一、Analyse diversifiée de diffraction des rayons X de haute qualité
Le détecteur conventionnel utilise un canal pour recevoir des données lorsque leradiographiefrappe l'échantillon. Un détecteur matriciel 1D avancé qui reçoit des données sur 640 canaux simultanément. Ainsi, la vitesse de test peut être multipliée par plus de dix.
二、Tournage de précision des instruments
Lors de la mesure de la poudre de silice d'un échantillon standard international, l'écart maximal de tous les pics du spectre complet ne dépasse pas ± 0,01°. La précision de l'angle de diffraction du spectre complet peut garantir une précisionanalyse qualitative et quantitative.
3. Excellente résolution
Lorsque les temps d'échantillonnage sont de 0,1 s et que l'angle de largeur de pas est de 0,01°, le FWHM du pic principal de 28,442° est meilleur que 0,075° et la résolution est inférieure à 85 %. La haute résolution peut résoudre le problème du chevauchement des pics de diffraction. Pour que le contenu complexe de l’échantillon obtienne rapidement leanalyse de phaserésultats.
