GIWAXS est une technique permettant de caractériser la microstructure interne d'échantillons de couches minces. La taille de la structure correspondante est comprise entre 10 nm et 1 um, elle est donc largement utilisée pour caractériser la cristallisation à l’intérieur des cellules solaires à couches minces.
Pour les films de cellules solaires organiques sans réseau fixestructure, GIWAXS se concentre sur la caractérisation de l'orientation et de la proportion des cristaux à l'intérieur des films. Exemple : Figure 3
La technologie GIWAXS caractérise deux autres avantages des cellules solaires à couches minces : on peut ajuster la profondeur de l'échantillon pénétré en contrôlant l'angle du faisceau incident, de manière à atteindre l'objectif de caractérisation en couches. Deuxièmement, GIWAXS convient aux tests in situ de batteries à couches minces et la durée du test est courte.
En résumé, GIWAXS a un large éventail d'applications dans la caractérisation de la morphologie des cellules solaires à couches minces et peut être utilisé pour caractériser in situ le processus de formation de cristaux à l'intérieur du film mince, ainsi que l'orientation des cristaux, la taille du réseau etcristalproportion, fournissant un support technique pour optimiser la structure interne des cellules à couches minces.