Diffraction des rayons Xest une technique fondamentale pour étudier la structure solide, fournissant des informations spectrales uniques sur la composition chimique et la disposition structurelle des échantillons. Selon la loi de Bragg, l'angle entre un rayon X individuel émis par unTube à rayons Xet son faisceau diffracté, ainsi que l'intensité du faisceau diffracté, sont mesurés pour obtenir des données pertinentes.

La diffraction est un phénomène optique dans lequel un faisceau lumineux se propage lorsqu'il rencontre le bord d'un matériau ou traverse une ouverture. Au niveau atomique,diffractionse produit lorsque les électrons en orbite autour du noyau diffusent la lumière de manière cohérente en fonction de leur nombre. Dans les matériaux cristallins et polycristallins, la disposition périodique des atomes entraîne des interférences avec la lumière de courte longueur d'onde, entraînant des diagrammes de diffraction.

Dansdiffractomètre à rayons X à poudre, la géométrie Bragg-Brentano est l'une des configurations les plus couramment utilisées, qui repose sur plusieurs composants mobiles pour détecter les rayons X diffusés secondaires générés par l'échantillon afin d'obtenir un diagramme de diffraction complet. Suivant la loi de Bragg, lorsque le primaireradiographieLe faisceau interagit avec l'échantillon, il diffracte et génère un faisceau secondaire qui peut être détecté par le détecteur. Il en résulte un diagramme de diffraction affichant la structure cristallographique caractéristique de l’échantillon.