Les propriétés macroscopiques d'une substance sont fondamentalement déterminées par sa structure cristalline microscopique. La diffraction des rayons X (DRX) constitue l'outil scientifique indispensable pour percer ce mystère. Son principe fondamental repose sur la loi de Bragg : lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatiques frappe un matériau cristallin, la diffraction se produit à des angles spécifiques, générant un diagramme de diffraction unique, véritable « empreinte digitale » du matériau. Ce diagramme est essentiel pour déchiffrer la composition de phase, la structure cristalline, l'état de contrainte et même la taille des grains d'un matériau.

Principe fondamental : Diffraction des rayons X par les cristaux

Les rayons X sont des ondes électromagnétiques de très courte longueur d'onde (environ 0,01 à 10 nm), comparable à la distance entre les atomes d'un réseau cristallin (sur l'échelle de l'Ångström). Lorsqu'un faisceau de rayons X monochromatiques irradie un cristal à structure atomique régulière, les électrons de chaque atome oscillent et deviennent des sources secondaires de rayons X diffusés. Bien que ces ondes diffusées s'annulent en grande partie, elles interfèrent de manière constructive – ou diffractent – ​​uniquement dans des directions spécifiques où la différence de marche entre les ondes est un multiple entier de la longueur d'onde. Ce phénomène, mis en évidence pour la première fois par Laue en 1912, apporte une preuve directe de la périodicité de la structure cristalline.

L'équation fondamentale : la loi de Bragg

Sir W.H. Bragg et W.L. Bragg ont proposé un modèle simplifié et puissant en considérant la diffraction comme une « réflexion » sur des plans atomiques parallèles au sein du cristal. La diffraction se produit uniquement lorsque la condition suivante est remplie :

2d sinθ = nλ

d est l'espacement interplanaire, un paramètre fixe du cristal.

θ est l'angle entre le faisceau de rayons X incident et le plan du cristal (angle de Bragg).

λ est la longueur d'onde du rayon X incident.

n est un entier positif (l'ordre de diffraction).

Cette élégante équation relie directement l'angle de diffraction mesurable (θ) à l'espacement interplanaire à l'échelle atomique (d), formant ainsi la base quantitative de toute analyse XRD.

Outil polyvalent et performant :Diffractomètre à rayons X TD-3500

LeTD-3500est un diffractomètre à poudre haute performance et polyvalent, réputé pour sa stabilité et sa précision exceptionnelles, ce qui en fait un choix idéal pour les universités, les instituts de recherche et le contrôle qualité industriel.

Précision inégalée :

 Son système goniométrique, construit avec des roulements de haute précision importés et un servomoteur en boucle fermée, atteint un angle de pas minimal de 0,0001° et une répétabilité 2θ de ≤0,0005°, garantissant les données précises requises pour une analyse fiable.

Robuste et fiable :

Le système utilise un automate programmable Siemens (PLC) importé pour la commande de mouvement, offrant une stabilité supérieure et des taux de panne inférieurs aux conceptions traditionnelles, garantissant un fonctionnement sans problème à long terme.

Large gamme d'applications :

La conception du goniomètre vertical échantillon-horizontal (θ-θ) facilite l'analyse de divers types d'échantillons, y compris les liquides, les pâtes, les poudres et les solides en vrac, avec un risque minimal de contamination des composants principaux de l'instrument.

Solution de recherche de pointe :Diffractomètre à rayons X haute résolution TD-3700

Conçu pour la recherche avancée et la caractérisation de pointe, le TD-3700 offre des performances supérieures pour les applications les plus exigeantes.

Acquisition de données à haute vitesse :

Il est doté d'un détecteur matriciel unidimensionnel standard haute performance, qui peut accélérer la collecte de données de plusieurs dizaines à plusieurs centaines de fois par rapport aux détecteurs ponctuels conventionnels, augmentant considérablement la productivité de la recherche.

Modes de double mesure :

 Au-delà de la géométrie de réflexion standard, le TD-3700Elle prend en charge exclusivement l'analyse en mode transmission. Ce mode offre une résolution plus élevée pour les études de structure cristalline et ne nécessite que de très faibles quantités d'échantillon.

Capacités avancées :

La plateforme est conçue pour une intégration transparente avec divers accessoires tels que les détecteurs SDD, les platines in situ (par exemple, pour la recherche sur les batteries ou les études à haute température) et les changeurs d'échantillons automatiques, permettant tout, du criblage à haut débit aux expériences in situ dynamiques.

Spécialiste compact : LeDiffractomètre à rayons X de table TDM-20

LeTDM-20répond au besoin de commodité et d'efficacité dans les environnements industriels, les laboratoires d'enseignement ou les installations à espace limité, sans compromettre les capacités d'analyse.

Intégré et performant : cet instrument de paillasse compact intègre le tube à rayons X, le générateur, le goniomètre et le détecteur. Avec une puissance maximale de 1 200 W et une large plage angulaire 2θ de -3° à 150°, il permet des analyses qualitatives, quantitatives et granulométriques de haute qualité.

Intelligent et stable : Il utilise également une technologie de contrôle PLC avancée pour un fonctionnement intelligent et des performances fiables, offrant une solution analytique complète et compacte.

De la polyvalenceTD-3500et les avancées TD-3700tau pacte TDM-20,Dandong Tongda Technology Co., Ltd.Nous proposons une gamme complète de produits répondant à des besoins variés, de l'éducation et des analyses de routine à la recherche de pointe et aux applications industrielles. Chaque instrument témoigne de notre maîtrise des technologies clés et de notre engagement envers l'excellence en ingénierie. Nous fournissons non seulement des instruments de précision, mais aussi des solutions complètes, offrant des données précises et des analyses approfondies pour soutenir l'innovation et le progrès en science des matériaux à l'échelle mondiale.