LeFixation en couche mince, fabriqué parDandong Tongda Technology Co., Ltd.,est un accessoire fonctionnel spécialisé conçu pour sonsérie de diffractomètres à rayons XCe dispositif est spécialement conçu pour l'analyse de haute précision de la structure cristalline d'échantillons en couches minces déposés sur des substrats. Il est parfaitement intégré aux unités principales du diffractomètre de la société et fonctionne grâce à un logiciel dédié au contrôle et à l'acquisition des données. Ce système intégré offre une assistance complète tout au long du processus, du positionnement précis de l'échantillon à l'analyse finale des résultats.

L'avantage principal de cet accessoire réside dans sa conception optique optimisée. Grâce à l'utilisation de fentes de filtration étendues, il filtre efficacement le rayonnement diffusé généré pendant la mesure. Cette caractéristique est essentielle pour l'analyse des couches minces, car lorsque des rayons X frappent un échantillon composé d'une couche et d'un substrat, le signal résultant contient des informations superposées provenant des deux couches. Le signal de diffraction, généralement intense, du substrat peut facilement masquer le faible signal de la couche mince, compromettant ainsi la précision. L'accessoire pour couches minces remédie à ce problème en conditionnant physiquement les faisceaux de rayons X incidents et diffractés. Il supprime significativement les interférences de fond provenant du substrat, renforçant ainsi le signal de diffraction spécifique de la couche mince elle-même. Il en résulte des données de test plus claires, plus fiables et de meilleure qualité. Sa conception tient compte de la diversité des échantillons de couches minces, ce qui le rend adaptable à l'analyse de films d'épaisseurs allant de quelques nanomètres à plusieurs micromètres, élargissant ainsi son champ d'application.

En tant que fabricant professionnel d'analyse par rayons X etinstruments de contrôle non destructif,Dandong Tongda Technology présente cet accessoire comme un outil clé pour la recherche, le développement et le contrôle des matériaux avancés dans des domaines tels que la protection de l'environnement et l'électronique. Sa gamme de produits phares, illustrée par…Diffractomètres à rayons X de la série TD,Ce module d'analyse de couches minces met l'accent sur la mesure de haute précision et le contrôle automatisé. Il constitue un module d'extension professionnel essentiel pour ces plateformes instrumentales, permettant une analyse haute performance d'échantillons à faible concentration ou à signaux faibles, tels que les couches minces et les revêtements. Il témoigne de l'expertise technique pointue de l'entreprise en matière d'analyse des matériaux. Jouant un rôle important dans le contrôle qualité et la R&D au sein d'industries de pointe comme les matériaux pour les nouvelles énergies et les revêtements semi-conducteurs, il permet aux chercheurs d'acquérir une connaissance plus approfondie de la structure des matériaux.