Diffractomètre à rayons Xest principalement utilisé pour la caractérisation de phase, l'analyse quantitative,analyse de la structure cristalline, analyse de la structure des matériaux, analyse de l'orientation cristalline d'échantillons de poudre, de bloc ou de film mince. Mesure de contrainte macroscopique, mesure de granulométrie, mesure de cristallinité, etc.

Affichage de la carte d'analyse des échantillons du diffractomètre TD-3700 :

1. Poudre SI (image intégrée 111 grossissement unimodal

Remarque : le temps de balayage du TD-3700 est 10 fois plus court que le diffractomètre ordinaire, ce qui améliore l'efficacité du balayage et fait gagner du temps.

2. Spectre complet de SiO2 (image intégrée : amplification locale maximale à cinq doigts)

                           TD-3700 (détecteur Mythen) VS TD-3500 (détecteur à scintillation)

3.Comparaison de pic unique des données de diffraction d'échantillons de poudre de Si

Remarque : le TD-3700 peut obtenir une intensité de crête plus élevée, une résolution plus élevée et une largeur à mi-hauteur de crête plus petite que le diffractomètre ordinaire

4.Spectre de diffraction Al2O3