°

Pas minimum : 0,001°/pas

Axe Z (Levage) :

Plage dynamique : 0 - 10 mm

Pas minimum : 0,001 mm/pas

Taille de l'échantillon :

Diamètre maximal de l'échantillon : Φ100 mm

L'épaisseur de l'échantillon est ajustable pour s'adapter aux différentes exigences des tests.