Leéchantillon rotatiftitulaire Il s'agit d'un dispositif expérimental permettant de contrôler précisément l'orientation des échantillons, largement utilisé dans des domaines tels que la diffraction des rayons X (DRX), l'analyse spectroscopique et les essais de matériaux. La rotation de l'échantillon permet d'éliminer l'orientation préférentielle et d'améliorer la précision et la répétabilité des mesures.

1. La fonction principale duéchantillon rotatiftitulaire

(1) Élimination de l'orientation préférée : En faisant tourner le plan de l'échantillon (b(axe), les erreurs de diffraction causées par les gros grains ou la texture sont réduites, garantissant la reproductibilité de l'intensité de diffraction.

(2) Mesure multi-positions : effectuez des mesures multi-angles sur des échantillons irréguliers (tels que des grains), faites la moyenne des données à différentes positions et améliorez la précision et la répétabilité des résultats.

(3) Fonctionnement automatisé : certains appareils prennent en charge la rotation automatique et le changement d'échantillon pour améliorer l'efficacité des tests (comme le XRD entièrement automatique)porte-échantillon rotatif).

2. Caractéristiques techniques deéchantillon rotatiftitulaire

(1) Conception structurelle :

Mode d'entraînement : la rotation précise est obtenue grâce à des mécanismes tels que des moteurs, des arbres, des engrenages et des crémaillères, et certains équipements sont équipés de servomoteurs et d'encodeurs pour corriger la vitesse.

Dispositif de serrage : L'échantillon est fixé par une pince de compression, une fente pour carte ou un bloc de serrage, et le côté intérieur est partiellement serré avec une couche de caoutchouc pour s'adapter à différents matériaux.

Paramètres de rotation : La vitesse de rotation peut atteindre 1 à 60 tr/min, avec une largeur de pas minimale de 0,1º, et prend en charge les modes continu ou par étapes.

(2) Adaptabilité :

Peut être installé dans des instruments XRD, des systèmes de test optiques/électriques, etc., prenant en charge plusieurs porte-échantillons (tels que des sondes réfléchissantes, des accessoires de batterie in situ, etc.).

Certains appareils prennent en charge 360°rotation et sont compatibles avec diverses exigences de mesure telles que l'optique et l'électronique.

3. Scénarios d'application deéchantillon rotatiftitulaire

(1) Diffraction des rayons X (DRX) :

Utilisé pour analyser des échantillons avec texture ou cristallographie (tels que des matériaux métalliques, des films minces), pour éliminer l'influence de l'orientation préférée sur les résultats de diffraction.

Le modèle entièrement automatique peut améliorer l'efficacité des tests multi-échantillons, réduire le nombre de temps d'ouverture et de fermeture des portes et prolonger la durée de vie de l'équipement.

(2) Analyse spectrale et essais de matériaux :

Utilisé pour mesurer des échantillons irréguliers (tels que des grains) avec des sondes réfléchissantes, en faisant tourner et en moyennant les données spectrales à différentes positions. Adapté aux environnements in situ à hautes et basses températures, il prend en charge des conditions expérimentales complexes.

(3) Expérience multifonctionnelle :

En combinant des sondes, des porte-échantillons électriques ou optiques, des tests complets des caractéristiques électriques, de la morphologie de surface et d'autres caractéristiques peuvent être réalisés.

Leéchantillon rotatiftitulaire Il résout le problème d'erreur de mesure dû à l'orientation privilégiée des platines porte-échantillons fixes traditionnelles en contrôlant précisément l'orientation de l'échantillon. Son automatisation et son adaptabilité multi-scènes en font un outil essentiel dans des domaines tels que la DRX et l'analyse spectrale. La sélection spécifique doit être adaptée au modèle correspondant en fonction des exigences expérimentales telles que la précision de rotation, le type d'échantillon et le niveau d'automatisation.