Diffraction des rayons X conventionnelle sur polymère

Les rayons X conventionnels sont souvent utilisés pour caractériser la cristallinité des polymères ou les informations sur l’égalité des matériaux. Lecristallinitédu polymère est un paramètre structurel étroitement lié à ses propriétés physiques. Parfois, il est possible de déterminer la cause d’une rigidité insuffisante, de fissures, de blancheur et d’autres défauts en évaluant la cristallinité. La méthode de mesure de la cristallinité parDiffraction des rayons Xet l'ajustement du spectre complet est décrit et quelques exemples sont donnés.

                        Rapport entre la surface du pic de diffraction cristalline et la surface totale du signal diffusé

Le modèle XRD du PP-PP et les résultats du calcul de la cristallinité en séparant les pics cristallins et amorphes par la méthode d'ajustement du spectre complet

Polymère 2D/Diffraction des rayons X

Pour les matériaux polymères, ils sont ajoutés sous forme de fibres, de feuilles ou d'autres formes. La différence dans la méthode de traitement ou la technologie de traitement entraînera une grande différence dans son état de cristallisation et son orientation. Le test conventionnel de diffraction des rayons X ne permet pas de caractériser toutes les caractéristiques structurelles. Le mode de transmission du détecteur 2D (XRD) fournit des informations structurelles intuitives et complètes sur les matériaux polymères. Dans ce qui suit, des échantillons PP de différents états ont été testés par méthode bidimensionnelle.Diffractomètre à rayons X, qui a pleinement démontré les avantages de la diffraction bidimensionnelle dans l'analyse des polymères.

Carte radiographique bidimensionnelle d'un échantillon de PP PP1#- état amorphe PP2#- état semi-cristallin non orienté

Analyse d'orientation

Les pics (040) des échantillons PP3# n'existent que dans deux directions sur la carte bidimensionnelle. En intégrant le pic (040) de l'échantillon avec 2thêta, le diagramme d'azimut de l'intensité du pic (040) peut être obtenu et l'orientation peut être calculée en outre en utilisant la demi-hauteur et la largeur du pic du diagramme d'azimut.