radiographiediffractionest une technique analytique non destructive couramment utilisée qui peut être utilisée pour révéler la structure cristalline, la composition chimique et les propriétés physiques des substances. 

1.Analyse des phases

L'analyse de phase est basée sur la relation entre la position et l'intensité des raies de diffraction dans leDiffraction des rayons Xmodèle et la période de l'arrangement atomique et le contenu de la phase. La position de la raie de diffraction est liée à la périodicité de la disposition des atomes. Pour différentes phases, il existe des diagrammes de diffraction des rayons X spécifiques.

2.Paramètre de treillis

La constante de réseau est le paramètre structurel le plus fondamental du matériau cristallin. La base théorique de radiographieLa méthode de diffraction pour déterminer les paramètres de réseau consiste à calculer les paramètres de réseau selon la loi de Bragg et la relation entre les paramètres de réseau et la valeur d'espacement d du plan cristallin.

3.Stress résiduel

Comme uncontrôle non destructifméthode, la technique de diffraction des rayons X peut être utilisée pour étudier en profondeur les contraintes résiduelles. La contrainte résiduelle macroscopique se manifeste par le déplacement de la position du pic sur le spectre de diffraction des rayons X. Lorsqu'il y a une contrainte de compression, la distance entre les faces du cristal devient plus petite, de sorte que le pic de diffraction se déplace vers un angle plus élevé ; à l’inverse, lorsqu’il y a une contrainte de traction, la distance entre les faces cristallines est allongée, ce qui entraîne le déplacement du pic de diffraction vers un angle inférieur.